- 干涉仪(115)
- 激光功率计(238)
- 单色仪(11)
- 光学延迟线(13)
- 光功率计(64)
- 光谱分析仪(108)
- 光波长计(35)
- 光谱仪(869)
- 激光雷达(29)
- 扫描仪和测距仪(24)
- 气体分析(47)
- 光学池(79)
- 光束分析仪配件(20)
- 光束分析仪(46)
- 激光能量计(82)
- 普通显微镜(60)
- 显微镜配件(25)
- 位移测量计(17)
- 计量配件(19)
- 光学表面轮廓仪(17)
- 孔探仪(39)
- 脉冲发生器(20)
- 太赫兹成像(4)
- 太赫兹时域(13)
- 其他分类测量仪器(9)
- 光纤检测工具(28)
- 脉冲诊断器件(30)
- 激光扫描和测距(4)
- 光束分析(5)
- 光学检测(14)
- 显微镜(12)
- 光纤测试与测量(3)
- 尺寸测量(1)
- 散热解决方案(20)
- 3-Edge
- Advanced Energy
- Advanced Scientific Concepts
- Allied High Tech Products
- Ancal Inc
- Angstrom Inc
- Applied Analytics Inc
- Applied NanoFluorescence LLC
- Applied Research & Photonics Inc
- Applied Rigaku Technologies Inc Div of Rigaku Corp
- Armstrong Optical
- ASD Inc Div of Malvern Panalytical Inc
- Bakman Technologies
- Berkeley Nucleonics Corp
- Bodkin Design and Engineering
- Brandywine Photonics
- Bridger Photonics Inc
- Capacitec Inc
- Capovani Brothers Inc
- Cargille Labs
- Carl Zeiss Microscopy LLC
- Cascade Technologies
- Catalina Scientific Instruments
- Channel Systems Inc
- Complete Inspection Systems Inc
- Connected Fibers
- Data-Pixel
- DFM Engineering Inc
- Digital Surf
- Direct Optical Research Co
- D&P Instruments
- Dr Heinrich Schneider Messtechnik GmbH
- Dunwell Tech
- 爱特蒙特光学
- EKSPLA
- Eltec Instruments Inc
- ENMET
- EVK DI Kerschhaggl GmbH
- Femtochrome Research Inc
- Fischer Technology Inc
- Fiso Technologies Inc
- FOGALE Nanotech
- Fort Wayne Wire Die Inc
- Luna Innovations
- GenScope
- GigaMat Technologies Inc
- GMP SA
- GOW-MAC Instrument Co
- Gradient Lens Corporation
- Guided Wave Inc
- Hanamura Optics Corp
- HÜBNER Photonics
- Heliotis AG
- Hiden Analytical
- Highland Technology
- Hofbauer Optik Mess- & Prüftechnik
- Idealab Inc
- Infinity Photo-Optical
- Inometrix Inc
- InPhotonics Inc
- INSION GmbH
- Interferometric Optics
- International Light Technologies
- Interspectrum OU
- Intracellular Imaging
- ISS Inc
- JADAK, a Novanta Co
- JEOL USA Inc
- Kaiser Optical Systems Inc
- Kasalis
- L3Harris Technologies, Inc.
