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VFI-1200 干涉仪

VFI-1200

分类: 干涉仪

厂家: Arden Photonics

产地: 英国

型号: VFI-1200

更新时间: 2024-08-30 14:31:18

525 nm Cleave Check Interferometer for Surface Quality & Flatness Measurements

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概述

Arden Photonics的VFI-1200是一种干涉检测系统,设计用于检查劈开或抛光光纤的表面质量和平整度。它的最大视场为1200μm,具有X1.5、X2、X3和X6数码变焦。该干涉仪具有1/1.8英寸光学格式的64MP CMOS阵列图像传感器、12位ADC和525nm LED.它可以实时测量高达8°(2D)和4°(3D)的解理角,测量时间小于7秒。该干涉仪在2D模式下具有检查和条纹模式,并具有自动/手动端角测量功能,可生成3D端面高度图。它可以通过USB 3.0接口进行控制,该接口也可用作电源。VFI-1200采用台式模块,尺寸为240 X 240 X 90 mm,非常适合用于精密切割器制造、切割器维护、激光制造、医疗设备制造、光纤研发、特种光纤制造、角式切割器的开发和测试、设备线尾、LDF切割器制造/维护、光纤端盖制造和多光纤束制造应用。

参数

  • 测量类型 / Measurement Type : Shape, Angle
  • 测量角度 / Measuring Angle : 4 Degree(3D), 8 Degree(2D)
  • 目标形状 / Object Shape : 2D, 3D
  • 应用 / Applications : Precision cleaver manufacture, Cleaver maintenance, Laser manufacture, Medical device manufacture, Fiber R&D, Specialty fiber manufacture, Development and testing of angled cleavers, Device pig-tailing, LDF cleaver manufacture/maintenance, Fiber end cap m

图片集

VFI-1200图1
VFI-1200图2

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厂家介绍

雅顿光电有限公司成立于2001年,旨在为全球光电行业开发、制造和销售创新产品。我们还提供光纤和激光计量领域的技术咨询。我们专注于测试和测量多模核心发射分布,也称为EF,我们的旗舰产品MPX-1已销往世界各地的研究和生产线。在不断发展的特种光纤领域,雅顿也正在发展成为一个测量专业技术中心。大卫·罗宾逊是雅顿光电有限公司的创始人兼总经理,在光电行业拥有20年的经验。他在世界各地的光纤和激光制造商和组件制造商的设备设计和营销方面有着广泛的工作经验。他的经验还涵盖了技术和商业能力的光子学元件的测试和测量。

相关产品

图片 名称 分类 制造商 参数 描述
  • 3DScope-V2 Interferometer 干涉仪 3DScope-V2干涉仪 干涉仪 Connected Fibers

    干涉仪配置: Not Specified 光源: 632 nm or 633nm 输出极化: Not Specified

    3D-Scope V2是Data-Pixel发布的较新干涉仪,用于生产环境。它的设计考虑了速度、精度、简单性、鲁棒性和成本,除了自动化和控制命令外,还通过USB2.0高速链路将非压缩、实时和高质量的图像从硬件传输到软件。3Dscope V2是便携式的,仅通过一个USB链接(包括电源)即可连接到笔记本电脑或台式电脑。所有校准步骤都是自动化的,并嵌入到用户友好的软件界面中,以产生无误差和可靠的测量结果。

  • AccuFiz Compact Fizeau Laser Interferometers 干涉仪 AccuFiz紧凑型菲佐尔激光干涉仪 干涉仪 4D Technology

    干涉仪配置: Twyman–Green Interferometer 光源: 632 nm or 633nm, 355nm, 532nm, 1053nm, 1064nm, 1550nm, 10.6um 输出极化: Circular

    Accufiz Fizeau干涉仪提供无与伦比的性能、质量和价值组合,用于精确、可重复测量表面形状和透射波前质量。Accufiz激光干涉仪非常容易在有限的实验室空间中使用。紧凑、轻便的设计具有极高的刚性,可在任何方向或环境中实现较大的稳定性。波长范围为355 nm至1.064µm,孔径范围为33至800 mm,采用水平和垂直安装配置,为各种应用和预算提供了合适的选择。可选的600万像素高分辨率相机可捕捉任何商用干涉仪的较高斜率。测量非球面、自由曲面光学元件和高度像差元件。可选的表面隔离源(SIS)增加了测量平面平行光学器件的能力,无需涂层或背面处理以消除不必要的反射。在薄至300µm的光学器件上量化形状光学厚度、透射波前误差和均匀性。

  • Air-Spaced Etalons 干涉仪 空气间隔 Etalons 干涉仪 TecOptics, Inc.

    干涉仪配置: Not Specified 光源: Not Specified 输出极化: Not Specified

    空气间隔标准具具有适当等级的熔融石英(UV-可见或IR)基底。衬底上的面外AR涂层和楔形物防止形成无关的干涉图案。与基底光学接触的垫片决定了镜面的平行度和标准具的自由光谱范围。根据应用,间隔物可以是熔融石英或低热膨胀材料,例如ZeroDur或Ule。

  • AZP 200 HP Autocollimation Testing And Blocking Unit 干涉仪 AZP 200 HP自动准直测试和阻断装置 干涉仪 OptoTech Optical Machinery Inc

    干涉仪配置: Not Specified 光源: Not Specified 输出极化: Not Specified

    AZP 200 HP是一款适用于许多光学生产领域的较佳多功能固井装置。由于各种安装和选项,AZP 200 HP可以完美地适应所有特殊的固井和定心任务。

  • DAFFI MT DIGITAL AUTOMATED FIBER AND FERRULE INTERFEROMETER 干涉仪 Daffi Mt数字式自动光纤和插芯干涉仪 干涉仪 Data-Pixel

    干涉仪配置: Not Specified 光源: Not Specified 输出极化: Not Specified

    Data-Pixel开发了一条经济高效的干涉仪生产线,可在不影响精度或性能的情况下进行大批量生产。基于我们丰富的干涉仪制造经验,我们将Daffi MT设计为坚固、快速和精确,以满足所有制造或实验室环境。借助BLINK软件平台,Daffi能够测量多光纤连接器和套圈的端面几何形状。Daffi干涉仪附件(法兰和适配器)与DAISI系列完全兼容,允许用户限制3D几何测量单元的成本。BLINK是所有Data-Pixel产品通用的软件平台。专用插件支持干涉测量系列产品:3D Scope-V2、Daffi SF、Daisi-V3、Daffi MT和Daisi MT FP。PDF、HTML和CSV报告功能,具有广泛的数据库支持(SQL Server、MySQL、ODBC、Oracle等).OLE自动化支持可用于专用应用程序。

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