美国测试和测量产品目录_生产厂家

美国

分类：光束分析仪配件

厂商：DataRay

保偏光束采样器（PPBS）采用双光楔设计，对光束功率的一小部分进行采样，用于激光束轮廓分析应用。PPBS对来自两个正交楔形窗口的反射进行采样，以安全地降低高强度光的功率，同时保留输入光束的原始偏振并消除来自每个空气-玻璃界面的多次反射的影响。

WinCamD反射式衰减器

美国

分类：光束分析仪配件

厂商：DataRay

Dataray公司的反射衰减器-用于WinCAMD系列的安装薄膜高功率反射衰减器

WinCamD系列UV转换器

美国

分类：光束分析仪配件

厂商：DataRay

用于光源诊断应用的Dataray公司的UV转换器。-UV光束撞击在定制的薄水晶面板上，该面板在可见光中发出荧光。

ZnSe偏振保护光束采样器

美国

分类：光束分析仪配件

厂商：DataRay

保偏光束采样器（PPBS）采用双光楔设计，对光束功率的一小部分进行采样，用于激光束轮廓分析应用。PPBS对来自两个正交楔形窗口的反射进行采样，以安全地降低高强度光的功率，同时保留输入光束的原始偏振并消除来自每个空气-玻璃界面的多次反射的影响。

用于1-200Nm的X射线的光束分析和光束成像

美国

分类：光束分析仪

厂商：Star Tech Instruments

传感器类型: Other 可衡量的来源: CW 波长范围: 1 - 200 nm ADC: Other

在X射线中可视化和测量光束的目标具有新的重要性。Star Tech Instruments开发了新的系统来分析这些光束的功率/能量、均匀性、高分辨率光束轮廓和图像分析。型号µBIP10X是一款真空兼容（1x10-10 Torr）光束轮廓仪和光束成像系统，设计用于1-10 nm的高分辨率。该系统适用于200nm。10倍MAG。1.5 mm的场具有0.6µm的分辨率，并且对非常低的能级敏感。该系统设计用于1.3 X 1.3传感器，但可以针对其他相机格式进行修改。可根据要求提供不同的放大倍率和相机。μBIP系列是STI较新的成像系统，专为使用软X射线而设计-#91；1-2 nm-#93；不应将其用于准分子激光器的较长波长，如193nm或248nm，这将导致严重的内部损伤。较重要的是，该系统设计用于高真空室，使用我们的定制真空法兰组件将光学系统连接到真空室。法兰的额定压力为10-8托。

BladeCam-HR - 基于CMOS的光束分析器

美国

分类：光束分析仪

厂商：DataRay

传感器类型: CMOS 可衡量的来源: CW 波长范围: 190 - 1150 nm # 像素（宽度）: 1280 # 像素（高度）: 1024

Dataray公司的基于CMOS相机的激光束轮廓仪BladeCam系列仅为46x46x11.5 mm，是市场上较小的光束轮廓仪！这些CMOS相机可以处理从190到1605nm的波长（取决于型号）。

BladeCam-XHR - 基于CMOS的光束分析器

美国

分类：光束分析仪

厂商：DataRay

传感器类型: CMOS 可衡量的来源: CW 波长范围: 190 - 1150 nm # 像素（宽度）: 2048 # 像素（高度）: 1536

Dataray公司的基于CMOS相机的激光束轮廓仪BladeCam系列仅为46x46x11.5 mm，是市场上较小的光束轮廓仪！这些CMOS相机可以处理从190到1605 nm的波长（取决于型号）

大型光束剖面系统 - 300毫米

美国

分类：光束分析仪

厂商：DataRay

传感器类型: CMOS 可衡量的来源: CW, Pulsed 波长范围: 355 - 1150 nm # 像素（宽度）: 2048 # 像素（高度）: 2048

大光束仿形系统是一种完整的解决方案，通过用光束照射旋转的漫反射表面，并使用高质量透镜将强度分布重新成像到相机传感器上，从而测量大光束。LBPS剖面仪通过消除散斑的影响、计算精确的像素倍增因子以及校正几何光束失真，克服了该方法的典型问题。大型光束仿形-直径可达200 mm。LBPS与Dataray的全功能、高度可定制、以用户为中心的软件兼容，该软件无许可费、无限制安装和免费软件更新。LBPS中使用的传感器是Dataray的旗舰产品WinCAMD-LCM4光束仿形相机。LBPS扩展了其测量大型波束的能力。

