美国测试和测量产品目录_生产厂家

3DScope-V2干涉仪

美国

分类：干涉仪

厂商：Connected Fibers

干涉仪配置: Not Specified 光源: 632 nm or 633nm 输出极化: Not Specified 有效值重复性: Not Specified 有效值精度: Not Specified

3D-Scope V2是Data-Pixel发布的较新干涉仪，用于生产环境。它的设计考虑了速度、精度、简单性、鲁棒性和成本，除了自动化和控制命令外，还通过USB2.0高速链路将非压缩、实时和高质量的图像从硬件传输到软件。3Dscope V2是便携式的，仅通过一个USB链接（包括电源）即可连接到笔记本电脑或台式电脑。所有校准步骤都是自动化的，并嵌入到用户友好的软件界面中，以产生无误差和可靠的测量结果。

AccuFiz紧凑型菲佐尔激光干涉仪

美国

分类：干涉仪

厂商：4D Technology

干涉仪配置: Twyman–Green Interferometer 光源: 632 nm or 633nm, 355nm, 532nm, 1053nm, 1064nm, 1550nm, 10.6um 输出极化: Circular 有效值重复性: <0.00005 waves 有效值精度: <0.0005 waves

Accufiz Fizeau干涉仪提供无与伦比的性能、质量和价值组合，用于精确、可重复测量表面形状和透射波前质量。Accufiz激光干涉仪非常容易在有限的实验室空间中使用。紧凑、轻便的设计具有极高的刚性，可在任何方向或环境中实现较大的稳定性。波长范围为355 nm至1.064µm，孔径范围为33至800 mm，采用水平和垂直安装配置，为各种应用和预算提供了合适的选择。可选的600万像素高分辨率相机可捕捉任何商用干涉仪的较高斜率。测量非球面、自由曲面光学元件和高度像差元件。可选的表面隔离源（SIS）增加了测量平面平行光学器件的能力，无需涂层或背面处理以消除不必要的反射。在薄至300µm的光学器件上量化形状光学厚度、透射波前误差和均匀性。

空气间隔 Etalons

美国

分类：干涉仪

厂商：TecOptics, Inc.

干涉仪配置: Not Specified 光源: Not Specified 输出极化: Not Specified 有效值重复性: Not Specified 有效值精度: <0.01 waves

空气间隔标准具具有适当等级的熔融石英（UV-可见或IR）基底。衬底上的面外AR涂层和楔形物防止形成无关的干涉图案。与基底光学接触的垫片决定了镜面的平行度和标准具的自由光谱范围。根据应用，间隔物可以是熔融石英或低热膨胀材料，例如ZeroDur或Ule。

AZP 200 HP自动准直测试和阻断装置

美国

分类：干涉仪

厂商：OptoTech Optical Machinery Inc

干涉仪配置: Not Specified 光源: Not Specified 输出极化: Not Specified 有效值重复性: Not Specified 有效值精度: Not Specified

AZP 200 HP是一款适用于许多光学生产领域的较佳多功能固井装置。由于各种安装和选项，AZP 200 HP可以完美地适应所有特殊的固井和定心任务。

DAISI-MT干涉仪

美国

分类：干涉仪

厂商：Connected Fibers

干涉仪配置: Not Specified 光源: 632 nm or 633nm 输出极化: Not Specified 有效值重复性: Not Specified 有效值精度: Not Specified

基于使DAISI获得成功的设计和理念，DAISI-MT包括白色和Redight光源，可在同一系统上测量多光纤套圈和单光纤连接器的端面几何形状。其革命性的设计使其非常适合在生产环境和现场应用中使用。除了自动化和控制命令外，实时和高质量的图像通过USB2.0高速链路以高达每秒100张图像的速度从硬件传输到软件。DAISI-MT是便携式的，可以连接到笔记本电脑或台式电脑。所有校准步骤都是自动化的，并嵌入到用户友好的软件界面中，以产生无误差和可靠的测量。白光干涉仪的机械和电子设计比红光（单色）干涉仪的设计更具挑战性。整个光学系统必须以纳米级的精度和完美的线性方式在许多微米范围内平移。DAISI-MT系统做到了这一点：基于一个30微米行程的闭环压电传感器，在不到10秒的时间内对表面进行快速精确的扫描。

DAISI V2干涉仪

美国

分类：干涉仪

厂商：Connected Fibers

干涉仪配置: Not Specified 光源: 632 nm or 633nm 有效值重复性: Not Specified 有效值精度: Not Specified

