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应用: Time-Resolved Fluorescence, Singlet Oxygen, Time-Resolved Photoluminescence (TRPL), Fluorescence Anisotropy (Polarization), Photochemistry 测量技术: NIR Spectroscopy, Fluorescence Spectroscopy 光谱仪类型: Modular 波长范围: 240 to 1550 nm 光谱分辨率: 4 to 16 nm
PicoQuant公司的FluoTime 200是一种光谱仪,波长范围为240至1550nm,光谱分辨率为4至16nm.Fluotime 200的更多细节可以在下面看到。
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应用: Time-Resolved Fluorescence, Singlet Oxygen with NIR PMT, Time-Resolved Photoluminescence (TRPL), Fluorescence Anisotropy (Polarization), Materials Science, Photochemistry, LEDs, OLEDs 测量技术: Fluorescence Spectroscopy, Phosphorescence Spectroscopy, VIS Spectroscopy, UV Spectroscopy 光谱仪类型: Benchtop, Modular 波长范围: 255 to 1550 nm 光谱分辨率: 0.3 nm
PicoQuant公司的FluoTime 250是一种UV/VIS荧光寿命光谱仪,工作波长为266至1990纳米。它的焦距为150毫米,光谱范围为185-1400纳米。该器件提供高达80 MHz的高激光重复率。它的光圈为f/4.2,杂散光抑制为10-5。该光谱仪的分辨率为0.3nm,最小步长为0.004nm.它的色散为5.4 nm/mm,脉冲宽度为40 PS-1 ns.FluoTime 250是一个全自动、紧凑和模块化的系统。它采用Czerny-Turner设计,尺寸为900 X 550 X 400 mm(不带单色仪)和900 X 1100 X 400 mm(带单色仪),非常适合荧光衰减、磷光衰减、时间分辨各向异性、带可选单色仪的时间分辨发射光谱和寿命动力学应用。
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应用: Time-Resolved Fluorescence, Singlet Oxygen, Time-Resolved Photoluminescence (TRPL), Fluorescence Upconversion, Fluorescence Anisotropy (Polarization), Steady-State Fluorescence Spectroscopy, Fluorescence Anisotropy, Quantum Yield Measurements, Photochemistry, LEDs, OLEDs, quantum dots 测量技术: NIR Spectroscopy, Fluorescence Spectroscopy 光谱仪类型: Modular 波长范围: 200 to 1990 nm 光谱分辨率: 0.3 nm
PicoQuant的FluoTime 300是一种UV/VIS/NIR荧光寿命光谱仪,工作波长为266至1990 nm.对于光谱范围为185-1700nm的单单色仪设计,其焦距为150mm和300mm;对于双单色仪设计,其焦距为2×300mm.该器件提供高达80 MHz的高激光重复率。对于单单色仪,它的孔径为f/4.6或f/4.1,对于双单色仪,它的孔径为f/4。该装置对于单单色仪具有10-5的杂散光抑制,对于双单色仪具有10-8的杂散光抑制。该光谱仪的分辨率为0.3nm,最小步长为0.004nm.它的色散为5.4 nm/mm或2.7 nm/mm,脉冲宽度为40 PS-1 ns.FluoTime 300是一个全自动、灵活和模块化的系统。它采用Czerny-Turner设计,尺寸为900 X 550 X 400 mm(无稳态选项)和900 X 1100 X 400 mm(有稳态选项),是荧光各向异性(偏振)、稳态荧光光谱、时间分辨光致发光(TRPL)、材料科学和光化学应用的理想选择。
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波长范围: 190 - 1700 nm 决议: 0.3-2nm 最短扫描时间: 0.2sec
FilmTek™2000 PAR是一种低成本解决方案,用于开发和生产环境中的高通量、全自动图案化晶圆映射。该系统将获得专利的DUV-NIR反射计与晶圆自动加载器和模式识别相结合,在此价位上提供无与伦比的计量性能。FilmTek™2000 PAR采用SCI的专利抛物面镜技术,可测量从深紫外到近红外的波长,光斑尺寸小至13µm。该系统配备先进的材料建模软件,即使是较严格的测量任务也能实现可靠和直观。FilmTek™软件包括完全用户可定制的晶圆映射功能,可快速生成任何测量参数的2D和3D数据图。除了用户定义的模式外,标准映射模式还包括极坐标、X-Y、Rθ或线性。FilmTek™2000 PAR将SCI的广义材料模型与先进的全局优化算法相结合,可在每个站点1秒内同时确定多个薄膜特性。
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波长范围: 190 - 1700 nm 决议: 0.3-2nm 最短扫描时间: 1sec
