美国测试和测量产品目录_生产厂家

XRV-2000猎鹰摄影幻影机

美国

分类：光束分析仪

厂商：Logos Systems

传感器类型: CCD 可衡量的来源: CW, Pulsed 波长范围: 0.01 - 10 nm # 像素（宽度）: 1280 # 像素（高度）: 960

XRV-2000 Falcon光束剖面仪将高能辐射探测与精密二维计量相结合，形成了基于胶片测量的完全电子替代方案。XRV-2000 Falcon以无与伦比的速度和精度测量辐射束的XY位置和轮廓。尺寸高达19×19cm的单束和质子能量层图案可以从垂直和水平方向指向闪烁体表面以进行测量。自动化脚本可用于捕捉光束形状、强度和位置随时间的变化。XRV系统校准质子和放射外科系统或工业辐射源，这些辐射源必须向3D空间中的目标区域提供精确的辐射量。在这些系统中使用的笔形束扫描或机械叶片准直器的正确操作可以被快速验证。光束FWHM直径测量精确到±0.1mm，质心位置精确到±0.2mm。光束观察软件能够实时从任何角度观察捕获的轮廓数据，并进行实时半影和对称式测量。捕获的图像可以导出到ImageJ或其他图像分析软件。所有操作均由随相机幻影提供的笔记本电脑或台式电脑控制。XRV配有一根30米（100英尺）的USB3光纤供电延长电缆，以便系统PC和操作员可以安全地远离辐射源。数码相机Phantom重约3.5千克（7.7磅），存放在作为系统一部分提供的Pelican箱子中。

WinCamD-QD SWIR/eSWIR量子点光束分析仪

美国

分类：光束分析仪

厂商：DataRay

波长范围: 350-2000nm 像素尺寸: 15µm 分辨率: Up to 1920x1080 动态范围: >2100:1 (33dB opt./66dB elec.) 模数转换器位数: 14-bit

WinCamD-QD系列使用胶体量子点传感器，为可见光、SWIR和eSWIR光源提供高质量的光束分析。该系列具有15微米像素，350-2000纳米的宽波长范围以及全局快门，提供无与伦比的光束分析能力。

WinCamD-IR-BB 2 - 16µm波长范围内的激光束轮廓成像

美国

分类：光束分析仪

厂商：DataRay

波长范围: 2 - 16µm 像元尺寸: 640 x 480, 17µm 有效区域: 10.8 x 8.2mm 低辐照能力: ~75µW/cm2 at peak-to-peak noise 帧率: 30fps (7.5fps for export)

WinCamD-IR-BB是一款用于MWIR和FIR波段激光的成像解决方案，提供2 - 16µm波长范围内的激光束轮廓成像，具备高信噪比和全自动非均匀性校正功能，具备优异的光束轮廓成像能力。适用于MWIR和FIR波段激光测量。

TaperCamD-LCM 高分辨率CMOS激光束轮廓仪

美国

分类：光束分析仪

厂商：DataRay

波长范围: 355-1150nm 像素数: 4.2MPixel, 2048x2048 pixels 有效区域: 25x25mm 像元尺寸: 12.5μm (effective) 信噪比: 2,500:1

TaperCamD-LCM是一款具有25 x 25 mm大活动区域、4.2百万像素、12.5 x 12.5 μm（有效）像素、光学和电子触发全局快门的大面积CMOS激光束轮廓仪，具备2500:1的信噪比，是市面上USB端口供电的激光束轮廓测量设备中活动传感器面积最大的。通过高信噪比和全局快门的WinCamD-LCM与高品质光纤锥面的结合，TaperCamD-LCM提供了一个非常紧凑、易于使用的解决方案，适用于测量各种大功率连续波或脉冲激光。

