光电查为您提供3个产品。下载资料，获取报价，实现功能、价格及供应的优化选择。

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  基准250

  美国

  分类：位移测量计

  厂商：VIEW Micro-Metrology

  测量范围: 150 - 300 mm

  View Benchmark™250采用紧凑的台式配置，具有高精度，并配有View的双倍率光学元件和计量级结构。基准点250被设计为在生产车间上使用，以提供用于过程控制的精确测量。其紧凑的尺寸和强大的软件使Benchmark 250成为一种多功能测量系统，可以轻松配置为用于关键尺寸测量的专用量规或用于日常质量监控的通用视觉测量系统。

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  基准624

  美国

  分类：位移测量计

  厂商：VIEW Micro-Metrology

  测量范围: 624 - 624 mm

  View Benchmark™624是一款大容量、全自动3轴三维测量系统。基准624的移动桥设计创建了一个开放的工作包络面，以便于进入测量区域，并允许被测量的零件始终保持静止。凭借其巨大的花岗岩底座和高精度固定透镜光学系统，Benchmark 624提供了您所期望的高级计量系统的准确性和可靠性。

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  基准XLT

  美国

  分类：位移测量计

  厂商：VIEW Micro-Metrology

  测量范围: 900 - 1500 mm

  View Benchmark™XLT在大行程、非接触式、高精度计量系统中提供View性能和可靠性。基准XLT旨在使用其移动桥设计来处理大面积零件或较小零件的嵌套组。先进的图像处理使基准XLT能够高速、准确和稳健地运行。