光电查为您提供6个产品。下载资料，获取报价，实现功能、价格及供应的优化选择。

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  LLA 基于延时自外差干涉技术的激光线宽分析仪

  美国

  分类：其他分类测量仪器

  厂商：Optilab

  激光波长: Customizable 光输入功率: ≥ 7 dBm 光纤延迟: 10 - 100 μs, customizable 线宽测试范围: 2 kHz – 100 MHz (see ordering option) 移频频率: 650 MHz

  Optilab的LLA是一款基于延时自外差干涉技术的激光线宽分析仪。它包括高性能的LiNbO3相位调制器，用作延时自外差干涉仪中的频率移动器。LLA还包括高增益光电接收器和射频放大器，以及用于精确便捷测量的高分辨率频谱分析仪。LLA的高灵敏度使其能够测量和分析具有几kHz内在线宽的激光器。直观易用的GUI可以提供线形图和洛伦兹拟合。

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  TWL-P-MM 手持光子多功能表

  美国

  分类：其他分类测量仪器

  厂商：Optilab

  激光波长检测: C-band: 1528-1565nm, L-band: 1568-1608nm 波长精度: ±1.5 GHz 微调波长分辨率: 0.08 pm (over any band) 波长稳定性: ±1 pm over 24 hours 输出功率水平: 45 mW (+16.5 dBm) max.

  Optilab的TWL-P-MM是一个基于Phoenix平台的手持光子多功能表。它具有7英寸触摸显示屏和大容量电池，提供了一个便捷的解决方案，用于监控实验室和现场设置中的光子条件。用户在订购时可以选择三种集成光源中的一种：全C波段或L波段的可调谐激光器，或有限调谐范围的CWDM DFB激光器。这款多功能表不仅可以检测平均输入光功率，还可以分析高达100 kHz的光波形。此外，它还带有电子信号发生器，用于快速的O/E转换测试。包括FFT分析。

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  PTS-XXX 高频PD射频响应测试系统

  美国

  分类：其他分类测量仪器

  厂商：Optilab

  电光PD波长: 1530nm-1667nm 射频动态范围: -70dBm-+40dBm 采样率: 100Msamples/S 显示分辨率: 1.0, 0.1, 0.01, 0.001dB in logarithmic mode or 1 to 4 significant digits in linear mode 视频带宽: 5MHz (Typical)

  PTS光电探测器响应测试系统利用微波光子技术，自动测量高速光电探测器。PTS快速且完全自动化，可在指定频段内测量高速光电探测器的射频光电响应（S21）。系统集成了低噪声、平坦光谱、可扫描的调制光源（高达5THz）和高精度射频功率探测器（高达120GHz），以测量光电探测器的射频光电响应（S21）。系统操作简单、快速、精准，通过笔记本电脑的简易图形用户界面进行。

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  LCA-65 高性能光波组件分析仪

  美国

  分类：其他分类测量仪器

  厂商：Optilab

  内部激光波长: 1550 nm (customizable) 内部激光输出功率: Up to 50 mW(adjustable) 内部激光线宽: ≤ 1 MHz (customizable) 内部激光SMSR: ≥ 40 dB 内部激光RIN: ≤ -150 dB/Hz

  高性能光波组件分析仪，具备超过65 GHz的操作带宽，适用于电光组件的特性分析，并与Keysight/Agilent网络分析仪高度兼容，广泛应用于电光/光电测量、研究和开发等领域。

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  PMM-P 手持式光子多用表

  美国

  分类：其他分类测量仪器

  厂商：Optilab

  波长检测: 1260nm到1620nm 输入功率范围: -20到+25dBm 频率范围: DC到100kHz 刷新率: 1秒 光纤类型: SMF-28

  PMM-P是一款基于Sedona平台的手持式光子多用表，配备了7英寸触摸显示屏和大容量电池，便于在实验室和现场监测光子条件。该多用表不仅可以检测平均输入光功率，还能分析高达100 kHz的光波形。此外，它还带有电信号发生器，用于快速的光电转换测试，并包括FFT分析。

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  MTS-16 高精度的光调制器测试设备

  美国

  分类：其他分类测量仪器

  厂商：Optilab

  调制器类型: 相位调制器 & 强度调制器 操作通道: 16 (MAX) 激光波长: 780nm-850nm, 1030nm-1080nm, 1530nm-1625nm 输出功率: 13dBm (Max, to Modulator) 室温: -10°C – +70°C

  MTS-16调制器测试站利用反馈回路控制配置，用于自动测量光调制器在温度变化下的偏置稳定性、光传输、插入损耗和直流Vπ。该测试站可以同时测量多达16个调制器，适用于多种光调制器的偏置稳定性、光传输和插入损耗的测量。