BeamMap2 实时光束轮廓测量

美国

分类：光束分析仪

厂商：DataRay

波长选项: 190-1150nm, 650-1800nm, 190-1800nm, 190-2500nm 扫描光束直径: 2µm to 4mm (2mm for IGA-X.X) X-Y轮廓和质心: Yes 分辨率: 0.1µm or 0.05% of scan range 准确性: ±<2% or ≤0.5µm

BeamMap2是一种用于实时光束轮廓测量的扫描狭缝系统，它采用旋转的'puck'上的多个XY狭缝对，在多个z平面上同时测量四个不同z位置的四个光束轮廓。BeamMap2的独特、专利设计特别适用于实时测量焦点位置、M2、光束发散和指向。适用于激光束对准、M2测量和光束发散诊断等多种应用场景。

356型光刻机紫外线强度和能量计，带9点记忆

美国

分类：激光能量计

厂商：OAI

最大可测量能量: 9999mJ 光谱范围: 356 - 456 um

用于接触掩模对准器的356型光刻UV强度和能量计是一种基于微处理器的监视器，允许存储和调用从曝光系列（400 MW/cm2，9999 MJ/cm2，较大9999秒）收集的多个曝光参数（强度、能量和时间）。它计算百分比偏差并平均能量。对于220、254、260、310、365、380、400、420、436和540nm波长。其他波长也是可用的。

400型单元素紫外-可见-红外热释电检测器

美国

分类：激光能量计

厂商：Eltec Instruments Inc

最大重复率: 10000Hz 有效光圈: 2.0mm 光谱范围: 0.1 - 1000 um

型号400由单个钽酸锂传感元件组成，该元件与光学传感器一起密封在TO-5晶体管外壳中。专利元件安装技术用于增加低频响应并减少颤噪效应。

405型高增益热补偿热释电红外探测器

美国

分类：激光能量计

厂商：Eltec Instruments Inc

最大重复率: 1Hz 有效光圈: 1.0mm 光谱范围: 0.1 - 1000 um

405型由两个钽酸锂传感元件、一个负载电阻和一个JFET组成，封装在一个带有光学滤波器的TO-5晶体管封装中。一个确定位置的传感元件暴露于通过滤光器进入的红外辐射，而第二元件被屏蔽于外部辐射。

406型单元件热释电红外探测器，带光源跟踪器

美国

分类：激光能量计

厂商：Eltec Instruments Inc

最大重复率: 1Hz 有效光圈: 2.0mm 光谱范围: 0.1 - 1000 um

405型由两个钽酸锂传感元件、一个负载电阻和一个JFET组成，封装在一个带有光学滤波器的TO-5晶体管封装中。专利元件安装技术用于提高热时间常数和减少颤噪效应。

457型紫外线强度和能量计

美国

分类：激光能量计

厂商：OAI

最大可测量能量: 9999mJ 光谱范围: 0.365 - 0.436 um

457型紫外光强度和能量系统专为与ASML、佳能、尼康和GCA&Rudolph Technology晶圆步进机配合使用而设计，可精确描绘曝光能量（剂量），以评估步进机的性能。它读取400和420 nm波长的强度、能量和时间（16-1600 MW/cm²，999.9 MJ/cm²）。可选的RS232电缆可与457软件配合使用，将剂量数据发送到计算机。

458型用于晶圆步进机的紫外线高强度和能量测量仪

美国

分类：激光能量计

厂商：OAI

最大可测量能量: 9999mJ 光谱范围: 0.365 - 0.436 um

基于微处理器的458型UV光强度和能量系统精确地描绘曝光能量（剂量），以评估步进机的性能。它设计用于ASML高强度、佳能、尼康和Ultratech高强度晶片步进机。读取365、400、420和436 nm波长的强度、能量和时间（4000 MW/cm²，999.9 MJ/cm²）。可选的RS232电缆可与458软件配合使用，将剂量数据发送到计算机。

STANDA - 11QE12LP-H-MB - 激光能量检测器

美国

分类：激光能量计

厂商：Altos Photonics, Inc.

