光电查为您提供3个产品。下载资料，获取报价，实现功能、价格及供应的优化选择。

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  FISCHERSCOPE X-RAY XAN光谱仪

  美国

  分类：光谱分析仪

  厂商：Fischer Technology Inc

  测量类型: Contaminant detection and analysis, Chemical identification, Other 最低电平检测: 1 - 1 ppm

  与XUL系列一样，XRF光谱仪Fischerscope®X-Ray XAN®非常适合分析形状简单的样品。然而，XanSeries的一大优势在于其高质量的半导体探测器。X射线荧光（XRF）不仅可以测量涂层的厚度，还可以分析合金的成分（例如，G。铜）。XanSeries总共包括5台台式XRF光谱仪，涵盖了广泛的应用。XAN215具有高性价比的PIN检测器。它非常适合简单的涂层厚度任务，例如铁或Au/Ni/Cu上的锌。对于使用合金或贵金属的更复杂的应用，我们建议使用我们的带有硅漂移探测器的XRF设备（例如Xan220）：由于其分辨率高得多，它可以可靠地区分金和铂。当您需要检测微量重金属和其他有害物质时，Xan250是您的解决方案。

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  FISCHERSCOPE X-RAY XUL和XULM光谱仪

  美国

  分类：光谱分析仪

  厂商：Fischer Technology Inc

  测量类型: Contaminant detection and analysis, Chemical identification, Other 最低电平检测: 1 - 1 ppm

  FISCHERSCOPE®X光XUL®系列是每个电镀车间真正的基础设备。这些简单且经济实惠的能量色散X射线荧光XRF分析仪非常适合监测镀液成分，但在质量控制方面，它们也是不可或缺的帮手：坚固耐用，非常适合测量螺母和螺栓等批量生产零件上的电镀层。XUL/XULM系列中的所有XRF光谱仪操作简单直观。较大的样品可以用手简单地放置在测量室中；或者，对于较小的项目，如插头，仪器可以配备手动样品台。虽然测量设备很紧凑，但它们为您的试件提供了足够的空间-高达17厘米。如果您有几个不同的测量任务，FischerScope X射线XULM具有可更换的过滤器和准直器，因此您可以为所有应用创建较佳的测量条件。此外，XULM具有内置的微聚焦管，即使测量点很小，测量层很薄，也能提供精确的结果。

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  GOLDSCOPE SD 520光谱仪

  美国

  分类：光谱分析仪

  厂商：Fischer Technology Inc

  测量类型: Contaminant detection and analysis, Chemical identification, Other 最低电平检测: 1 - 1 ppm 决议: 25000eV

  并不是所有闪光的东西都是金子——更不用说纯金了！如果您想知道它到底含有多少黄金，您可以依靠我们的X射线荧光（XRF）测量仪器：使用Goldscope SD®，您可以快速检查珠宝的真实性，并以非破坏性的方式分析黄金和贵金属的成分。不同Goldscope SD型号的功能可以帮助您在珠宝店、当铺或测试实验室进行较佳的日常工作。这个过程是干净的，不需要任何化学品。与所有Fischer X射线荧光XRF光谱仪一样，Goldscope SD具有您所期望的出色精度。XRF设备的处理是根据贵金属和珠宝行业的需求量身定制的。分析黄金和贵金属的较重要的测量任务已经在操作软件WinFTM中进行了预编程。您只需将样品放在测量窗口上，然后按“开始”即可。这使得珠宝和硬币的估价变得非常简单。