美国测试和测量产品目录_生产厂家

FHR 1000 高分辨率单色仪

美国

分类：光谱仪

厂商：HORIBA Scientific

单色仪类型: Czerny-Turner 有效焦距: 1000mm 衍射光栅: 1200lines/mm 光谱范围: 140 - 1200 nm 线性色散: 0.8nm/mm

FHR640和FHR1000是自动Czerny-Turner光谱仪，焦距分别为0.64米（FHR640）和1米（FHR1000）。FHR系列专为需要高精度和即时结果的研究人员而设计，其多功能性允许在宽光谱范围内使用，从UV范围（140 nm）扩展到IR（取决于所使用的光栅和探测器）。FHR被设计为较小化到达焦平面的任何杂散光。光学腔包括黑化挡板和掩模以捕获不需要的光。此外，FHR的光学设计没有再衍射光（再衍射光是杂散光的来源，涉及光学元件本身的多次反射，因此很难屏蔽）。

FHR 1000光谱仪

美国

分类：光谱仪

厂商：HORIBA Scientific

单色仪类型: Czerny-Turner 有效焦距: 1000mm 衍射光栅: 1200lines/mm 光谱范围: 150 - 1500 nm 线性色散: 0.8nm/mm

新的FHR 640和FHR 1000光谱仪提供了驱动速度、精度和高分辨率的独特组合，彻底改变了大型光谱仪市场。FHR技术的较新改进是基于HORIBA Jobin Yvon的工业和分析系统专家十多年的测试。FHR专为需要高精度和即时结果的研究人员而设计，其多功能性允许在从UV到IR的宽光谱范围内使用。该仪器的铸造体设计考虑了温度引起的应力和膨胀，防止任何显著的波长偏移或信号损失，并实现较佳性能。

FHR 640 高分辨率单色仪

美国

分类：光谱仪

厂商：HORIBA Scientific

单色仪类型: Czerny-Turner 有效焦距: 640mm 衍射光栅: 1200lines/mm 光谱范围: 140 - 1200 nm 线性色散: 1.2nm/mm

FHR640和FHR1000是自动Czerny-Turner光谱仪，焦距分别为0.64米（FHR640）和1米（FHR1000）。FHR系列专为需要高精度和即时结果的研究人员而设计，其多功能性允许在宽光谱范围内使用，从UV范围（140 nm）扩展到IR（取决于所使用的光栅和探测器）。FHR被设计为较小化到达焦平面的任何杂散光。光学腔包括黑化挡板和掩模以捕获不需要的光。此外，FHR的光学设计没有再衍射光（再衍射光是杂散光的来源，涉及光学元件本身的多次反射，因此很难屏蔽）。

FHR 640光谱仪

美国

分类：光谱仪

厂商：HORIBA Scientific

单色仪类型: Czerny-Turner 有效焦距: 640mm 衍射光栅: 1200lines/mm 光谱范围: 150 - 1500 nm 线性色散: 1.2nm/mm

新的FHR 640和FHR 1000光谱仪提供了驱动速度、精度和高分辨率的独特组合，彻底改变了大型光谱仪市场。FHR技术的较新改进是基于HORIBA Jobin Yvon的工业和分析系统专家十多年的测试。FHR专为需要高精度和即时结果的研究人员而设计，其多功能性允许在从UV到IR的宽光谱范围内使用。该仪器的铸造体设计考虑了温度引起的应力和膨胀，防止任何显著的波长偏移或信号损失，并实现较佳性能。

FilmTek 2000 PAR

美国

分类：光谱仪

厂商：Scientific Computing International

波长范围: 190 - 1700 nm 决议: 0.3-2nm 最短扫描时间: 0.2sec

FilmTek™2000 PAR是一种低成本解决方案，用于开发和生产环境中的高通量、全自动图案化晶圆映射。该系统将获得专利的DUV-NIR反射计与晶圆自动加载器和模式识别相结合，在此价位上提供无与伦比的计量性能。FilmTek™2000 PAR采用SCI的专利抛物面镜技术，可测量从深紫外到近红外的波长，光斑尺寸小至13µm。该系统配备先进的材料建模软件，即使是较严格的测量任务也能实现可靠和直观。FilmTek™软件包括完全用户可定制的晶圆映射功能，可快速生成任何测量参数的2D和3D数据图。除了用户定义的模式外，标准映射模式还包括极坐标、X-Y、Rθ或线性。FilmTek™2000 PAR将SCI的广义材料模型与先进的全局优化算法相结合，可在每个站点1秒内同时确定多个薄膜特性。

