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  ElementEye JSX-1000S XRF

  美国

  分类：光谱分析仪

  厂商：JEOL USA Inc

  测量类型: Elemental analysis, Contaminant detection and analysis 最低电平检测: 1 - 1 ppm

  这款台式ED-XRF光谱仪是一款易于使用的高灵敏度元素分析智能解决方案，可分析大多数样品类型（固体、粉末、液体）的主要痕量成分，只需很少或无需样品制备。当需要时，ElementEye可轻松补充SEM、EPMA、NMR和质谱分析。ElementEye能够进行50kV激励，并采用了我们较新的硅漂移探测器（SDD）技术。结合JEOL先进的基本参数（FP）方法，该仪器可在几分钟内提供高灵敏度的定性和定量分析结果。薄膜FP方法可用于涂层样品上薄膜厚度的无损测量。使用较多9种类型的过滤器和样品室真空装置，可在整个能量范围内进行高灵敏度分析。可选的12位自动进样器可通过连续采集加快分析速度。

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  用于EPMA和FE-SEM的软X射线发射光谱仪

  美国

  分类：光谱分析仪

  厂商：JEOL USA Inc

  测量类型: Elemental analysis, Contaminant detection and analysis 最低电平检测: 1 - 10 ppm 决议: 0.3eV

  日本电子（JEOL）开发了一种前所未有的新型波长色散光谱仪（WDS），该光谱仪利用可变空间光栅，允许高效和并行收集极低能量射线（所谓的“软”X射线）。这些新的软X射线发射光谱仪（SXES）不仅拥有高光谱分辨率（0.3eV），使氮Kα和钛L谱线的分辨率仅为1.78eV，而且具有超低能量、低浓度灵敏度，即使在低个位数重量百分比浓度下也能检测Li。另外，也许是它较强大的资产，是它进行化学状态分析的能力。当导带和价带电子发射X射线时，光谱仪可以检测到它们之间的差异，从而区分含有相同元素的样品中的成键和晶体结构。一个例子是区分高度有序的热解石墨、金刚石和无定形碳，它们都只由碳构成。