全部产品分类
线性激光测绘系统-200毫米 光束分析仪
新品

线性激光测绘系统-200毫米

分类: 光束分析仪

厂家: DataRay

产地: 美国

更新时间: 2024-08-24 06:31:25

光束轮廓 机器视觉 条码扫描 3D扫描 线激光分析 CMOS探测器

立即咨询 获取报价 获取报价 下载规格书 下载规格书
收藏 收藏

光电查新品推荐

  • 专业选型 专业选型
  • 正规认证 正规认证
  • 品质保障 品质保障

严格把控产品质量,呈现理想的光电产品,确保每一件产品都能满足您的专业需求。

概述

线激光剖面测量系统(LLPS)是一套完整的解决方案,用于分析长达200 mm、宽至55µm的线激光。通过使用我们的200 mm线性载物台在光束长度上扫描Dataray的旗舰WinCAMD-LCM4光束轮廓相机,全功能免费软件将显示线激光强度分布的完整图像,以及垂直质心图、线宽图和其他几个有用的测量结果。线激光仿形–长达200毫米线激光仿形系统由Dataray的全功能、高度可定制、以用户为中心的软件支持,该软件无许可费、无限制安装和免费软件更新。软件控制载物台的移动,自动配置线激光扫描的较佳曝光时间,并提供线的分析。

参数

  • 传感器类型 / Sensor Type : CMOS
  • 可衡量的来源 / Measurable Sources : CW, Pulsed
  • 波长范围 / Wavelength Range : 190 - 1150 nm
  • # 像素(宽度) / # Pixels (Width) : 2048
  • # 像素(高度) / # Pixels (Height) : 2048
  • 最大全帧率 / Max Full Frame Rate : 12Hz
  • ADC / ADC : 12-bit

应用

1. 校准 2. 机器视觉 3. 3D扫描 4. 粒子计数 5. 测量仪器 6. 条码扫描

特征

1. 自动曝光配置 2. 自定义起始/结束位置 3. 自动生成PDF报告 4. 残余传感器倾斜补偿 5. 数据导出到Excel或CSV 6. 保存/加载线激光文件(*.l_wcf)

详述

Line Laser Profiling System 是DataRay公司推出的一款先进的线激光分析系统。该系统能够扫描长度可达200 mm、宽度可达55 µm的线激光,并通过功能齐全的免费软件显示线激光强度分布的全图像。其应用广泛,适用于校准、机器视觉、3D扫描、粒子计数、测量仪器、条码扫描等领域。系统还具有自动曝光配置、自定义起始/结束位置、自动生成PDF报告等多种特性。其高性能的CMOS探测器和全局快门设计,使其在测量精度和速度上表现出色。

规格书

下载规格书

厂家介绍

DataRay,自1988年成立以来,一直是激光光束分析技术的行业先锋。公司专注于设计和制造符合ISO 11146标准的高品质激光光束分析仪,为客户提供无与伦比的准确性和可靠性。凭借灵活的团队和客户至上的服务理念,DataRay不断创新,满足各种应用和波长项目的需求。我们以小巧的组织规模,快速响应市场变化,持续引领光子学行业的发展。

相关产品

图片 名称 分类 制造商 参数 描述
  • µBeam Analyzer For Microscopic Beams 光束分析仪 用于微观光束的µBeam分析仪 光束分析仪 Duma Optronics

    传感器类型: CCD 可衡量的来源: CW, Pulsed 波长范围: 350 - 1310 nm

    µBEAM是一种光束诊断测量系统,用于实时测量和显示亚微米范围内的小型CW或脉冲激光器、光纤和激光二极管光束轮廓。主要功能包括:测量小于0.5µm(FWHM)的光束,处理CW或脉冲,具有长工作距离,使用高分辨率CCD响应范围,用于快速光束搜索的光学变焦。µBeam应用于CD拾音器、激光二极管、拾音器透镜和光学元件的调整、各种光束参数的评估和测试。使用SAM3-HP光束采样器,还可提供高功率版本的µBeam。

  • µBeam High Power 光束分析仪 高功率µBeam 光束分析仪 Duma Optronics

    传感器类型: CCD 可衡量的来源: CW, Pulsed 波长范围: 350 - 1310 nm

    µBeam HP是一种光束诊断测量系统,用于实时测量和显示亚微米范围内的小型CW或脉冲激光器、光纤和激光二极管光束轮廓。主要功能包括:测量小于0.5µm(FWHM)的光束,处理CW或脉冲,具有长工作距离,使用高分辨率CCD响应范围,光学变焦用于快速光束查找。在当今的技术中,越来越多的工业高功率激光器被设计成具有几个微米的微观范围。在较重要的焦点测量这些激光束是一项艰巨的任务,其密度水平超过每平方毫米10兆瓦。新款µBeam HP配有气冷式光束采样器。这使得能够以1nm的分辨率测量微小光束。

  • Beam Monitor BM8304 光束分析仪 光束监视器 BM8304 光束分析仪 Metrolux GmbH

    传感器类型: CCD 可衡量的来源: Pulsed 波长范围: 340 - 1100 nm

    低S/N比和高传感器响应线性度是该Metrolux光束剖面仪中采用的传感器的主要特性。该软件提供了国际标准EN-ISO 11145、11146、11670和13694所需的功能,涵盖了激光表征的各个方面。Beam Profiler相机BPC8304使用1.4 Mpixel CCD传感器,方形像素大小为6.45µm。340至1100 nm的波长范围允许分析所有常见的激光波长。数据接口为千兆以太网(GigE)。由于大多数计算机已经提供了GigE接口(与FireWire相反),因此通常不需要添加单独的接口卡。电缆长度可轻松达到100米,便于集成到生产系统中。

  • Beam Profiling And Beam Imaging For X-Ray 1-200 Nm 光束分析仪 用于1-200Nm的X射线的光束分析和光束成像 光束分析仪 Star Tech Instruments

    传感器类型: Other 可衡量的来源: CW 波长范围: 1 - 200 nm

    在X射线中可视化和测量光束的目标具有新的重要性。Star Tech Instruments开发了新的系统来分析这些光束的功率/能量、均匀性、高分辨率光束轮廓和图像分析。型号µBIP10X是一款真空兼容(1x10-10 Torr)光束轮廓仪和光束成像系统,设计用于1-10 nm的高分辨率。该系统适用于200nm。10倍MAG。1.5 mm的场具有0.6µm的分辨率,并且对非常低的能级敏感。该系统设计用于1.3 X 1.3传感器,但可以针对其他相机格式进行修改。可根据要求提供不同的放大倍率和相机。μBIP系列是STI较新的成像系统,专为使用软X射线而设计-#91;1-2 nm-#93;不应将其用于准分子激光器的较长波长,如193nm或248nm,这将导致严重的内部损伤。较重要的是,该系统设计用于高真空室,使用我们的定制真空法兰组件将光学系统连接到真空室。法兰的额定压力为10-8托。

立即咨询

加载中....