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  斑驳的USB2.0

  以色列

  分类：光束分析仪配件

  厂商：Duma Optronics

  具有USB2.0接口的便携式快速精确光束定位系统。该系统基于24位A/D电子盒，通过USB2.0端口供电。它在一个系统中提供一个或两个PSD的同时操作。PSD是横向效应型或四象限型。有多种传感头类型和尺寸。当使用500 Hz数字滤波器时，更新速率高达150 Hz。光谱范围为350-1100nm。支持的操作系统包括WindowsXP、Vista、7.0（32位和64位）。

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  光子多普勒测速仪--非接触激光测量0-20公里/秒

  法国

  分类：光束分析仪配件

  厂商：IDIL Fibres Optiques

  光子多普勒测速仪：用于更可靠的高速现象测量Idil Fibers Optiques开发了先进个用于冲击和Detonic应用的工业光子多普勒测速仪。这项技术允许测量先进的或多种速度，在0到20公里/秒的范围内，具有极好的时间分辨率。基于傅里叶变换算法的专用软件可实现速度场的快速可视化。紧凑的模块化系统高度为5U，允许用户构建1至4个测量通道的PDV系统。这个新系统集成了一些改进，例如：低速测量选项与固定的移动频率，红色校准激光直接集成在每个输出，所有参数可在触摸屏上调整…紧凑型光子多普勒测速仪：多达4个测量通道https：//www.idil-fibres-optiques.com/product/pdv/光子多普勒测速仪：多达32个测量通道https：//www.idil-fibres-optiques.com/product/photonic-doppler-velocimeter-1-to-32-channels/

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  OEwaves同调激光器相位噪声和线宽测试系统

  美国

  分类：光束分析仪配件

  厂商：OEwaves

  OEwaves的超窄激光线宽和频率噪声测量系统采用零差方法进行自动测量，能够测试超低相位噪声激光源。用户友好的测试系统能够快速测量激光源的<10Hz洛伦兹线宽，而不需要进行这种窄线宽测量通常所需的复杂设置。这种基于零差的系统在宽带测量中是少有的，不需要另一个低噪声参考激光源。整个系统操作简单，速度快，精度高，通过PC提供简单的图形用户界面，无需任何额外的测试设备。无与伦比的超低相位/频率噪声测量系统可扩展到各种输入波长，并能够进行可选的低相对强度噪声（RIN）测量。

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  BaF2偏振保护光束采样器

  美国

  分类：光束分析仪配件

  厂商：DataRay

  保偏光束采样器（PPBS）采用双光楔设计，对光束功率的一小部分进行采样，用于激光束轮廓测量应用。PPBS对来自两个正交楔形窗口的反射进行采样，以安全地降低高强度光的功率，同时保留输入光束的原始偏振并消除来自每个空气-玻璃界面的多次反射的影响。

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  Beam\'R2-BeamMap2反射式衰减器

  美国

  分类：光束分析仪配件

  厂商：DataRay

  Dataray公司的反射衰减器

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  CaF2偏振保护光束采样器

  美国

  分类：光束分析仪配件

  厂商：DataRay

  保偏光束采样器（PPBS）采用双光楔设计，对光束功率的一小部分进行采样，用于激光束轮廓测量应用。PPBS对来自两个正交楔形窗口的反射进行采样，以安全地降低高强度光的功率，同时保留输入光束的原始偏振并消除来自每个空气-玻璃界面的多次反射的影响。

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  CamIR适配器 - 近红外图像转换器

  美国

  分类：光束分析仪配件

  厂商：DataRay

  Dataray Inc.的近红外（NIR）图像转换器该转换器提供以下功能：-将我们的标准硅相机的范围扩展到近红外1480至1605 nm

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  紧凑型光束采样器

  美国

  分类：光束分析仪配件

  厂商：DataRay

  反射式紧凑型光束采样器，带C-Mount螺纹，高达200 W*

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  紫外线-FS偏振保护光束采样器

  美国

  分类：光束分析仪配件

  厂商：DataRay

  保偏光束采样器（PPBS）采用双光楔设计，对光束功率的一小部分进行采样，用于激光束轮廓分析应用。PPBS对来自两个正交楔形窗口的反射进行采样，以安全地降低高强度光的功率，同时保留输入光束的原始偏振并消除来自每个空气-玻璃界面的多次反射的影响。