- Kiyohara Optics USA
- Kylia
- Laser Probe Inc
- LaserPoint Srl
- Leica Microsystems Inc
- Lenox Instrument Co
- Level Five Supplies
- LI-COR Inc
- Lion Precision
- Logos Systems
- LOT-QuantumDesign GmbH
- M3 Measurement Solutions
- Macken Instruments Inc
- Mad City Labs
- Martin Froeschner & Associates
- Max Levy Autograph Inc
- MBF Bioscience
- McBain Systems
- McPherson
- Mesa Photonics LLC
- Metrohm USA
- Metrolux GmbH
- MicroVision Inc
- Midac Corp
- Montana Instruments Corp
- Motic Instruments
- NANOVEA
- Nedinsco BV
- Next Instruments
- Nikon Instruments
- NTT Advanced Technology Corp
- OAI
- OLIS Inc
- Ono Sokki Technology Inc
- Optical Data Associates LLC
- Optical Perspectives Group, LLC
- Optical Wavelength Laboratories
- Optimark Fiber Optics
- Optodyne Inc
- OptoKnowledge
- OPTOKON AS
- Optometrics
- OptoTech Optical Machinery Inc
- OptoTest
- OptoTherm Inc
- Optronic Laboratories Inc
- Oxford Instruments
- OZ Optics
- PCE Instruments UK Ltd Sub of PCE Holding GmbH
- PE Schall GmbH & Co KG
- Pepperl & Fuchs Inc
- Petrolaser Co
- Phantom Intelligence
- Phase Photonics
- Photon etc.
- Photon Kinetics
- Photonics Technology Obninsk Ltd (PhTO Ltd)
- Physical Sciences Inc
- PI
- PicoQuant
- Polytec GmbH
- P&P Optica
- Promax Electronica
- Rainbow Photonics AG
- Ramco Innovations Inc
- Redondo Optics
- Reflex Analytical Corporation
- RIEGL
- RWC Testing & Lab Supplies
- Scantron Industrial Products Ltd
- Scientific Computing International
- Scope Technology
- Sensapex Ltd
- SensUp
- Shimadzu Scientific Instruments Inc Sub of Shimadzu Corp
- Si-Ware Systems
- SICK Inc
- SmarAct
- Spectra Services
- Spectraline Inc
- Spectrolab Systems
- Spectrum Metrology Ltd
- Star Tech Instruments
- Starna Cells Inc
- Sunrise Optical LLC
- Surface Optics Corp
- Taylor Hobson Precision
- TecSense GmbH
- Terasense Group
- The Microscope Depot
- Tiger Optics LLC
- TimeGate Instruments
- Translume Inc
- TrueGage
- Unitron Ltd
- USA Borescopes
- VIEW Micro-Metrology
- Wilcom Inc
- Wilks - a Spectro Scientific Co
- World Precision Instruments
- WPI
- XIA LLC
- Yelo Ltd
- Zarbeco
- Zemetrics
- Zeutec Opto-Elektronik GmbH
- Pranalytica, Inc
- Hangzhou Brolight Technology Co., Ltd
- Pembroke Instruments, LLC
- DIGCO® Inc.
- HANGZHOU OLE-SYSTEMS
- GMCH TECH (SHENZHEN) CO.,LTD
- greenTEG AG
- Del Mar Photonics
- Photon Control Inc.
- 4D Technology
- ADC Corporation
- Admesy
- AeroDIODE
- AFL
- 牛津仪器
- 安立公司
- 安东帕
- APE Angewandte Physik & Elektronik GmbH
- Arden Photonics
- Artifex Engineering GmbH & Co. KG
- Avantes
- Avesta Ltd.
- B&W Tek, Inc.
- BaySpec
- Bristol Instruments
- Broadcom
- Cairn Research
- 相干公司
- DeNovix
- Deviser Instruments
- Duma Optronics
- Edinburgh Instruments
- 法兰克福激光公司
- Gamma Scientific
- Gentec-EO
- GoyaLab
- HP Spectroscopy
- Hamamatsu Photonics
- HighFinesse
- IB Photonics
- Ibsen Photonics
- IDIL Fibres Optiques
- Instrument Systems
- IRsweep
- IS Instruments
- ISTEQ
- iXblue Photonics
- JETI Technische Instrumente
- Jonard Tools
- Keysight Technologies
- Laser Components
- Leonardo Electronics US
- Light Conversion
- LightMachinery
- LIGHTEL
- Luxmux
- Menlo Systems
- Micro-Epsilon
- MKS | Newport
- NLIR
- Ocean Insight
- OEwaves
- MKS | Ophir
- Optilab
- OSI Optoelectronics
- OZ Optics Ltd.
