光电查为您提供1个产品。下载资料，获取报价，实现功能、价格及供应的优化选择。

• 

  LMS200

  美国

  分类：干涉仪

  厂商：Pratt & Whitney Measurement Systems

  类型: Laser Interferometer 测量类型: Thickness, Length 波长: 632.8 nm 应用: Dimension Measurement, Gage Block Measurement

  普惠测量系统公司（Pratt&Whitney Measurement Systems）的LMS200是一种激光干涉仪，通过将测量探头位置与632.8nm红色氦氖激光光源的波长进行比较来测量内部和外部尺寸。该专利激光路径与测量轴一致，消除了阿贝误差。它有一个花岗岩底座，其热膨胀系数比钢小十倍以上，使该干涉仪成为高度稳定的测量源。该干涉仪的精度为0.05+0.5Lµm，重复性为0.04µm.它的测量范围高达200 mm，直接读数范围为200 mm.LMS200干涉仪有一个碳化钨平板（1/10波）测量探头，带有Ø0.25金刚石尖端。探头是电动和远程控制的，以提高系统稳定性并消除操作员的影响。它可以测量最大尺寸为293 X 203 mm的样品，并具有14克的探针接触力。该干涉仪具有两步校准功能，这是一种先进的省时功能，允许使用两个实验室级别的可追踪量块进行校准，从开始到结束仅需30秒。它可以在直接读取或比较器模式下工作，并具有可编程自动循环功能，支持用户定义的恒定吞吐速率。该干涉仪根据命令存储所有测量结果的总和，并可显示统计数据，指示计算的平均值和一个标准偏差。LMS200需要110/120至220/240 V的交流电源，并消耗1-2 A的电流。它采用尺寸为56 X 41 X 79 cm的封装，非常适合测量球/球体、磁带/磁盘基板、光学元件、聚乙烯薄膜、量块/滑规、涂层厚度标准、塞规和销规、丝线、薄膜厚度、量块堆叠、网格厚度、纺织品和精密零件。