美国测试和测量产品目录_生产厂家

美国

分类：显微镜配件

厂商：Mad City Labs

Nano-P系列是压电驱动、闭环、线性纳米定位器，采用独特的柔性铰链设计。使用先进的放电加工工艺，柔性铰链完全由单块高强度钛加工而成。该铰链首次在管状压电纳米定位器上使用，确保了较高程度的可重复性和负载能力。与市场上外观类似的产品不同，Nano-P系列没有内置碟形弹簧。贝氏弹簧不是无摩擦的，因此不能提供真正的纳米精密定位器的高度可重复性。纳米P系列的导向机构是一个真正的弯曲弹簧-消除机械摩擦和静摩擦。Nano-P系列由Invar和钛制成，具有热稳定性和机械强度的较佳组合，是较苛刻的纳米定位和计量应用的理想选择。Nano-P系列提供三种标准运动范围，集成位置传感器，采用专有的PicoQ®技术，在闭环控制下提供皮米精度的绝对、可重复位置测量。提供定制系统。

Nano-YT500压电式纳米定位仪

美国

分类：显微镜配件

厂商：Mad City Labs

Nano-YT500是一种长距离、单轴、精密压电纳米定位系统，其中心孔径非常适合样品的光学扫描。内部位置传感器采用专有的PicoQ®技术，可在闭环控制下以纳米分辨率提供绝对、可重复的位置测量。Nano-YT500的真正挠曲导向运动将整个500μm运动范围内的端对端行程差异降至小于1μm（0.2%）。Nano-YT500可在任何方向上操作，并已经过超过1，000，000个完整周期（每个周期1000μm的总行程）的可靠性测试。

Neurolucida 360自动三维神经元重建和定量分析

美国

分类：显微镜配件

厂商：MBF Bioscience

NeuroLucida360是神经科学家使用的首要工具，用于快速准确地重建复杂的神经元结构，范围从复杂的多细胞神经元网络到亚细胞树突棘和假定的突触。凭借分析特定神经元结构（如轴突、基底树突、顶端树突和携带轴突的树突）的复杂性，您可以完全重建和分析任何物种的任何神经元。较先进的图像检测算法使您能够使用各种标记和显微镜技术自信地重建细胞。无论您是否对分析单个神经元或神经元之间的相互作用感兴趣，请了解为什么NeuroLucida 360在自动神经元重建方面远远超过所有其他软件！

焦距范围

美国

分类：显微镜配件

厂商：Sunrise Optical LLC

SUNRISE OPTICAL LLC（http：//zebraoptical.com）开发了一种光学免疫机械振动和杂散光。粗糙或特征丰富样品的精密形貌测量工具。精密压电台。然后使用专有算法对散焦图像进行分析，以恢复样品的形貌和粗糙度。该装置作为标准斑马光学显微镜系统的附件出售。技术类似于我们的标准手册中的小飞溅计量工具。

Nano-MET10和Nano-MET20紧凑型单轴压电纳米定位系统

美国

分类：显微镜配件

厂商：Mad City Labs

Nano-Met10和Nano-Met20是紧凑的单轴压电纳米定位系统，具有出色的谐振频率和低噪声特性。Nano-Met10和Nano-Met20具有皮米定位分辨率。内部位置传感器采用专有的PicoQ®技术，在闭环控制下提供绝对、可重复的位置测量。低噪声特性和高谐振频率使其非常适合要求10皮米以下噪底和高速性能的苛刻计量应用。相关产品包括纳米-Metz、纳米-Met2和纳米-Met3纳米定位系统。

1730A数字线性测量仪传感器

美国

分类：位移测量计

厂商：Ono Sokki Technology Inc

测量范围: 30 - 30 mm 测量分辨率: 10um%

本发明提供了一种易于安装在当前生产设备中的紧凑且轻便的数字线性量规传感器。仪表采用符合IP64防护等级的防尘、防溅结构，可承受恶劣环境。适用于多尘环境和易受滴水和尖刺影响的区域。耐久性测试表明，所有型号均可使用超过650万次滑动。我们在不牺牲耐用性的情况下实现了高精度。

1813A数字线性测量仪传感器

美国

分类：位移测量计

厂商：Ono Sokki Technology Inc

测量范围: 13 - 13 mm 测量分辨率: 1um%

本发明提供了一种易于安装在当前生产设备中的紧凑且轻便的数字线性量规传感器。仪表采用符合IP64防护等级的防尘、防溅结构，可承受恶劣环境。适用于多尘环境和易受滴水和尖刺影响的区域。耐久性测试表明，所有型号均可使用超过650万次滑动。我们在不牺牲耐用性的情况下实现了高精度。

