光电查为您提供2139个产品。下载资料，获取报价，实现功能、价格及供应的优化选择。

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  干涉仪SP 5000 TR

  德国

  分类：干涉仪

  厂商：PE Schall GmbH & Co KG

  干涉仪配置: Not Specified 光源: Not Specified 输出极化: Linear 有效值重复性: Not Specified 有效值精度: Not Specified

  工业和研究中的许多应用需要高精度的同步位移和角度测量。快速设置和轻松调整尤为重要。三光束激光干涉仪是将三个干涉仪组合在一个设备中的精密长度测量设备。在所有三个测量通道中使用相同的高度稳定的激光频率。因此，可以以亚纳米精度同时测量三个长度值。根据两个长度值之间的差和校准的光束距离，可以高精度地确定相应的角度。该系统采用模块化设计，因此可适用于各种测量任务。干涉仪的测量范围超过5米，具有亚纳米分辨率。对于使用反射器的测量，角度测量范围可达±12.5°。

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  C01型PicoScale传感器头

  德国

  分类：干涉仪

  厂商：SmarAct

  干涉仪配置: Not Specified 光源: 1550nm 输出极化: Linear 有效值重复性: Not Specified 有效值精度: Not Specified

  C01是皮级干涉仪的标准传感头类型。由于其准直输出光束、紧凑的外形和各种定制选项，它适用于较常见的应用。每个传感器头（见图1）基于两个主要组件：准直光纤输出光束的透镜系统和将光束分为参考光束和探测光束的分束器。参考光束被内部参考镜反射，该内部参考镜被涂覆到分束器立方体的一侧。探测光束从头部射出并被目标表面反射，以跟踪其相对位移。分束器的前表面标记每个皮级测量的绝对零位置，因为在这里探针和参考光束具有相等的长度。

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  C03型PicoScale传感器头

  德国

  分类：干涉仪

  厂商：SmarAct

  干涉仪配置: Not Specified 光源: 1550nm 输出极化: Linear 有效值重复性: Not Specified 有效值精度: Not Specified

  C03是一种传感头类型，针对中等工作距离进行了优化，并使用回复反射器作为目标。探测光束被放大，使得其发散度减小，并且在目标反射镜处反射之后可以收集更多的光功率。C03传感头类型基于标准C01型传感头，包括光纤准直光学器件和分束器。分束器将光束分成参考光束和探测光束。参考光束被涂在分束器立方体一侧的内部参考镜反射。在C03传感器头中，探测光束在被望远镜（两个透镜）扩展后离开传感器头，以显著降低光束发散度。它被目标表面反射并跟踪其相对位移。分束器的前表面标记每个皮级测量的绝对零位置，因为这里探测光束和参考光束具有相等的长度。

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  F01型PicoScale传感器头

  德国

  分类：干涉仪

  厂商：SmarAct

  干涉仪配置: Not Specified 光源: 1550nm 输出极化: Linear 有效值重复性: Not Specified 有效值精度: Not Specified

  F01是具有聚焦探测光束的传感头类型。这允许测量小目标的位移。此外，传感器头提供高角度公差。如图1所示，在预准直之后，集成分束器将光分成参考光束和探测光束。参考光束被参考反射镜反射，该参考反射镜被涂覆到分束器立方体的一侧。探测光束由透镜系统聚焦并从头部射出。分束器的前表面标记每个皮级测量的绝对零位置，因为这里探测光束和参考光束具有相等的长度。因此，工作距离（WD）不等于距头部的距离（即焦距f），因为透镜系统仅集成到探测光束中。

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  L01型PicoScale传感器头

  德国

  分类：干涉仪

  厂商：SmarAct

  干涉仪配置: Not Specified 光源: 1550nm 输出极化: Linear 有效值重复性: Not Specified 有效值精度: Not Specified

  L01是皮级激光干涉仪的传感头。目标光束用柱面透镜仅沿一个轴聚焦，从而产生线聚焦。这样，传感器头沿着聚焦轴具有相对大的角度工作范围，同时沿着正交轴具有大的直径。通常，这些传感器头用于测量旋转圆柱形物体的偏心运动，并且对其摆动（即旋转轴的倾斜/倾斜）不敏感。

