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用于EPMA和FE-SEM的软X射线发射光谱仪 光谱分析仪

用于EPMA和FE-SEM的软X射线发射光谱仪

分类: 光谱分析仪

厂家: JEOL USA Inc

产地: 美国

更新时间: 2024-08-30 11:10:05

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概述

日本电子(JEOL)开发了一种前所未有的新型波长色散光谱仪(WDS),该光谱仪利用可变空间光栅,允许高效和并行收集极低能量射线(所谓的“软”X射线)。这些新的软X射线发射光谱仪(SXES)不仅拥有高光谱分辨率(0.3eV),使氮Kα和钛L谱线的分辨率仅为1.78eV,而且具有超低能量、低浓度灵敏度,即使在低个位数重量百分比浓度下也能检测Li。另外,也许是它较强大的资产,是它进行化学状态分析的能力。当导带和价带电子发射X射线时,光谱仪可以检测到它们之间的差异,从而区分含有相同元素的样品中的成键和晶体结构。一个例子是区分高度有序的热解石墨、金刚石和无定形碳,它们都只由碳构成。

参数

  • 测量类型 / Measurement Type : Elemental analysis, Contaminant detection and analysis
  • 最低电平检测 / Lowest Level Detection (LLD) Range : 1 - 10 ppm
  • 决议 / Resolution : 0.3eV

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厂家介绍

自1949年以来,JEOL legacy一直是开发用于推进科学研究和技术的仪器的杰出创新之一。JEOL在电子显微镜领域拥有70年的专业知识,在质谱和核磁共振光谱领域拥有60多年的经验,在电子束光刻技术领域拥有50多年的领先地位。 JEOL USA,Inc.是日本JEOL有限公司的全资子公司,1962年在美国注册成立。JEOL USA的主要业务是销售新仪器和外围设备,并支持遍布美国、加拿大、墨西哥和南美洲的大量仪器安装基地。

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