- PerkinElmer Inc
- Pratt & Whitney Measurement Systems
- Precision Rated Optics
- PRIMES
- Teledyne Princeton Instruments
- Quantum Composers, Inc.
- Radiantis
- RESOLUTION Spectra Systems
- RFOptic
- RGB Photonics
- Shimadzu
- Special Optics
- Spectral Products
- Spectrolight, Inc.
- SphereOptics GmbH
- Spectrum Scientific, Inc
- STANDA
- StellarNet Inc
- STEMMER IMAGING
- Sutter Instrument
- TecOptics, Inc.
- Thermo Fisher Scientific
- 索雷博
- Titan Tool Supply
- TOPAG Lasertechnik GmbH
- TOPTICA Photonics
- TRIOPTICS GmbH
- Ultrafast Systems
- VEE GEE Scientific, Inc
- Verity Instruments, Inc.
- Vermont Photonics
- Viavi Solutions Inc.
- Wasatch Photonics
- World Star Tech
- XONOX Technology GmbH
- Yokogawa Electric Corporation
- Zygo Corporation
- Semilab Semiconductor Physics Laboratory
- 布鲁克光谱仪器公司
- 新拓三维
- Scientech Inc
- Promet Optics
- Altos Photonics, Inc.
- PureAire Monitoring Systems Inc
- QED Technologies Inc
- Solid State Cooling Systems
- 罗杰斯
- Resonance
- DataRay
- ARCoptix
- RedWave Labs Ltd
- Leonardo DRS
光电查为您提供2120个产品。下载资料,获取报价,实现功能、价格及供应的优化选择。
-
成像模式: Diffuse Reflectance (DR), Photoluminescence (PL), Electroluminescence (EL), Raman 激发波长: Custom 光谱范围: Not Applicable 光谱范围: Custom 光谱分辨率: Not Applicable
EOS系列高光谱成像仪采用了Photon ETC公司基于体布拉格光栅(VBG)的专利滤波技术。这项技术是高光谱成像的理想选择。微视场和宽视场平台都是为发光(光致发光或电致发光)和反射测量而设计的,并且可以适应宽带或单色光源。我们的过滤技术允许快速获取光谱分辨的高分辨率图像。基于色散光谱仪的推扫式(线扫描)系统一次采集一条线,而基于VBG的设备允许全局成像。这意味着使用基于VBG的技术,可以一次获取完整的单色图像,而不是逐行(或逐点)获取。由于相机捕获视场中的整个区域,因此可以实时收集光谱和空间信息,并可以记录光谱分辨的视频。V-EOS™在可见光谱上提供一系列单色图像,避免了繁琐的X-Y或线扫描。该系统通过提供光谱特征的大规模分布来进行前所未有的分析,无论是半导体的带隙变化还是新化合物中的分子变化。我们的S-EOS™宽场高光谱成像仪集成了我们的新型Zephir相机,现在覆盖了高达2.5μm的短波红外光谱区域。该系统通过提供光谱特征的大规模分布,无论是半导体的带隙变化还是新化合物中的分子变化,都可以进行前所未有的分析。Grand-EOS高光谱成像仪将高光谱显微镜系统与高光谱广域成像平台相结合,提供了VNIR(400-100 nm)和SWIR(900-2500 nm)光谱范围的微观和宏观模态。
-