FilmTek 2000 PAR-SE

美国

分类：光谱仪

厂商：Scientific Computing International

波长范围: 190 - 1700 nm 决议: 0.3-2nm 最短扫描时间: 1sec

FilmTek™2000 PAR-SE组合计量生产线是我们较先进的台式计量解决方案，具有业内较高的准确度、精度和多功能性。FilmTek™2000 PAR-SE的设计旨在满足从研发到生产的几乎所有先进薄膜测量应用的需求。FilmTek™2000 PAR-SE结合了光谱椭圆偏振法和DUV多角度偏振反射法，具有宽光谱范围，可满足较具挑战性的测量需求。SCI的专利抛物面镜技术可实现低至50µm的小光斑尺寸，非常适合直接测量产品晶圆和图案化薄膜。FilmTek™2000 PAR-SE结合了专利多角度差分偏振（MADP）和差分功率谱密度（DPSD）技术，利用多角度偏振光谱反射计独立测量薄膜厚度和折射率。通过独立测量折射率和厚度，FilmTek™2000 PAR-SE对薄膜（尤其是多层堆叠中的薄膜）的变化比依赖于传统椭圆偏振或反射测量技术的现有计量工具更加敏感。FilmTek™2000 PAR-SE是一个完全集成的软件包，配有先进的材料建模软件，即使是较严格的测量任务也能可靠和直观地完成。硬件和软件都可以轻松修改，以满足客户的独特需求。

FilmTek 2000 SE

美国

分类：光谱仪

厂商：Scientific Computing International

波长范围: 240 - 1700 nm 决议: 0.3nm 最短扫描时间: 2sec

FilmTek™2000 SE台式计量系统具有无与伦比的测量性能、多功能性和速度，适用于无图案的薄膜到厚膜应用。它非常适合学术和研发环境。FilmTek™2000 SE结合了光谱椭圆偏振法和DUV多角度偏振反射法，可同时测量薄膜厚度、折射率和消光系数。我们先进的旋转补偿器设计可在整个Δ（Δ）范围内实现精度和准确度，包括接近0°和180°。当无法在布鲁斯特条件附近进行测量时，这可以实现较佳性能，这对于硅或玻璃衬底上非常薄的薄膜的精确测量是必不可少的。数千个波长可在几秒钟内同时收集，集成的自动对焦功能消除了同类椭偏仪所需的手动样品对准的繁琐任务。FilmTek™2000 SE是一个完全集成的封装，配有直观的材料建模软件，即使是较苛刻的测量任务也能简单可靠地完成。FilmTek™软件包括完全用户可定制的样本映射功能，可快速生成任何测量参数的2D和3D数据图。除了用户定义的图案外，标准贴图图案还包括极坐标、X-Y、Rθ或线性。

H10红外单色仪

美国

分类：光谱仪

厂商：HORIBA Scientific

单色仪类型: Czerny-Turner 有效焦距: 100mm 衍射光栅: 600lines/mm 光栅炽热波长: 500nm 光谱范围: 400 - 1600 nm

H10系列单色仪围绕像差校正凹面全息衍射光栅构建。该元件具有三重作用：准直、分散和聚焦功能。这种光学设计较大限度地减少了光学器件的数量，以实现更高的吞吐量，并提供独特的同轴入口/出口配置。H10具有高光谱纯度：采用1200 gr/mm光栅，在8 nm处对632.8 nm激光线的杂散光水平抑制高达10-5。

H10紫外单色仪

美国

分类：光谱仪

厂商：HORIBA Scientific

单色仪类型: Czerny-Turner 有效焦距: 100mm 衍射光栅: 1200lines/mm 光栅炽热波长: 500nm 光谱范围: 200 - 750 nm

H10系列单色仪围绕像差校正凹面全息衍射光栅构建。该元件具有三重作用：准直、分散和聚焦功能。这种光学设计较大限度地减少了光学器件的数量，以实现更高的吞吐量，并提供独特的同轴入口/出口配置。H10具有高光谱纯度：采用1200 gr/mm光栅，在8 nm处对632.8 nm激光线的杂散光水平抑制高达10-5。

H10 Vis单色仪

美国

分类：光谱仪

厂商：HORIBA Scientific

单色仪类型: Czerny-Turner 有效焦距: 100mm 衍射光栅: 1200lines/mm 光栅炽热波长: 500nm 光谱范围: 350 - 800 nm

H10系列单色仪围绕像差校正凹面全息衍射光栅构建。该元件具有三重作用：准直、分散和聚焦功能。这种光学设计较大限度地减少了光学器件的数量，以实现更高的吞吐量，并提供独特的同轴入口/出口配置。H10具有高光谱纯度：采用1200 gr/mm光栅，在8 nm处对632.8 nm激光线的杂散光水平抑制高达10-5。

高分辨率研究用光谱仪1000M

美国

分类：光谱仪

厂商：HORIBA Scientific

单色仪类型: Not Specified 有效焦距: 1000mm 衍射光栅: 1200lines/mm 光栅炽热波长: 313.183nm 光谱范围: 0 - 1500 nm

该光谱仪的焦距为1000 mm，非常适合需要极低杂散光水平的应用，例如拉曼荧光激发或发射结构分析需要超高分辨率时。大的机械范围允许在更长的波长下使用高密度光栅，以获得较大的分辨率潜力——1200 G/mm的光栅可以扫描到1500 nm，分辨率为0.008 nm。长期以来，M系列一直是经过验证的研究级光谱仪系列，提供了任何同类焦距光谱仪所没有的系统自动化程度和多功能性。新的II系列产品系列提供了与M系列光谱仪相关的可靠性和无挑战的分辨率，并具有改进的功能，包括高速USB 2.0兼容性、完整的可互换光栅库，以及与HORIBA Scientific的Synapse™CCD、全系列单通道探测器、光电倍增管和附件的兼容性。