线性激光测绘系统-200毫米

美国

分类：光束分析仪

厂商：DataRay

传感器类型: CMOS 可衡量的来源: CW, Pulsed 波长范围: 190 - 1150 nm # 像素（宽度）: 2048 # 像素（高度）: 2048

线激光剖面测量系统（LLPS）是一套完整的解决方案，用于分析长达200 mm、宽至55µm的线激光。通过使用我们的200 mm线性载物台在光束长度上扫描Dataray的旗舰WinCAMD-LCM4光束轮廓相机，全功能免费软件将显示线激光强度分布的完整图像，以及垂直质心图、线宽图和其他几个有用的测量结果。线激光仿形–长达200毫米线激光仿形系统由Dataray的全功能、高度可定制、以用户为中心的软件支持，该软件无许可费、无限制安装和免费软件更新。软件控制载物台的移动，自动配置线激光扫描的较佳曝光时间，并提供线的分析。

线性激光测绘系统 - 50毫米

美国

分类：光束分析仪

厂商：DataRay

传感器类型: CMOS 可衡量的来源: CW, Pulsed 波长范围: 190 - 1150 nm # 像素（宽度）: 2048 # 像素（高度）: 2048

线激光剖面测量系统（LLPS）是一套完整的解决方案，用于分析长达200 mm、宽至55µm的线激光。通过使用我们的200 mm线性载物台在光束长度上扫描Dataray的旗舰WinCAMD-LCM4光束轮廓相机，全功能免费软件将显示线激光强度分布的完整图像，以及垂直质心图、线宽图和其他几个有用的测量结果。线激光仿形–长达200毫米线激光仿形系统由Dataray的全功能、高度可定制、以用户为中心的软件支持，该软件无许可费、无限制安装和免费软件更新。软件控制载物台的移动，自动配置线激光扫描的较佳曝光时间，并提供线的分析。

STANDA - 11Beamage-3 - CMOS光束测绘相机

美国

分类：光束分析仪

厂商：Altos Photonics, Inc.

传感器类型: CMOS 可衡量的来源: CW, Pulsed 波长范围: 350 - 1150 nm # 像素（宽度）: 2048 # 像素（高度）: 1088

11BEAMAGE系列激光束仿形相机。11BEAMAGE-3 CMOS光束仿形相机是先进款用于激光束仿形的USB 3.0相机。这款基于CMOS的新型相机配备了完全重新设计的软件，具有高度直观的用户界面和强大的数据分析工具。

STANDA - 11Beamage-3-IR - CMOS光束测绘相机

美国

分类：光束分析仪

厂商：Altos Photonics, Inc.

传感器类型: CMOS 可衡量的来源: CW, Pulsed 波长范围: 1495 - 1595 nm # 像素（宽度）: 2048 # 像素（高度）: 1088

11BEAMAGE系列激光束仿形相机。11BEAMAGE-3 CMOS光束仿形相机是先进款用于激光束仿形的USB 3.0相机。这款基于CMOS的新型相机配备了完全重新设计的软件，具有高度直观的用户界面和强大的数据分析工具。

TaperCamD-LCM基于CMOS的光束分析器

美国

分类：光束分析仪

厂商：DataRay

传感器类型: CMOS 可衡量的来源: CW, Pulsed 波长范围: 355 - 1150 nm # 像素（宽度）: 2048 # 像素（高度）: 2048

25 X 25 mm CMOS光束轮廓仪系统，355至1150 nm

WinCamD-IR-BB - VOx Microbolometer MWIR光束分析器

美国

分类：光束分析仪

厂商：DataRay

传感器类型: Microbolometer 可衡量的来源: CW, Pulsed 波长范围: 2000 - 16000 nm # 像素（宽度）: 640 # 像素（高度）: 480

WinCAMD-IR-BB激光光束轮廓仪是一种用于中波红外和远红外范围激光的成像解决方案。WinCAMD-IR-BB光束轮廓仪具有17µm像素、2-16µm波长范围和集成快门，可提供无与伦比的光束轮廓能力。WinCAMD-IR-BB的信噪比超过1000：1，可进行符合ISO11146标准的光束测量。基于微测辐射热计的相机具有非常高的灵敏度，集成的快门允许全自动非均匀性校正。WinCAMD-IR-BB激光束剖面仪由Dataray的全功能、高度可定制、以用户为中心的软件提供支持，该软件无许可费、无限制安装和免费软件更新。该软件支持使用我们的M2DU阶段进行M^2测量。对于更高功率的激光器，Dataray提供了一系列采样、吸收和反射衰减器，用于超过相机较大功率的光束。功率限制。