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  费佐干涉仪（Verifire Fizeau）

  美国

  分类：干涉仪

  厂商：Zemetrics

  干涉仪配置: Fizeau Interferometer 光源: Not Specified 输出极化: Circular 有效值重复性: Not Specified 有效值精度: Not Specified

  Zygo的VeriFire™干涉仪系统可对普莱诺或球面以及光学系统和组件的透射波前进行快速高精度测量。测量玻璃或塑料光学元件（如平面、透镜和棱镜），甚至精密加工的金属和陶瓷表面。VeriFire™系统采用真正的激光斐索设计，扩展了Zygo在表面形状计量方面无与伦比的经验。轴上配置与Zygo的专利采集算法和全功能MX™计量软件相结合，可实现具有高级分析功能的高精度表面形状计量。

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  Verifire高清干涉仪系统

  美国

  分类：干涉仪

  厂商：Zemetrics

  干涉仪配置: Fizeau Interferometer 光源: Not Specified 输出极化: Circular, Elliptical, Random 有效值重复性: Not Specified 有效值精度: Not Specified

  Zygo的VeriFire™HD干涉仪系统提供平面或球面的快速高分辨率测量，以及光学元件和组件的透射波前测量。干涉腔长度被精确调制，同时高速相机捕捉多个条纹图像，这些图像由软件进行分析，以创建被测零件的高度详细的测量结果。

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  Verifire HDX干涉仪用于精确的中间空间频率特性分析

  美国

  分类：干涉仪

  厂商：Zemetrics

  干涉仪配置: Fizeau Interferometer 光源: Not Specified 输出极化: Circular, Elliptical, Random 有效值重复性: Not Specified 有效值精度: Not Specified

  Zygo的新型VeriFire HDX干涉仪专为极高性能光学元件和系统的中间空间频率成分表征而设计和制造。该系统包括广受欢迎的VeriFire HD的所有强大功能（如QPSI和长寿命稳定激光器），并增加了重要的增强功能，如新的同类较佳成像和高仪器传递函数（ITF）分辨率、中间空间频率内容和高斜率表面偏差的卓越特性，以及Zygo的DynaPhase®动态采集技术（可选），该技术可消除振动引起的问题，并在几乎任何环境中实现精密计量。

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  AccuFiz紧凑型菲佐尔激光干涉仪

  美国

  分类：干涉仪

  厂商：4D Technology

  干涉仪配置: Twyman–Green Interferometer 光源: 632 nm or 633nm, 355nm, 532nm, 1053nm, 1064nm, 1550nm, 10.6um 输出极化: Circular 有效值重复性: <0.00005 waves 有效值精度: <0.0005 waves

  Accufiz Fizeau干涉仪提供无与伦比的性能、质量和价值组合，用于精确、可重复测量表面形状和透射波前质量。Accufiz激光干涉仪非常容易在有限的实验室空间中使用。紧凑、轻便的设计具有极高的刚性，可在任何方向或环境中实现较大的稳定性。波长范围为355 nm至1.064µm，孔径范围为33至800 mm，采用水平和垂直安装配置，为各种应用和预算提供了合适的选择。可选的600万像素高分辨率相机可捕捉任何商用干涉仪的较高斜率。测量非球面、自由曲面光学元件和高度像差元件。可选的表面隔离源（SIS）增加了测量平面平行光学器件的能力，无需涂层或背面处理以消除不必要的反射。在薄至300µm的光学器件上量化形状光学厚度、透射波前误差和均匀性。

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  PhaseCam Twyman-Green激光干涉仪

  美国

  分类：干涉仪

  厂商：4D Technology

  干涉仪配置: Twyman–Green Interferometer 光源: 632 nm or 633nm, 355nm, 532nm, 1053nm, 1064nm, 1550nm, 10.6um 输出极化: Circular 有效值重复性: <0.001 waves 有效值精度: <0.002 waves

