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  用于缝合的QED Inteferometer QIS

  美国

  分类：干涉仪

  厂商：QED Technologies Inc

  干涉仪配置: Not Specified 光源: Not Specified 输出极化: Not Specified 有效值重复性: Not Specified 有效值精度: Not Specified

  QIS干涉仪完全由QED技术公司设计、制造和建造。它针对拼接进行了优化，使客户能够测量更多零件，并提高了精度、速度和易用性。QED的QIS集成了硬件和软件功能，旨在增强QED计量产品的性能。专有的QIS相干成像系统允许用户获得更高的条纹密度和更大的对比度。QIS先进的光学设计减少了常见的误差，如回扫和放大误差。此外，QIS提供的更大的焦点行程允许测量比通用干涉仪更短半径的零件。QIS也使用与QED的Q-Flex™MRF™系统相同的软件平台QED.NET进行设计。这使得系统之间的无缝通信成为可能。新的1920 X 1920像素，高分辨率相机可以提高点测量能力。这意味着您可以更准确地表征MRF移除函数，使您能够做出更好的制造工艺决策，并更快、更准确地实现收敛。