WinCamD-LCM - 基于CMOS的光束分析器

美国

分类：光束分析仪

厂商：DataRay

传感器类型: CMOS 可衡量的来源: CW, Pulsed 波长范围: 355 - 1150 nm # 像素（宽度）: 2048 # 像素（高度）: 2048

Dataray WinCAMD-LCM CMOS激光束分析仪提供USB 3.0传输速率和高分辨率1英寸。探测器适用于从OEM集成到R&D的各种应用。这款光束轮廓仪可在190至1605 nm范围内使用，在2048×2048有效面积内提供5.5µm像素，更新速率高达60 Hz，并具有光学/TTL（晶体管-晶体管逻辑）触发器。CMOS探测器消除了彗星拖尾，全局快门和触发使能脉冲捕获。USB 3.0接口配有专有的可定制软件。该激光束剖面仪的应用包括CW和脉冲激光剖面仪、激光系统的现场维修、光学组件、仪器校准、光束漂移和记录、质量控制以及使用可用的200 mm平移台进行m²测量。

WinCamD-THz基于CMOS的光束分析器

美国

分类：光束分析仪

厂商：DataRay

传感器类型: CMOS 可衡量的来源: CW, Pulsed 波长范围: 350 - 1150 nm # 像素（宽度）: 2048 # 像素（高度）: 2048

这款来自Dataray Povidesa的激光束轮廓仪是OEM、工业和科学应用中的THz激光束测量解决方案。WinCAM-THz配备了一个完整的用户友好的软件套件，用于激光束轮廓测量。

WinCamD-UHR - 基于CMOS的光束分析器

美国

分类：光束分析仪

厂商：DataRay

传感器类型: CMOS 可衡量的来源: CW 波长范围: 355 - 1605 nm # 像素（宽度）: 1280 # 像素（高度）: 1024

DATARAY公司的基于CMOS的激光束轮廓仪系统该光束轮廓仪可用于从紫外到红外光谱范围的各种激光器。

WinCamD-XHR - 基于CMOS的光束分析器

美国

分类：光束分析仪

厂商：DataRay

传感器类型: CMOS 可衡量的来源: CW 波长范围: 190 - 1350 nm # 像素（宽度）: 2048 # 像素（高度）: 1536

DATARAY公司的基于CMOS的激光束轮廓仪系统该光束轮廓仪可用于从紫外到红外光谱范围的各种激光器。

XRV-100数码相机幻影

美国

分类：光束分析仪

厂商：Logos Systems

传感器类型: CCD 可衡量的来源: CW, Pulsed 波长范围: 0.01 - 10 nm # 像素（宽度）: 1280 # 像素（高度）: 960

XRV系列X射线和质子束检测系统将精密计量与高能辐射检测相结合，形成了基于胶片测量的完全电子替代方案。现在可以以无与伦比的速度和精度测量铅笔般细的辐射束的XYZ位置和矢量。可以在几秒而不是几小时内获得波束矢量、轮廓和发散度。自动化脚本可用于记录射束形状、强度、位置和方向随时间的变化，以便在以后的分析或3D体积重建中使用。XRV系统验证立体定向放射外科子系统（机器人、准直器、直线加速器和kV成像仪）协同工作，以准确地将辐射输送到不规则形状的病变体积。在治疗之前或之后，可以快速验证这些系统中使用的机械叶片准直器的正确操作。光束测量精度为0.2 mm，测量重复性通常为0.02 mm。矢量和波束观察软件可实现捕获数据的实时任意角度观察。所有操作均由随探测器体模提供的笔记本电脑或台式电脑控制。XRV的标准配置是3-30米（较大100英尺）的USB电缆系统，因此系统PC和操作员可以安全地远离治疗室。探测器模型重约8千克（17磅）。

XRV-124检测器幻影

美国

分类：光束分析仪

厂商：Logos Systems

传感器类型: CCD 可衡量的来源: CW, Pulsed 波长范围: 0.01 - 10 nm # 像素（宽度）: 1280 # 像素（高度）: 960

XRV系列X射线和质子束检测系统将精密计量与高能辐射检测相结合，形成了基于胶片测量的完全电子替代方案。现在可以以无与伦比的速度和精度测量铅笔般细的电离辐射束的XYZ位置和矢量。可以在几秒而不是几小时内获得波束矢量、轮廓和发散度。自动化脚本可用于记录射束形状、强度、位置和方向随时间的变化，以便在以后的分析或3D体积重建中使用。XRV系统验证质子和X射线治疗子系统（机器人、准直器、放射源和kV成像仪）是否协同工作，以准确地将辐射输送到不规则形状的病变体积。光束位置测量精确到0.3mm，测量重复性通常为0.04mm。矢量和波束观察软件可实现捕获数据的实时任意角度观察。可以以高达每秒30帧的速率实时捕获多达4，000帧的视频。