  与传统的Fizeau仪器相比，Twyman-Green配置干涉仪具有几个重要的优势：振动不敏感测量可在具有挑战性的环境中使用，如Cryo-Vac测试或长测量路径。设计可以非常紧凑，可在狭小空间或难以接近的位置使用。轴上设计可提供出色的精度，尤其是在测量球形元件时。测试和参考之间的功率比以无损方式调整。PhaseCam动态Twyman-Green激光干涉仪可提供高分辨率测量，即使振动和空气湍流Dynamic Interferometry®使PhaseCams能够在30微秒内捕获完整的波前测量结果，比传统的相移干涉仪快5000倍。PhaseCams结构紧凑，重量轻，使重新配置测试设置变得简单和容易，无需振动隔离。PhaseCam激光干涉仪非常适合大直径光学元件的计量、生产车间质量控制、通常受气流湍流阻碍的洁净室应用、远程操作必不可少的环境室以及移动部件（如可变形反射镜、旋转磁盘或振动膜）的模态分析。

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  PhaseCam 6010

  美国

  分类：干涉仪

  厂商：4D Technology

  类型: Twynman-Green Interferometer 测量类型: Shape, Phase (wavefront), Reflectivity 波长: 632.8 nm 目标形状: 2D, 3D 聚焦范围: ± 12.5 mm

  4D Technology的PhaseCam 6010是一款动态Twyman-Green干涉仪，工作波长为632.8 nm.它有一个400万像素的摄像头，可对所有内部功能进行全电动控制，并可对光路测量进行轴上照明和成像。该圆偏振干涉仪具有光纤耦合头和激光源模块，可提供1.5 MW的输出功率，并在FWHM下产生直径为7 mm的光束。PhaseCam 6010具有动态干涉测量技术，该技术使用单个相机高速光学相位传感器在小于30&μs的时间内进行波前测量。该干涉仪的采集速率超过15帧/秒，可在几乎任何条件下使用，无需隔振。PhaseCam 6010功耗高达750 W，采用尺寸为18 X 16.2 X 9.1 cm（测量头）的封装，配有48.3 X 20.3 X 11.9 cm激光源。它是米级望远镜光学系统、大型成像系统校准、真空和环境室测试、测试计算机生成全息图和生产车间质量控制应用的理想选择。

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  PhaseCam 6110

  美国

  分类：干涉仪

  厂商：4D Technology

  类型: Twynman-Green Interferometer 测量类型: Shape, Phase (wavefront), Reflectivity 波长: 632.8 nm 目标形状: 2D, 3D 聚焦范围: ± 12.5 mm

  4D Technology的PhaseCam 6110是一款干涉仪，波长为632.8 nm，工作温度为16至27摄氏度。PhaseCam 6110的更多详细信息可在下面查看。

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  PhaseCam MWIR

  美国

  分类：干涉仪

  厂商：4D Technology

  类型: Twynman-Green Interferometer 测量类型: Shape, Phase (wavefront) 波长: 3390 nm 目标形状: 2D, 3D 聚焦范围: ± 20 mm

  4D Technology的PhaseCam MWIR是一款干涉仪，波长为3390 nm，工作温度为16至27摄氏度。PhaseCam MWIR的更多详情见下文。

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  PhaseCam NIR

  美国

  分类：干涉仪

  厂商：4D Technology

  类型: Twynman-Green Interferometer 测量类型: Shape, Phase (wavefront), Reflectivity 波长: 1064 nm 目标形状: 2D, 3D 聚焦范围: ± 12.5 mm

  4D Technology的PhaseCam NIR是一种波长为1064 nm的干涉仪，工作温度为16至27摄氏度。PhaseCam NIR的更多详细信息可在下面查看。

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  PhaseCam SWIR

  美国

  分类：干涉仪

  厂商：4D Technology

  类型: Twynman-Green Interferometer 测量类型: Shape, Phase (wavefront), Reflectivity 波长: 1550 nm 目标形状: 2D, 3D 聚焦范围: ± 12.5 mm

  4D Technology的PhaseCam SWIR是一种波长为1550 nm的干涉仪，工作温度为16至27摄氏度。PhaseCam SWIR的更多详细信息可在下面查看。

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  PhaseCam Vacuum-Compatible

  美国

  分类：干涉仪

  厂商：4D Technology

  类型: Twynman-Green Interferometer 测量类型: Shape, Phase (wavefront), Reflectivity 波长: 632.8 nm 目标形状: 2D, 3D 聚焦范围: ± 12.5 mm

