来自渥太华大学和马克斯-普朗克光科学研究所的科学家们提出了一种突破性的方法,通过结合太赫兹(THz)光谱学和实时监测来促进材料科学的发现。
Axios FAST
概述
参数
- 测量类型 / Measurement Type : Thin film metrology, Elemental analysis, Contaminant detection and analysis, Chemical identification
- 最低电平检测 / Lowest Level Detection (LLD) Range : 0.1 - 100 ppm
- 决议 / Resolution : 35eV
规格书
厂家介绍
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2830 ZT 高级半导体薄膜计量解决方案
光谱分析仪
ASD Inc Div of Malvern Panalytical Inc
测量类型: Thin film metrology, Elemental analysis, Contaminant detection and analysis, Chemical identification 最低电平检测: 0.1 - 1000000 ppm 决议: 35eV
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