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  WinCamD反射式衰减器

  美国

  分类：光束分析仪配件

  厂商：DataRay

  Dataray公司的反射衰减器-用于WinCAMD系列的安装薄膜高功率反射衰减器

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  WinCamD系列UV转换器

  美国

  分类：光束分析仪配件

  厂商：DataRay

  用于光源诊断应用的Dataray公司的UV转换器。-UV光束撞击在定制的薄水晶面板上，该面板在可见光中发出荧光。

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  ZnSe偏振保护光束采样器

  美国

  分类：光束分析仪配件

  厂商：DataRay

  保偏光束采样器（PPBS）采用双光楔设计，对光束功率的一小部分进行采样，用于激光束轮廓分析应用。PPBS对来自两个正交楔形窗口的反射进行采样，以安全地降低高强度光的功率，同时保留输入光束的原始偏振并消除来自每个空气-玻璃界面的多次反射的影响。

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  CCD光束分析器紫外线监测器

  日本

  分类：光束分析仪

  厂商：Hanamura Optics Corp

  传感器类型: CCD 可衡量的来源: CW 波长范围: 193 - 1100 nm ADC: Other

  紫外激光光束轮廓仪在工业应用中有着良好的记录，可用于半导体和显示器行业中加工激光材料的准分子激光器，以及Nd：YAG激光器的三次、四次和五次谐波。该产品的基本系统由基于UV探测器的相机和先进的BeamLux II软件组成。根据有效面积，可以测量从10um到100mm的光束直径。

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  CCD光束分析器 紫外线监测器 10

  日本

  分类：光束分析仪

  厂商：Hanamura Optics Corp

  传感器类型: CCD 可衡量的来源: CW 波长范围: 157 - 308 nm ADC: Other

  紫外激光束轮廓仪在工业应用中有着良好的记录，可用于半导体和显示器行业中加工激光材料的准分子激光器，以及Nd：YAG激光器的三次、四次和五次谐波。该产品的基本系统由基于紫外探测器和高级BeamLux II软件的相机组成。根据有效面积，可以测量从10um到100mm的光束直径。

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  CCD光束分析器 紫外线监测器K2

  日本

  分类：光束分析仪

  厂商：Hanamura Optics Corp

  传感器类型: CCD 可衡量的来源: CW 波长范围: 10 - 1100 nm ADC: Other

  紫外激光光束轮廓仪在工业应用中有着良好的记录，可用于半导体和显示器行业中加工激光材料的准分子激光器，以及Nd：YAG激光器的三次、四次和五次谐波。该产品的基本系统由基于UV探测器的相机和先进的BeamLux II软件组成。根据有效面积，可以测量从10um到100mm的光束直径。

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  XRV-100数码相机幻影

  美国

  分类：光束分析仪

  厂商：Logos Systems

  传感器类型: CCD 可衡量的来源: CW, Pulsed 波长范围: 0.01 - 10 nm # 像素（宽度）: 1280 # 像素（高度）: 960

  XRV系列X射线和质子束检测系统将精密计量与高能辐射检测相结合，形成了基于胶片测量的完全电子替代方案。现在可以以无与伦比的速度和精度测量铅笔般细的辐射束的XYZ位置和矢量。可以在几秒而不是几小时内获得波束矢量、轮廓和发散度。自动化脚本可用于记录射束形状、强度、位置和方向随时间的变化，以便在以后的分析或3D体积重建中使用。XRV系统验证立体定向放射外科子系统（机器人、准直器、直线加速器和kV成像仪）协同工作，以准确地将辐射输送到不规则形状的病变体积。在治疗之前或之后，可以快速验证这些系统中使用的机械叶片准直器的正确操作。光束测量精度为0.2 mm，测量重复性通常为0.02 mm。矢量和波束观察软件可实现捕获数据的实时任意角度观察。所有操作均由随探测器体模提供的笔记本电脑或台式电脑控制。XRV的标准配置是3-30米（较大100英尺）的USB电缆系统，因此系统PC和操作员可以安全地远离治疗室。探测器模型重约8千克（17磅）。