应用: Time-Resolved Fluorescence, Singlet Oxygen, Time-Resolved Photoluminescence (TRPL), Fluorescence Anisotropy (Polarization), Photochemistry 测量技术: NIR Spectroscopy, Fluorescence Spectroscopy 光谱仪类型: Modular 波长范围: 240 to 1550 nm 光谱分辨率: 4 to 16 nm
PicoQuant公司的FluoTime 200是一种光谱仪,波长范围为240至1550nm,光谱分辨率为4至16nm.Fluotime 200的更多细节可以在下面看到。
-
应用: Time-Resolved Fluorescence, Singlet Oxygen with NIR PMT, Time-Resolved Photoluminescence (TRPL), Fluorescence Anisotropy (Polarization), Materials Science, Photochemistry, LEDs, OLEDs 测量技术: Fluorescence Spectroscopy, Phosphorescence Spectroscopy, VIS Spectroscopy, UV Spectroscopy 光谱仪类型: Benchtop, Modular 波长范围: 255 to 1550 nm 光谱分辨率: 0.3 nm
PicoQuant公司的FluoTime 250是一种UV/VIS荧光寿命光谱仪,工作波长为266至1990纳米。它的焦距为150毫米,光谱范围为185-1400纳米。该器件提供高达80 MHz的高激光重复率。它的光圈为f/4.2,杂散光抑制为10-5。该光谱仪的分辨率为0.3nm,最小步长为0.004nm.它的色散为5.4 nm/mm,脉冲宽度为40 PS-1 ns.FluoTime 250是一个全自动、紧凑和模块化的系统。它采用Czerny-Turner设计,尺寸为900 X 550 X 400 mm(不带单色仪)和900 X 1100 X 400 mm(带单色仪),非常适合荧光衰减、磷光衰减、时间分辨各向异性、带可选单色仪的时间分辨发射光谱和寿命动力学应用。
-
应用: Time-Resolved Fluorescence, Singlet Oxygen, Time-Resolved Photoluminescence (TRPL), Fluorescence Upconversion, Fluorescence Anisotropy (Polarization), Steady-State Fluorescence Spectroscopy, Fluorescence Anisotropy, Quantum Yield Measurements, Photochemistry, LEDs, OLEDs, quantum dots 测量技术: NIR Spectroscopy, Fluorescence Spectroscopy 光谱仪类型: Modular 波长范围: 200 to 1990 nm 光谱分辨率: 0.3 nm
PicoQuant的FluoTime 300是一种UV/VIS/NIR荧光寿命光谱仪,工作波长为266至1990 nm.对于光谱范围为185-1700nm的单单色仪设计,其焦距为150mm和300mm;对于双单色仪设计,其焦距为2×300mm.该器件提供高达80 MHz的高激光重复率。对于单单色仪,它的孔径为f/4.6或f/4.1,对于双单色仪,它的孔径为f/4。该装置对于单单色仪具有10-5的杂散光抑制,对于双单色仪具有10-8的杂散光抑制。该光谱仪的分辨率为0.3nm,最小步长为0.004nm.它的色散为5.4 nm/mm或2.7 nm/mm,脉冲宽度为40 PS-1 ns.FluoTime 300是一个全自动、灵活和模块化的系统。它采用Czerny-Turner设计,尺寸为900 X 550 X 400 mm(无稳态选项)和900 X 1100 X 400 mm(有稳态选项),是荧光各向异性(偏振)、稳态荧光光谱、时间分辨光致发光(TRPL)、材料科学和光化学应用的理想选择。
