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  • 美国
  • Ramco Innovations Inc
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  • CDX-L15A超高精度激光位移传感器 位移测量计
    美国
    分类:位移测量计
    测量范围: 110 - 190 mm 测量分辨率: 0.25%

    利用传统的图像传感器,对快门的反馈控制不能跟上由工件颜色的变化引起的接收光级的突然变化,将导致瞬间不能执行测量,从而导致响应延迟。借助新开发的ATMOS图像传感器,可以在无需反馈控制的情况下进行测量,这得益于业界首创的算法。由于消除了瞬时无法执行测量和响应延迟,现在可以进行实时测量。