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  ST400光学轮廓仪

  美国

  分类：光学表面轮廓仪

  厂商：NANOVEA

  光源类型: Coherent Continuous Wave (CW)

  先进的软件可以轻松地在屏幕上选择要自动扫描的区域。QC选项可用于自动化测试的所有方面，包括模式识别、数据库通信、宏程序和分析配方。更大的X-Y载物台、360°旋转载物台和许多定制配置。