-
波长范围: 190 - 1700 nm 决议: 0.3-2nm 最短扫描时间: 0.2sec
FilmTek™2000 PAR是一种低成本解决方案,用于开发和生产环境中的高通量、全自动图案化晶圆映射。该系统将获得专利的DUV-NIR反射计与晶圆自动加载器和模式识别相结合,在此价位上提供无与伦比的计量性能。FilmTek™2000 PAR采用SCI的专利抛物面镜技术,可测量从深紫外到近红外的波长,光斑尺寸小至13µm。该系统配备先进的材料建模软件,即使是较严格的测量任务也能实现可靠和直观。FilmTek™软件包括完全用户可定制的晶圆映射功能,可快速生成任何测量参数的2D和3D数据图。除了用户定义的模式外,标准映射模式还包括极坐标、X-Y、Rθ或线性。FilmTek™2000 PAR将SCI的广义材料模型与先进的全局优化算法相结合,可在每个站点1秒内同时确定多个薄膜特性。
-
波长范围: 190 - 1700 nm 决议: 0.3-2nm 最短扫描时间: 1sec
FilmTek™2000 PAR-SE组合计量生产线是我们较先进的台式计量解决方案,具有业内较高的准确度、精度和多功能性。FilmTek™2000 PAR-SE的设计旨在满足从研发到生产的几乎所有先进薄膜测量应用的需求。FilmTek™2000 PAR-SE结合了光谱椭圆偏振法和DUV多角度偏振反射法,具有宽光谱范围,可满足较具挑战性的测量需求。SCI的专利抛物面镜技术可实现低至50µm的小光斑尺寸,非常适合直接测量产品晶圆和图案化薄膜。FilmTek™2000 PAR-SE结合了专利多角度差分偏振(MADP)和差分功率谱密度(DPSD)技术,利用多角度偏振光谱反射计独立测量薄膜厚度和折射率。通过独立测量折射率和厚度,FilmTek™2000 PAR-SE对薄膜(尤其是多层堆叠中的薄膜)的变化比依赖于传统椭圆偏振或反射测量技术的现有计量工具更加敏感。FilmTek™2000 PAR-SE是一个完全集成的软件包,配有先进的材料建模软件,即使是较严格的测量任务也能可靠和直观地完成。硬件和软件都可以轻松修改,以满足客户的独特需求。
-
波长范围: 240 - 1700 nm 决议: 0.3nm 最短扫描时间: 2sec
FilmTek™2000 SE台式计量系统具有无与伦比的测量性能、多功能性和速度,适用于无图案的薄膜到厚膜应用。它非常适合学术和研发环境。FilmTek™2000 SE结合了光谱椭圆偏振法和DUV多角度偏振反射法,可同时测量薄膜厚度、折射率和消光系数。我们先进的旋转补偿器设计可在整个Δ(Δ)范围内实现精度和准确度,包括接近0°和180°。当无法在布鲁斯特条件附近进行测量时,这可以实现较佳性能,这对于硅或玻璃衬底上非常薄的薄膜的精确测量是必不可少的。数千个波长可在几秒钟内同时收集,集成的自动对焦功能消除了同类椭偏仪所需的手动样品对准的繁琐任务。FilmTek™2000 SE是一个完全集成的封装,配有直观的材料建模软件,即使是较苛刻的测量任务也能简单可靠地完成。FilmTek™软件包括完全用户可定制的样本映射功能,可快速生成任何测量参数的2D和3D数据图。除了用户定义的图案外,标准贴图图案还包括极坐标、X-Y、Rθ或线性。
-
决议: 1nm
UV-1900i双光束分光光度计旨在提高可用性、性能和数据合规性。它是一台理想的紫外可见分光光度计,适用于从常规分析到研究的所有类型的工作。UV-1900i提供了性能和可用性的完美平衡,具有高分辨率、低杂散光、超快速扫描功能和易于使用的界面。分光光度计可以使用触摸面板独立操作(无PC),也可以使用带有内置LabSolutions UV-VIS软件的PC操作。测量模式包括光度、光谱、定量、动力学、时间进程和生物方法。该仪器还集成了各种功能,使日常工作变得轻松高效,例如USB键盘和条形码输入、使设备能够在所需时间启动的唤醒功能、八种语言的显示选项、网络打印、USB打印和扩展内存。借助内置的LabSolutions UV-VIS控制软件,用户可以在数据采集、分析、数据完整性和用户管理方面充分利用仪器。通过适当的软件符合性软件包,UV-1900i和软件设置可以提供全面的数据完整性、用户管理和审计跟踪,以完全符合FDA 21 CFR Part 11符合性。