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  XRV-124检测器幻影

  美国

  分类：光束分析仪

  厂商：Logos Systems

  传感器类型: CCD 可衡量的来源: CW, Pulsed 波长范围: 0.01 - 10 nm # 像素（宽度）: 1280 # 像素（高度）: 960

  XRV系列X射线和质子束检测系统将精密计量与高能辐射检测相结合，形成了基于胶片测量的完全电子替代方案。现在可以以无与伦比的速度和精度测量铅笔般细的电离辐射束的XYZ位置和矢量。可以在几秒而不是几小时内获得波束矢量、轮廓和发散度。自动化脚本可用于记录射束形状、强度、位置和方向随时间的变化，以便在以后的分析或3D体积重建中使用。XRV系统验证质子和X射线治疗子系统（机器人、准直器、放射源和kV成像仪）是否协同工作，以准确地将辐射输送到不规则形状的病变体积。光束位置测量精确到0.3mm，测量重复性通常为0.04mm。矢量和波束观察软件可实现捕获数据的实时任意角度观察。可以以高达每秒30帧的速率实时捕获多达4，000帧的视频。

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  XRV-2000猎鹰摄影幻影机

  美国

  分类：光束分析仪

  厂商：Logos Systems

  传感器类型: CCD 可衡量的来源: CW, Pulsed 波长范围: 0.01 - 10 nm # 像素（宽度）: 1280 # 像素（高度）: 960

  XRV-2000 Falcon光束剖面仪将高能辐射探测与精密二维计量相结合，形成了基于胶片测量的完全电子替代方案。XRV-2000 Falcon以无与伦比的速度和精度测量辐射束的XY位置和轮廓。尺寸高达19×19cm的单束和质子能量层图案可以从垂直和水平方向指向闪烁体表面以进行测量。自动化脚本可用于捕捉光束形状、强度和位置随时间的变化。XRV系统校准质子和放射外科系统或工业辐射源，这些辐射源必须向3D空间中的目标区域提供精确的辐射量。在这些系统中使用的笔形束扫描或机械叶片准直器的正确操作可以被快速验证。光束FWHM直径测量精确到±0.1mm，质心位置精确到±0.2mm。光束观察软件能够实时从任何角度观察捕获的轮廓数据，并进行实时半影和对称式测量。捕获的图像可以导出到ImageJ或其他图像分析软件。所有操作均由随相机幻影提供的笔记本电脑或台式电脑控制。XRV配有一根30米（100英尺）的USB3光纤供电延长电缆，以便系统PC和操作员可以安全地远离辐射源。数码相机Phantom重约3.5千克（7.7磅），存放在作为系统一部分提供的Pelican箱子中。

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  光束监视器 BM8304

  德国

  分类：光束分析仪

  厂商：Metrolux GmbH

  传感器类型: CCD 可衡量的来源: Pulsed 波长范围: 340 - 1100 nm ADC: Other

  低S/N比和高传感器响应线性度是该Metrolux光束剖面仪中采用的传感器的主要特性。该软件提供了国际标准EN-ISO 11145、11146、11670和13694所需的功能，涵盖了激光表征的各个方面。Beam Profiler相机BPC8304使用1.4 Mpixel CCD传感器，方形像素大小为6.45µm。340至1100 nm的波长范围允许分析所有常见的激光波长。数据接口为千兆以太网（GigE）。由于大多数计算机已经提供了GigE接口（与FireWire相反），因此通常不需要添加单独的接口卡。电缆长度可轻松达到100米，便于集成到生产系统中。

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  BM8304 - 光束监测仪8304

  德国

  分类：光束分析仪

  厂商：Metrolux GmbH

  传感器类型: CCD 可衡量的来源: CW 波长范围: 340 - 1100 nm # 像素（宽度）: 1392 # 像素（高度）: 1040

  低S/N比和高传感器响应线性度是该Metrolux光束剖面仪中采用的传感器的主要特性。该软件提供了国际标准EN-ISO 11145、11146、11670和13694所需的功能，涵盖了激光表征的各个方面。Beam Profiler相机BPC8304使用1.4 Mpixel CCD传感器，方形像素大小为6.45µm。数据接口为千兆以太网（GigE）。由于大多数计算机已经提供了GigE接口（与FireWire相反），因此通常不需要添加单独的接口卡。电缆长度可轻松达到100米，便于集成到生产系统中。