用于测量单光纤和MT-RJ连接器端面几何形状的较终生产干涉仪，配备了革命性的无外部移动部件机械设计。DAISI V2的设计考虑了多年的行业反馈，以满足生产环境中较苛刻的使用要求。除自动化和控制命令外，非压缩、实时和高质量图像通过USB2.0高速链路从硬件传输到软件。DAISI是便携式的，可以连接到笔记本电脑或台式电脑。所有校准步骤都是自动化的，并嵌入到用户友好的软件界面中，以产生无误差和可靠的测量结果。

FDVI Mark IV 3000

美国

分类：干涉仪

厂商：Martin Froeschner & Associates

干涉仪配置: Not Specified 光源: White Light 输出极化: Not Specified 有效值重复性: <0.01 waves 有效值精度: <0.01 waves

新的M，F&A Mark IV全光纤多普勒速度干涉仪系统在测量和记录瞬时速度与时间历程方面提供了增强的能力。两个版本的Mark IV系统现已投入使用。较初的Mark IV系统已在世界各地使用，并在目标表面具有合理反射的情况下提供了出色的结果。在较新版本的Mark IV中，我们升级到了新的超窄线宽激光器，以提高速度分辨率。这些系统还采用了较新的发展，如新的镍金属氢化物电源和充电系统。新的前面板布置包括一个“平衡”旋钮，可轻松均衡“正弦”和“余弦”信号幅度，以及一个数字电池电压监测器。新系统内置在1U机架安装机箱中，如果需要，可以在以后通过添加EDFA轻松升级到Mark IV-3000。Mark IV-3000采用基于相同超窄线宽种子激光器的全新系统架构，但该版本集成了+30 dB的EDFA将来自边缘目标表面的相对较弱的回光提升到在检测端给出高信噪比的水平。反射回光的这种提升相当于在目标上施加3000mW的激光功率。

硬盘I-TEST平面度测试装置

美国

分类：干涉仪

厂商：Kiyohara Optics USA

干涉仪配置: Not Specified 光源: Not Specified 输出极化: Not Specified 有效值重复性: Not Specified 有效值精度: Not Specified

I-Test硬盘平面度测试装置

球面光学干涉仪 OWI桌面60毫米

美国

分类：干涉仪

厂商：OptoTech Optical Machinery Inc

干涉仪配置: Not Specified 光源: Not Specified 输出极化: Not Specified 有效值重复性: Not Specified 有效值精度: Not Specified

紧凑型车间干涉仪OWI Desktop 60 mm是内窥镜检查和微型生产的理想测量机器。

干涉仪VI-direct 10

美国

分类：干涉仪

厂商：Vermont Photonics

干涉仪配置: Fizeau Interferometer 光源: Not Specified 输出极化: Not Specified 有效值重复性: Not Specified 有效值精度: Not Specified

干涉仪是光学生产和质量控制中不可缺少的测量工具。它们用于各种各样的应用。例如，光学表面的平面度和球度检测、半径测量以及光学系统的波前检测。VI系列干涉仪有两种版本：干涉仪VI-Vario和干涉仪VI-Direct。两个版本的不同之处在于仪器中使用的相机类型。干涉仪VI-Vario包含一个模拟摄像机，可连接电视监视器。干涉仪Vi-Direct配有基于USB的数码相机。与模拟摄像机相比，该摄像机具有更高的横向分辨率。它允许干涉图像的三倍数字缩放，因此可以测试较小的部件。另一个优点是降低了对外部干扰（例如振动）的敏感性。

干涉仪VI-direct SL 10

美国

分类：干涉仪

厂商：Vermont Photonics

干涉仪配置: Fizeau Interferometer 光源: Not Specified 有效值重复性: Not Specified 有效值精度: Not Specified

干涉仪是光学生产和质量控制中不可缺少的测量工具。它们用于各种各样的应用。例如，光学表面的平面度和球度检测、半径测量以及光学系统的波前检测。VI系列干涉仪有两种版本：干涉仪VI-Vario和干涉仪VI-Direct。两个版本的不同之处在于仪器中使用的相机类型。干涉仪VI-Vario包含一个模拟摄像机，可连接电视监视器。干涉仪Vi-Direct配有基于USB的数码相机。与模拟摄像机相比，该摄像机具有更高的横向分辨率。它允许干涉图像的三倍数字缩放，因此可以测试较小的零件。另一个优点是降低了对外部干扰（例如振动）的敏感性。

干涉仪VI-vario 10

美国

分类：干涉仪

厂商：Vermont Photonics

干涉仪配置: Fizeau Interferometer 光源: Not Specified 输出极化: Not Specified 有效值重复性: Not Specified 有效值精度: Not Specified