CDX-L15A超高精度激光位移传感器

美国

分类：位移测量计

厂商：Ramco Innovations Inc

测量范围: 110 - 190 mm 测量分辨率: 0.25%

利用传统的图像传感器，对快门的反馈控制不能跟上由工件颜色的变化引起的接收光级的突然变化，将导致瞬间不能执行测量，从而导致响应延迟。借助新开发的ATMOS图像传感器，可以在无需反馈控制的情况下进行测量，这得益于业界首创的算法。由于消除了瞬时无法执行测量和响应延迟，现在可以进行实时测量。

GS-1713A 数字线性测量仪传感器

美国

分类：位移测量计

厂商：Ono Sokki Technology Inc

测量范围: 13 - 13 mm 测量分辨率: 10um%

本发明提供了一种易于安装在当前生产设备中的紧凑且轻便的数字线性量规传感器。仪表采用符合IP64防护等级的防尘、防溅结构，可承受恶劣环境。适用于多尘环境和易受滴水和尖刺影响的区域。耐久性测试表明，所有型号均可使用超过650万次滑动。我们在不牺牲耐用性的情况下实现了高精度。

HPB- 40按钮样品

美国

分类：位移测量计

厂商：Capacitec Inc

测量范围: 0.51 - 1.02 mm

Capacitec的HPB薄型“侧视”钮扣式探头设计用于测量紧密或隐蔽接入位置的位移和零件尺寸变化，以观察接地目标。Button系列探头特别适合放置在非常小的位置，低至0.025英寸（0.65毫米），用于检查薄间隙。探针通常成对使用，以补偿零件未对准和量规定位。Capacitec可以用非接触式“电子测量仪”取代现有的机械接触测量方法，从而提高准确度、可重复性和精度。HPB按钮探头可在宽工作温度范围内进行从低温到1000°C的精确位移测量。Capacitec专门提供定制配置，包括将探头安装到客户的组件和固定装置中的服务。有关更多信息，请咨询Capacitec技术支持团队。

HPB- 75按钮样品

美国

分类：位移测量计

厂商：Capacitec Inc

测量范围: 1.27 - 1.91 mm

Capacitec的HPB薄型“侧视”钮扣式探头设计用于测量紧密或隐蔽接入位置的位移和零件尺寸变化，以观察接地目标。Button系列探头特别适合放置在非常小的位置，低至0.025英寸（0.65毫米），用于检查薄间隙。探针通常成对使用，以补偿零件未对准和量规定位。Capacitec可以用非接触式“电子测量仪”取代现有的机械接触测量方法，从而提高准确度、可重复性和精度。HPB按钮探头可在宽工作温度范围内进行从低温到1000°C的精确位移测量。Capacitec专门提供定制配置，包括将探头安装到客户的组件和固定装置中的服务。有关更多信息，请咨询Capacitec技术支持团队。

激光多普勒位移仪MCV-500

美国

分类：位移测量计

厂商：Optodyne Inc

测量范围: 15000 - 15000 mm

Optodyne的MCV-500紧凑型线性机器校准系统可校准CNC机床、CMM（坐标测量机）和其他精密测量机和工作台。这种新型紧凑型校准系统基于专利激光多普勒位移计（LDDMT）技术，易于设置和操作。包括Windows软件、自动补偿（补偿空气温度、气压和材料热膨胀）和附件在内的基本系统以极其实惠的价格打包。该系统非常紧凑，可装入一个小手提箱中。WindowsTM软件可在任何IBM兼容计算机上运行，用户界面友好，旨在根据各种行业标准（如NMTBA、VDI、ISO和ASME B5.54）收集和分析数据。激光系统经过校准，并可追溯到NIST。

激光多普勒位移仪VS-5000

美国

分类：位移测量计

厂商：Optodyne Inc

测量范围: 0.0000025 - 0.005 mm

Optodyne的VS-5000系列振动传感器是一种非接触式、高灵敏度的位移、速度和加速度测量方法。作为机械振动的存储示波器，VS-5000满足微电子、航空航天、汽车和研发应用的精密工程要求。单轴（VS-5010）或双轴（VS-5020）系统的测量精度为±0.5 ppm，分辨率为±0.05微英寸，速度高达200英寸/秒，频率响应从Do到400 kHz。该双轴系统（VS-5020）具有极高的信噪比，允许用户同时测量目标和背景现象，同时保持每次测量的完整性。

os5000光学位移计

美国

分类：位移测量计

厂商：Luna Innovations

测量范围: 0 - 12 mm 测量分辨率: 0.02%

基于光纤布拉格光栅（FBG）技术，OS5000专门设计用于测量试样表面上两个测量点之间的位移。测量仪的设计非常灵活，可以方便地连接到各种基底上，直接在金属、混凝土和其他表面上进行测量。构成OS5000测量仪的FBG传感器位于坚固的硬质涂层阳极氧化铝外壳内，该外壳可保护传感器免受恶劣环境的影响，并允许在恶劣环境中安装。该测量仪可单独使用，也可作为FBG传感器阵列（可包括应变和温度测量仪、加速度计和其他位移测量仪）的一部分串联使用。与类似的电子仪表网络相比，这种阵列的布线成本低得多，也不那么麻烦。电缆可以直接在外壳内连接，无需单独的接线盒。OS5000提供了所有基于FBG的传感器所固有的许多优势，包括EMI抗扰度——这是振弦式测量仪无法提供的。对于每个测量仪，Micron Optics都提供了传感器信息表，列出了将波长信息转换为工程单位所需的测量仪系数和校准系数。Micron Optics的EnLight传感软件为大型传感器网络提供了计算、记录、显示和传输数据的工具。

