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化合物类型: Methane 检测技术: CustomMDK-C是用于CH4检测的高级评估套件，基于带玻璃罩的中红外LED-PD Optopair；它包括快速简单启动所需的所有组件。可以轻松更换套件中的部件，使套件成为灵活实用的解决方案。
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化合物类型: Methane 检测技术: CustomMDK是一款基于中红外LED-PD Optopair的CH4检测评估套件，包括快速简单启动所需的所有组件。可以轻松更换套件中的部件，使套件成为灵活实用的解决方案。
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化合物类型: Methane 检测技术: CustomMDS-4是用于CH4检测的甲烷传感器模块。它包括一个紧凑的光学单元和用于LED电源和PD信号放大的电子设备。
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化合物类型: Methane 检测技术: CustomMDS-5是基于中红外LED-PD Optopair的CH4检测评估系统。它是一种开箱即用的解决方案，只需付出较小的努力即可启动，并且可以快速提供结果。
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ELWIMAT-AKF DIGI 2000是一款紧凑型电子自准直仪，具有高精度、无畸变光学系统和集成摄像机以及强大的LED照明。
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ELWIMAT-AKF VISIS是一种自动准直器，带有刻度显示，用于在放大屏幕上进行视觉评估。到目前为止，只要使用过带目镜的目视自动准直仪，就可以使用它。它提供了一种在所有已知应用中使用自准直仪的简单而廉价的方法。
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传感器类型: CCD 可衡量的来源: Pulsed 波长范围: 340 - 1100 nm ADC: Other低S/N比和高传感器响应线性度是该Metrolux光束剖面仪中采用的传感器的主要特性。该软件提供了国际标准EN-ISO 11145、11146、11670和13694所需的功能，涵盖了激光表征的各个方面。Beam Profiler相机BPC8304使用1.4 Mpixel CCD传感器，方形像素大小为6.45µm。340至1100 nm的波长范围允许分析所有常见的激光波长。数据接口为千兆以太网（GigE）。由于大多数计算机已经提供了GigE接口（与FireWire相反），因此通常不需要添加单独的接口卡。电缆长度可轻松达到100米，便于集成到生产系统中。
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传感器类型: CCD 可衡量的来源: CW 波长范围: 340 - 1100 nm # 像素（宽度）: 1392 # 像素（高度）: 1040低S/N比和高传感器响应线性度是该Metrolux光束剖面仪中采用的传感器的主要特性。该软件提供了国际标准EN-ISO 11145、11146、11670和13694所需的功能，涵盖了激光表征的各个方面。Beam Profiler相机BPC8304使用1.4 Mpixel CCD传感器，方形像素大小为6.45µm。数据接口为千兆以太网（GigE）。由于大多数计算机已经提供了GigE接口（与FireWire相反），因此通常不需要添加单独的接口卡。电缆长度可轻松达到100米，便于集成到生产系统中。
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传感器类型: CCD 可衡量的来源: CW 波长范围: 248 - 1100 nm # 像素（宽度）: 1388 # 像素（高度）: 1036由于它的多功能性，FM100已经在显示器和半导体行业以及汽车行业的材料加工中用于激光束的常规质量控制。除了集成的高功率衰减器外，FM100还有两个滤波器插槽，用于灵活衰减激光功率。该配置可以针对所有激光波长进行优化，以保证较佳的测量结果。
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传感器类型: CCD 可衡量的来源: Pulsed 波长范围: 248 - 1100 nm # 像素（宽度）: 1388 # 像素（高度）: 1036由于其多功能性，FM100已经用于显示器和半导体工业中激光束的常规质量控制，以及汽车工业中的材料加工。除了集成的高功率衰减器外，FM100还有两个滤波器插槽，用于灵活衰减激光功率。该配置可以针对所有激光波长进行优化，以保证较佳的测量结果。