干涉仪是光学生产和质量控制中不可缺少的测量工具。它们用于各种各样的应用。例如，光学表面的平面度和球度检测、半径测量以及光学系统的波前检测。VI系列干涉仪有两种版本：干涉仪VI-Vario和干涉仪VI-Direct。两个版本的不同之处在于仪器中使用的相机类型。干涉仪VI-Vario包含一个模拟摄像机，可连接电视监视器。干涉仪Vi-Direct配有基于USB的数码相机。与模拟摄像机相比，该摄像机具有更高的横向分辨率。它允许干涉图像的三倍数字缩放，因此可以测试较小的零件。另一个优点是降低了对外部干扰（例如振动）的敏感性。

M-WAVE 339 MWIR干涉仪

美国

分类：干涉仪

厂商：M3 Measurement Solutions

干涉仪配置: Not Specified 光源: Not Specified 输出极化: Linear 有效值重复性: <0.001 waves 有效值精度: <0.01 waves

M-Wave 339红外干涉仪是较先进的LUPI（激光不等路径干涉仪），工作在3.39微米。是检测中波红外成像器件/系统和光学材料均匀性的理想仪器。

马赫-泽恩德干涉仪

美国

分类：干涉仪

厂商：Kiyohara Optics USA

干涉仪配置: Not Specified 光源: Not Specified 输出极化: Not Specified 有效值重复性: Not Specified 有效值精度: <0.01 waves

马赫-曾德干涉仪

微塔龙

美国

分类：干涉仪

厂商：TecOptics, Inc.

干涉仪配置: Not Specified 光源: 632 nm or 633nm, 355nm, 532nm, 780nm, 1053nm, 1064nm, 1550nm, 10.6um, 543nm, 594nm 输出极化: Not Specified 有效值重复性: Not Specified 有效值精度: <0.01 waves

光纤通信要求光学元件极度小型化。针对DWDM（密集波分复用）、线路窄化和信道监控等应用，TecOptics推出了新的微标准具系列。新开发的制造技术使TecOptics能够以低廉的价格提供大量这些微型空气间隔和固体标准具。空气间隔版本具有小至4.5mm X 2mm X 3mm的尺寸，而固体微标准具横截面可以小至2mm。精细度值可以大于100。

微型相移激光干涉仪

美国

分类：干涉仪

厂商：Kiyohara Optics USA

干涉仪配置: Not Specified 光源: 780nm 输出极化: Not Specified 有效值重复性: Not Specified 有效值精度: Not Specified

微型移相激光干涉仪

NSLI-543-1 N-Slit激光干涉仪

美国

分类：干涉仪

厂商：Interferometric Optics

干涉仪配置: Not Specified 光源: 543nm 输出极化: Not Specified 有效值重复性: Not Specified 有效值精度: Not Specified

通常，基于多棱镜扩束和数字检测，狭缝干涉仪允许透射光学表面的快速干涉测量表征。与传统的逐点非相干显微密度计和逐点非相干显微镜相比，这是一个显著的进步。

NSLI-543-2 N-Slit激光干涉仪

美国

分类：干涉仪

厂商：Interferometric Optics

干涉仪配置: Not Specified 光源: 543nm 输出极化: Not Specified 有效值重复性: Not Specified 有效值精度: Not Specified

通常，基于多棱镜扩束和数字检测，狭缝干涉仪允许透射光学表面的快速干涉测量表征。与传统的逐点非相干显微密度计和逐点非相干显微镜相比，这是一个显著的进步。

NSLI-594-1 N-Slit激光干涉仪

美国

分类：干涉仪

厂商：Interferometric Optics

干涉仪配置: Not Specified 光源: 594nm 输出极化: Not Specified 有效值精度: Not Specified

通常，基于多棱镜扩束和数字检测，狭缝干涉仪允许透射光学表面的快速干涉测量表征。与传统的逐点非相干显微密度计和逐点非相干显微镜相比，这是一个显著的进步。

NSLI-594-2 N-Slit激光干涉仪

美国

分类：干涉仪

厂商：Interferometric Optics

干涉仪配置: Not Specified 光源: 594nm 输出极化: Not Specified 有效值重复性: Not Specified 有效值精度: Not Specified

通常，基于多棱镜扩束和数字检测，狭缝干涉仪允许透射光学表面的快速干涉测量表征。与传统的逐点非相干显微密度计和逐点非相干显微镜相比，这是一个显著的进步。