FilmTek™2000 PAR-SE组合计量生产线是我们较先进的台式计量解决方案,具有业内较高的准确度、精度和多功能性。FilmTek™2000 PAR-SE的设计旨在满足从研发到生产的几乎所有先进薄膜测量应用的需求。FilmTek™2000 PAR-SE结合了光谱椭圆偏振法和DUV多角度偏振反射法,具有宽光谱范围,可满足较具挑战性的测量需求。SCI的专利抛物面镜技术可实现低至50µm的小光斑尺寸,非常适合直接测量产品晶圆和图案化薄膜。FilmTek™2000 PAR-SE结合了专利多角度差分偏振(MADP)和差分功率谱密度(DPSD)技术,利用多角度偏振光谱反射计独立测量薄膜厚度和折射率。通过独立测量折射率和厚度,FilmTek™2000 PAR-SE对薄膜(尤其是多层堆叠中的薄膜)的变化比依赖于传统椭圆偏振或反射测量技术的现有计量工具更加敏感。FilmTek™2000 PAR-SE是一个完全集成的软件包,配有先进的材料建模软件,即使是较严格的测量任务也能可靠和直观地完成。硬件和软件都可以轻松修改,以满足客户的独特需求。
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波长范围: 240 - 1700 nm 决议: 0.3nm 最短扫描时间: 2sec
FilmTek™2000 SE台式计量系统具有无与伦比的测量性能、多功能性和速度,适用于无图案的薄膜到厚膜应用。它非常适合学术和研发环境。FilmTek™2000 SE结合了光谱椭圆偏振法和DUV多角度偏振反射法,可同时测量薄膜厚度、折射率和消光系数。我们先进的旋转补偿器设计可在整个Δ(Δ)范围内实现精度和准确度,包括接近0°和180°。当无法在布鲁斯特条件附近进行测量时,这可以实现较佳性能,这对于硅或玻璃衬底上非常薄的薄膜的精确测量是必不可少的。数千个波长可在几秒钟内同时收集,集成的自动对焦功能消除了同类椭偏仪所需的手动样品对准的繁琐任务。FilmTek™2000 SE是一个完全集成的封装,配有直观的材料建模软件,即使是较苛刻的测量任务也能简单可靠地完成。FilmTek™软件包括完全用户可定制的样本映射功能,可快速生成任何测量参数的2D和3D数据图。除了用户定义的图案外,标准贴图图案还包括极坐标、X-Y、Rθ或线性。
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波长范围: 190 - 1100 nm 决议: 0.2nm
紫外-可见分光光度计是一种被广泛接受的、记录在案的技术,具有许多应用。该技术广泛用于食品、药物、农产品的分析,并广泛用于医疗保健、公共卫生、环境保护、生命科学工业和许多其他有机和生物化学应用。作为分析仪器的主要制造商,我们较近推出了T7系列紫外-可见分光光度计。这一系列的仪器,提供卓越的性能,高品质和具有竞争力的价格。T7系列紫外-可见分光光度计完全可以满足化学家的要求。T7 UV-Visible系列在仪器应用、机械和光学设计、电子控制和软件方面具有创新性,同时保留了业界公认的功能。T7系列紫外可见分光光度计能够进行以下分析:光度测量、光谱扫描、动力学测量、定量测定和DNA/蛋白质分析。当与PC连接时,该软件提供了更多用户友好的应用程序,例如访问数据库、三维光谱分析、GLP实验室协议、农药残留快速分析以及环境保护分析代码中的其他应用程序。
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成像模式: Diffuse Reflectance (DR), Photoluminescence (PL), Electroluminescence (EL), Raman 激发波长: Custom 光谱范围: Custom 光谱范围: 400 - 1000 nm 光谱分辨率: Custom
传统的线扫描超光谱成像系统(或推扫式系统)需要一个平移台来移动相机前方的目标样本,这需要多个平移台或额外的硬件来执行各种实验室和现场实验设置。对于SOC710-VP,传感器在镜头后面移动,扫描速度或平移速率与系统的曝光和增益参数密切相关。外部扫描系统需要操作员手动计算,以便正确设置载物台的速率,从而获得较佳结果。SOC710-VP的小尺寸和无外部载物台硬件使其非常便携,是受益于现场数据收集的应用的较佳选择。
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成像模式: Photoluminescence (PL) 激发波长: Custom 光谱范围: Custom 光谱范围: 400 - 1000 nm 光谱分辨率: Custom
快照光谱成像仪是在单个探测器积分期间获得整个光谱数据集的系统,因此在快速变化现象的光谱成像中具有明显的优势。即使是快照系统生成的信息量也仍然是一个关键的挑战,因为它们在许多实际任务中的应用取决于处理大量数据并对其进行实时决策的能力。快照光谱成像仪的处理速率必须与图像的实时采集保持同步。LVIRA从初始增益和偏移补偿以及光谱辐射校准到面向决策的处理(包括使用各种算法的光谱相关),对图像进行实时光谱处理。LightShift™是先进款具有视频速率采集和处理功能的商用多模式快照光谱和偏振成像仪。同时捕获每个像素的光谱、光场和偏振信息。单独地,这些尺寸提供了场景的部分表示。LightShift加入它们以实现更好的分类性能,并为研究人员提供查看目标对象的新功能。
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成像模式: Diffuse Reflectance (DR), Photoluminescence (PL), Electroluminescence (EL), Raman 激发波长: Not Available 光谱范围: Custom 光谱分辨率: Custom 空间分辨率: Nanometer Range
SOC750-HB是一种实时、军用级、遥感中波红外高光谱成像系统。SOC750-HB可用于气体泄漏检测、光谱特征测量、化学物质识别和定量等要求苛刻的应用。SOC75-HB由超高速、高灵敏度中波红外阵列、成像光谱仪、集成扫描系统和矢量处理器组成,能够以每秒11个立方体(256 X 240像素X 42波段)的速度获取和处理光谱图像,分辨率为14位。可以以较高的速度获取较低空间分辨率的立方体。该系统的光谱响应为2-5微米的中波红外。光谱分辨率为73nm。HS数据立方体大小为5.25 MB。该系统包括一个实时高光谱图像处理器,用于辐射校准图像,执行传感器仿真,并同时在光谱图像上执行多达四个光谱相关算法。所有处理都以完整立方体速率进行。SoC750-HB成像仪由SoC的定制HSAnalysis3软件支持,具有用户友好的图形用户界面。