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传感器类型: CCD 可衡量的来源: Pulsed 波长范围: 340 - 1100 nm # 像素（宽度）: 1388 # 像素（高度）: 1036激光束源的精确表征和规格对于在激光生产中提供和保持高产品质量是至关重要的。系统集成商可以根据国际标准中定义的参数选择要使用和集成的光束源。Metrolux测量系统是为激光束参数的快速高精度测量而设计的。图像处理软件的远程可控性简化了与生产流程的集成。
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传感器类型: CCD 可衡量的来源: CW 波长范围: 340 - 1100 nm # 像素（宽度）: 1388 # 像素（高度）: 1036LPM200设计用于激光的自动测定和监控。以及具有长瑞利长度的激光束的光束参数，其中标准光束轮廓仪不能提供足够的功能。LPM200系统包括用于对激光束焦散成像的光学系统以及用于扫描该图像的线性平台。两种不同放大率的选择以及各种光学滤波器完成了这个紧凑的测量系统。•数据的采集和分析由经过验证的BeamLux软件使用附带的M²工具进行处理，该工具根据标准ISO 11146进行了测量优化。直接或通过定制的BLFE软件前端远程提供用户控制。该系统与用于Metrolux测量设备的SAMM控制和评估模块相结合，可快速轻松地配置和集成到生产过程中。
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ELWIMAT-AKF VIS是一种带有刻度显示的自动准直仪，用于在放大屏幕上进行视觉评估。到目前为止，只要使用过带有目镜的视觉自动准直仪，就可以使用它。它提供了一种在所有已知应用中使用自准直仪的简单而廉价的方法。
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5.2“Fizeau透射球，用于4”干涉仪-提供扩展的测量范围可用尺寸：F/0.7F/0.8F/1.1F/1.6F/2.5F/4.2f/6.4F/9.2F/5.9D平坦的
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光源类型: CW LED, Modulated LED 样品反射率: 0.05 - 100 % 垂直范围: 10000000nm 有效值重复性: <0.01 nm 有效值精度: <0.01 nmContourX-100光学轮廓仪以一流的价格为精确和可重复的非接触式表面计量设定了新的基准。小尺寸系统在精简的封装中提供不打折扣的2D/3D高分辨率测量能力，该封装结合了数十年专有的布鲁克白光干涉（WLI）创新技术。新一代增强功能包括新的500万像素摄像头和更新的工作台，可实现更大的拼接能力，以及新的测量模式USI，可为精密加工表面、厚膜和摩擦学应用提供更大的便利性和灵活性。没有比ContourX-100更有价值的台式系统了。
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光源类型: CW LED, Modulated LED 样品反射率: 0.05 - 100 % 垂直范围: 10000000nm 有效值重复性: <0.01 nm 有效值精度: <0.1nmContourX-200光学轮廓仪完美融合了先进的特性、可定制的选项和易用性，可实现一流的快速、精确和可重复的非接触式3D表面计量。使用更大的FOV 500万像素数码相机和新的电动XY平台，可测量的小尺寸系统提供不打折扣的2D/3D高分辨率测量能力。ContourX-200拥有无与伦比的Z轴分辨率和精度，提供了布鲁克公司专有的白光干涉（WLI）技术的所有行业公认的优势，而没有传统共焦显微镜和竞争标准光学轮廓仪的限制。
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光源类型: CW LED, Modulated LED 样品反射率: 0.05 - 100 % 垂直范围: 10000000nm 有效值重复性: <0.01 nm 有效值精度: <0.01 nmContourX-500光学轮廓仪是世界上较全面的自动化台式系统，用于快速、非接触式3D表面计量。可测量的ContourX-500拥有无与伦比的Z轴分辨率和精度，并以更小的尺寸提供布鲁克白光干涉（WLI）落地式模型的所有行业公认的优势。从精密加工表面和半导体工艺的质量保证/质量控制（QA/QC）计量到眼科和MEMS器件的研发表征，Profiler可针对较广泛的复杂应用轻松定制。
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光源类型: CW LED 样品反射率: 1 - 1 % 有效值重复性: <0.001 nm 有效值精度: <0.001 nmTREVISTA CAM缩小了智能相机的简单应用与苛刻的表面检测任务之间的差距。它基于获得专利的TREVISTA照明，并结合了功能强大的智能相机，预装了Teledyne Dalsa的Inspect或Sherlock机器视觉软件。CVS TREVISTA Cam非常适合需要检查零件的地形和纹理细节的应用，即使它们是具有挑战性的光滑/弯曲表面或装饰零件。预先配置的系统意味着您可以立即打开包装并开始测试。