  4D Technology的PhaseCam Vacuum-Compatible是一款干涉仪，波长为632.8 nm，工作温度为16至27摄氏度。有关PhaseCam Vacuum-Compatible的更多详细信息，请联系我们。

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  VFI-1200

  英国

  分类：干涉仪

  厂商：Arden Photonics

  测量类型: Shape, Angle 测量角度: 4 Degree(3D), 8 Degree(2D) 目标形状: 2D, 3D 应用: Precision cleaver manufacture, Cleaver maintenance, Laser manufacture, Medical device manufacture, Fiber R&D, Specialty fiber manufacture, Development and testing of angled cleavers, Device pig-tailing, LDF cleaver manufacture/maintenance, Fiber end cap m

  Arden Photonics的VFI-1200是一种干涉检测系统，设计用于检查劈开或抛光光纤的表面质量和平整度。它的最大视场为1200μm，具有X1.5、X2、X3和X6数码变焦。该干涉仪具有1/1.8英寸光学格式的64MP CMOS阵列图像传感器、12位ADC和525nm LED.它可以实时测量高达8°（2D）和4°（3D）的解理角，测量时间小于7秒。该干涉仪在2D模式下具有检查和条纹模式，并具有自动/手动端角测量功能，可生成3D端面高度图。它可以通过USB 3.0接口进行控制，该接口也可用作电源。VFI-1200采用台式模块，尺寸为240 X 240 X 90 mm，非常适合用于精密切割器制造、切割器维护、激光制造、医疗设备制造、光纤研发、特种光纤制造、角式切割器的开发和测试、设备线尾、LDF切割器制造/维护、光纤端盖制造和多光纤束制造应用。

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  VFI-2000

  英国

  分类：干涉仪

  厂商：Arden Photonics

  测量类型: Shape, Angle 测量角度: 4 Degree(3D), 8 Degree(2D) 目标形状: 2D, 3D 应用: Precision cleaver manufacture, Cleaver maintenance, Laser manufacture, Medical device manufacture, Fiber R&D, Specialty fiber manufacture, Development and testing of angled cleavers, Device pig-tailing, LDF cleaver manufacture/maintenance, Fiber end cap m

  Arden Photonics的VFI-2000是一种干涉检测系统，设计用于检查劈开或抛光光纤的表面质量和平整度。它具有640万像素CMOS图像传感器和12位ADC，采用1/1.8英寸光学格式，可提供2000μm的视场和X6数码变焦。该干涉仪可以在2D和3D中分析直径为400-2000µm的光纤，使用户能够全面了解切割或抛光过程。它可以在7秒内测量高达8°的2D模式（实时）和4°的3D模式的解理角。该干涉仪的高度分辨率为0.01μm，可在自动或手动模式下测量端角。它还具有检查和条纹模式，并且还可以生成3D端面高度图。VFI-2000可通过USB 3.0接口进行控制，该接口也可用作电源。它采用台式模块，尺寸为240 X 240 X 90 mm，非常适合光纤研发、设备尾纤、斜角切割器开发/测试、精密切割器、激光、医疗设备、特种光纤、LDF切割器、光纤端盖和多光纤束制造应用。

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  MINT和WT-MINT系列延时线干涉仪

  法国

  分类：干涉仪

  厂商：iXblue Photonics

  最大光输入功率: 300mW 储存温度范围: -40°C – 80°C (MINT), -10°C – 40°C (WT-MINT) 湿度: 5% – 85% (Non condensing) 光纤弯曲半径: 20mm 最大输入电压: 100V (U option), 4V (L option)

  MINT & WT-MINT是Kylia公司专为D(Q)PSK解调设计的延时线干涉仪，具备宽可调范围和精确相位调谐功能，适用于多种应用。微干涉仪（MINT）是一种延时线干涉仪（DLI），能够执行输入信号与其自身延迟一个比特时间的干涉。WT-MINT是一种宽可调MINT，能够设置干涉仪的延迟至所需值。

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  10721A

  美国

  分类：干涉仪

  厂商：Keysight Technologies

  类型: Multiple Axis Interferometer 测量类型: Angle, Length 目标形状: 2D, 3D 应用: Plane Mirror Measurement