最大可测量能量: 3900mJ 最大重复率: 300Hz 有效光圈: 12mm 光谱范围: 0.19 - 20 um

标准的11QE12激光能量计。

STANDA - 11QE12LP-S-MB - 激光能量检测器

美国

分类：激光能量计

厂商：Altos Photonics, Inc.

最大可测量能量: 3900mJ 最大重复率: 300Hz 有效光圈: 12mm 光谱范围: 0.19 - 20 um

标准的11QE12激光能量计。

STANDA - 11QE12SP-H-MT - 激光能量检测器

美国

分类：激光能量计

厂商：Altos Photonics, Inc.

最大可测量能量: 1600mJ 最大重复率: 6000Hz 有效光圈: 12mm 光谱范围: 0.19 - 20 um

标准的11QE12激光能量计。

STANDA - 11QE12SP-S-MT - 激光能量检测器

美国

分类：激光能量计

厂商：Altos Photonics, Inc.

最大可测量能量: 1600mJ 最大重复率: 6000Hz 有效光圈: 12mm 光谱范围: 0.19 - 20 um

标准的11QE12激光能量计。

STANDA - 11QE25LP-H-MB - 激光能量检测器

美国

分类：激光能量计

厂商：Altos Photonics, Inc.

最大可测量能量: 23000mJ 最大重复率: 300Hz 有效光圈: 25mm 光谱范围: 0.19 - 20 um

Standa提供11QE25激光能量探测器，可测量高达23 J的能量（带衰减器），较大重复频率-6000 Hz。低噪声水平-仅10µJ。有效孔径-25平方毫米。这些电表结构紧凑，使用方便。它们适用于许多OEM、制造和实验室应用。

STANDA - 11QE25LP-S-MB - 激光能量检测器

美国

分类：激光能量计

厂商：Altos Photonics, Inc.

最大可测量能量: 23000mJ 最大重复率: 300Hz 有效光圈: 25mm 光谱范围: 0.19 - 20 um

Standa提供11QE25激光能量探测器，可测量高达23 J的能量（带衰减器），较大重复频率-6000 Hz。低噪声水平-仅10µJ。有效孔径-25平方毫米。这些电表结构紧凑，使用方便。它们适用于许多OEM、制造和实验室应用。

STANDA - 11QE25SP-H-MT - 激光能量检测器

美国

分类：激光能量计

厂商：Altos Photonics, Inc.

最大可测量能量: 10000mJ 最大重复率: 6000Hz 有效光圈: 25mm 光谱范围: 0.19 - 20 um

Standa提供11QE25激光能量探测器，可测量高达23 J的能量（带衰减器），较大重复频率-6000 Hz。低噪声水平-仅10µJ。有效孔径-25平方毫米。这些电表结构紧凑，使用方便。它们适用于许多OEM、制造和实验室应用。

STANDA - 11QE25SP-S-MT - 激光能量检测器

美国

分类：激光能量计

厂商：Altos Photonics, Inc.

最大可测量能量: 10000mJ 最大重复率: 6000Hz 有效光圈: 25mm 光谱范围: 0.19 - 20 um

Standa提供11QE25激光能量探测器，可测量高达23 J的能量（带衰减器），较大重复频率-6000 Hz。低噪声水平-仅10µJ。有效孔径-25平方毫米。这些电表结构紧凑，使用方便。它们适用于许多OEM、制造和实验室应用。

STANDA - 11QE50LP-H-MB - 激光能量检测器

美国

分类：激光能量计

厂商：Altos Photonics, Inc.

最大可测量能量: 85000mJ 最大重复率: 200Hz 有效光圈: 50mm 光谱范围: 0.19 - 20 um

Standa提供11QE50激光能量探测器，可测量高达85 J的能量（带衰减器），较大重复频率为4000 Hz。低噪声水平-仅10µJ。有效孔径-50平方毫米。这些探测器使用方便，可以测量相对较宽的光束。它们适用于许多OEM、制造和实验室应用。