os5100 光学位移计

美国

分类：位移测量计

厂商：Luna Innovations

测量范围: 0 - 50 mm

基于光纤布拉格光栅（FBG）技术，OS5100专门设计用于测量试样表面上两个测量点之间的位移。测量仪的设计非常灵活，可以方便地连接到各种基底上，直接在金属、混凝土和其他表面上进行测量。构成OS5100测量仪的两个FBG传感器位于坚固的硬质涂层阳极氧化铝外壳内，该外壳可保护传感器免受恶劣环境的影响，并允许在恶劣环境中安装。该测量仪可以单独使用，也可以作为FBG传感器阵列（可包括应变和温度测量仪、加速度计和其他位移测量仪）的一部分串联使用。与类似的电子仪表网络相比，这种阵列的布线成本低得多，也不那么麻烦。电缆可以直接在外壳内连接，无需单独的接线盒。OS5100提供了所有基于FBG的传感器所固有的许多优势，包括EMI抗扰度——这是振弦式测量仪无法提供的。对于每个测量仪，Micron Optics都提供了一份传感器信息表，列出了将波长信息转换为工程单位所需的测量仪系数和校准系数。Micron Optics的EnLight传感软件为大型传感器网络提供了计算、记录、显示和传输数据的工具。

os5500长程光学位移计

美国

分类：位移测量计

厂商：Luna Innovations

测量范围: 0 - 450 mm 测量分辨率: 0.02%

基于光纤布拉格光栅（FBG）技术，OS5500专门设计用于测量试样表面上两个测量点之间的位移。测量仪的设计非常灵活，可以方便地连接到各种基底上，直接在金属、混凝土和其他表面上进行测量。由OS5500测量仪组成的FBG传感器位于坚固的硬质涂层阳极氧化铝外壳内，该外壳可保护传感器免受恶劣环境的影响，并允许在恶劣环境中安装。该测量仪可以单独使用，也可以作为FBG传感器阵列（可包括应变和温度测量仪、加速度计和其他位移测量仪）的一部分串联使用。与类似的电子仪表网络相比，这种阵列的布线成本低得多，也不那么麻烦。电缆可以直接在外壳内连接，无需单独的接线盒。OS5500提供了所有基于FBG的传感器所固有的许多优势，包括EMI抗扰度——这是振弦式测量仪无法提供的。对于每个测量仪，Micron Optics都提供了一份传感器信息表，列出了将波长信息转换为工程单位所需的测量仪系数和校准系数。Micron Optics的EnLight传感软件为大型传感器网络提供了计算、记录、显示和传输数据的工具。

基准250

美国

分类：位移测量计

厂商：VIEW Micro-Metrology

测量范围: 150 - 300 mm

View Benchmark™250采用紧凑的台式配置，具有高精度，并配有View的双倍率光学元件和计量级结构。基准点250被设计为在生产车间上使用，以提供用于过程控制的精确测量。其紧凑的尺寸和强大的软件使Benchmark 250成为一种多功能测量系统，可以轻松配置为用于关键尺寸测量的专用量规或用于日常质量监控的通用视觉测量系统。

基准624

美国

分类：位移测量计

厂商：VIEW Micro-Metrology

测量范围: 624 - 624 mm

View Benchmark™624是一款大容量、全自动3轴三维测量系统。基准624的移动桥设计创建了一个开放的工作包络面，以便于进入测量区域，并允许被测量的零件始终保持静止。凭借其巨大的花岗岩底座和高精度固定透镜光学系统，Benchmark 624提供了您所期望的高级计量系统的准确性和可靠性。

基准XLT

美国

分类：位移测量计

厂商：VIEW Micro-Metrology

测量范围: 900 - 1500 mm

View Benchmark™XLT在大行程、非接触式、高精度计量系统中提供View性能和可靠性。基准XLT旨在使用其移动桥设计来处理大面积零件或较小零件的嵌套组。先进的图像处理使基准XLT能够高速、准确和稳健地运行。

PSM

美国

分类：计量配件

厂商：Optical Perspectives Group, LLC

PSM是光学计量和校准仪器中的“瑞士军刀”。定位透镜和反射镜的曲率中心，以测量半径和焦距。当物镜被移除以测量棱镜角和光楔时，可用作自准直仪。由于小孔径尺寸，PSM对于小棱镜和窗口特别有用。全场视频模式将光学基准（如曲率中心）与机械基准（如定位珠和机械曲面）相关联。