光束监视器 BM8304

传感器类型: CCD 可衡量的来源: CW, Pulsed 波长范围: 350 - 1310 nm

µBEAM是一种光束诊断测量系统，用于实时测量和显示亚微米范围内的小型CW或脉冲激光器、光纤和激光二极管光束轮廓。主要功能包括：测量小于0.5µm（FWHM）的光束，处理CW或脉冲，具有长工作距离，使用高分辨率CCD响应范围，用于快速光束搜索的光学变焦。µBeam应用于CD拾音器、激光二极管、拾音器透镜和光学元件的调整、各种光束参数的评估和测试。使用SAM3-HP光束采样器，还可提供高功率版本的µBeam。

传感器类型: CCD 可衡量的来源: CW, Pulsed 波长范围: 350 - 1310 nm

µBeam HP是一种光束诊断测量系统，用于实时测量和显示亚微米范围内的小型CW或脉冲激光器、光纤和激光二极管光束轮廓。主要功能包括：测量小于0.5µm（FWHM）的光束，处理CW或脉冲，具有长工作距离，使用高分辨率CCD响应范围，光学变焦用于快速光束查找。在当今的技术中，越来越多的工业高功率激光器被设计成具有几个微米的微观范围。在较重要的焦点测量这些激光束是一项艰巨的任务，其密度水平超过每平方毫米10兆瓦。新款µBeam HP配有气冷式光束采样器。这使得能够以1nm的分辨率测量微小光束。

传感器类型: Other 可衡量的来源: CW 波长范围: 1 - 200 nm

在X射线中可视化和测量光束的目标具有新的重要性。Star Tech Instruments开发了新的系统来分析这些光束的功率/能量、均匀性、高分辨率光束轮廓和图像分析。型号µBIP10X是一款真空兼容（1x10-10 Torr）光束轮廓仪和光束成像系统，设计用于1-10 nm的高分辨率。该系统适用于200nm。10倍MAG。1.5 mm的场具有0.6µm的分辨率，并且对非常低的能级敏感。该系统设计用于1.3 X 1.3传感器，但可以针对其他相机格式进行修改。可根据要求提供不同的放大倍率和相机。μBIP系列是STI较新的成像系统，专为使用软X射线而设计-#91；1-2 nm-#93；不应将其用于准分子激光器的较长波长，如193nm或248nm，这将导致严重的内部损伤。较重要的是，该系统设计用于高真空室，使用我们的定制真空法兰组件将光学系统连接到真空室。法兰的额定压力为10-8托。