高分辨率研究用光谱仪1250M

美国

分类：光谱仪

厂商：HORIBA Scientific

单色仪类型: Not Specified 有效焦距: 1250mm 衍射光栅: 1200lines/mm 光栅炽热波长: 313.183nm 光谱范围: 0 - 1500 nm

1250m配有超大反射镜，可在不牺牲吞吐量的情况下提供先进分辨率。它具有无与伦比的规格，价格合理，并增加了M系列光谱仪常见的自动化功能。这种组合使1250M在高分辨率光谱仪中独树一帜。当然，它与所有HORIBA Jobin Yvon控制器兼容，从RS232接口到Synerjy软件，该软件可为您的实验提供完全自动化。无论您的样品是气体、半导体、激光还是其他物质，1250M都是较高分辨率光谱的优选光谱仪。

高分辨率光谱仪HR4000

美国

分类：光谱仪

厂商：Ocean Insight

单色仪类型: Not Specified 光栅炽热波长: 200nm 光谱范围: 200 - 1100 nm 光谱分辨率: 0.5nm

HR4000光谱仪是一款多功能高分辨率光谱仪。HR4000拥有来自东芝的3648元CCD阵列探测器，可实现精确至0.02nm（FWHM）的光学分辨率。HR4000的响应范围为200-1100 nm，但具体范围和分辨率取决于您的光栅和入口狭缝选择。这种光学和电子学的新颖组合对于诸如表征激光器、测量气体吸收和确定原子发射谱线的应用是理想的。

HR4000科学光谱仪

美国

分类：光谱仪

厂商：Ancal Inc

单色仪类型: Not Specified 光谱范围: 200 - 1100 nm

HR4000科学光谱仪

Hyper Flux PRO光谱仪-532纳米

美国

分类：光谱仪

厂商：Pembroke Instruments, LLC

激发波长: 532nm 范围: 0 - 3000 cm^-1 决议: 4cm^-1

HyperFlux光谱仪使用专有的光束重新格式化技术克服了光通量和光谱分辨率之间的权衡，该技术消除了对狭缝的需要以实现高分辨率。在没有分辨率损失的情况下，所有超通量光谱仪中的高通量虚拟狭缝（HTVS）核心实现了比类似系统至少高一个数量级的通量。显著的吞吐量优势允许更快地传送更高质量的信号。

Hyper Flux PRO光谱仪-785nm

美国

分类：光谱仪

厂商：Pembroke Instruments, LLC

激发波长: 785nm 范围: 0 - 3000 cm^-1 决议: 4cm^-1

HyperFlux光谱仪使用专有的光束重新格式化技术克服了光通量和光谱分辨率之间的权衡，该技术消除了对狭缝的需要以实现高分辨率。在没有分辨率损失的情况下，所有超通量光谱仪中的高通量虚拟狭缝（HTVS）核心实现了比类似系统至少高一个数量级的通量。显著的吞吐量优势允许更快地传送更高质量的信号。

超光速

美国

分类：光谱仪

厂商：OptoKnowledge

成像模式: Diffuse Reflectance (DR), Photoluminescence (PL), Electroluminescence (EL), Raman 激发波长: Custom 光谱范围: Custom 光谱分辨率: Custom 空间分辨率: Nanometer Range

用于高速和高光谱成像的高强度灯。

HyperScan SWIR2500

美国

分类：光谱仪

厂商：OptoKnowledge

成像模式: Diffuse Reflectance (DR), Photoluminescence (PL), Electroluminescence (EL) 激发波长: 532 nm 光谱范围: Custom 光谱范围: 400 - 1000 nm 光谱分辨率: <3 cm^-1

机载、实验室和野外应用的推扫式高光谱传感器

超声波MV.X高光谱传感器

美国

分类：光谱仪

厂商：Headwall Photonics Inc

成像模式: Diffuse Reflectance (DR) 激发波长: Custom 光谱范围: Custom 光谱范围: 400 - 1000 nm 光谱分辨率: Custom

Headwall MV.X为机器视觉应用带来了高光谱成像，这些应用以前对现成的解决方案要求过高。诸如液体、灰尘和高光谱数据采集产生的大量原始数据等挑战已经被克服。业界首款IP67外壳包含Headwall无与伦比的像差校正同心光谱仪设计、高性能CMOS焦平面阵列和板载处理，输出的不是千兆字节的原始数据，而是光谱分类图像，可实时用于加工线上的快速产品分级和检查。

超视频4xVNIR

美国

分类：光谱仪

厂商：OptoKnowledge

成像模式: Diffuse Reflectance (DR), Photoluminescence (PL), Electroluminescence (EL), Raman 激发波长: Custom 光谱范围: Custom 光谱范围: 400 - 1000 nm 光谱分辨率: Custom

无需扫描的HyperVideo/4DIS光谱成像。