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光源类型: CW LED, Modulated LED 样品反射率: 0.05 - 100 % 垂直范围: 10000000nm 有效值重复性: <0.01 nm 有效值精度: <0.01 nmContourX-100光学轮廓仪以一流的价格为精确和可重复的非接触式表面计量设定了新的基准。小尺寸系统在精简的封装中提供不打折扣的2D/3D高分辨率测量能力，该封装结合了数十年专有的布鲁克白光干涉（WLI）创新技术。新一代增强功能包括新的500万像素摄像头和更新的工作台，可实现更大的拼接能力，以及新的测量模式USI，可为精密加工表面、厚膜和摩擦学应用提供更大的便利性和灵活性。没有比ContourX-100更有价值的台式系统了。
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光源类型: CW LED, Modulated LED 样品反射率: 0.05 - 100 % 垂直范围: 10000000nm 有效值重复性: <0.01 nm 有效值精度: <0.1nmContourX-200光学轮廓仪完美融合了先进的特性、可定制的选项和易用性，可实现一流的快速、精确和可重复的非接触式3D表面计量。使用更大的FOV 500万像素数码相机和新的电动XY平台，可测量的小尺寸系统提供不打折扣的2D/3D高分辨率测量能力。ContourX-200拥有无与伦比的Z轴分辨率和精度，提供了布鲁克公司专有的白光干涉（WLI）技术的所有行业公认的优势，而没有传统共焦显微镜和竞争标准光学轮廓仪的限制。
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光源类型: CW LED, Modulated LED 样品反射率: 0.05 - 100 % 垂直范围: 10000000nm 有效值重复性: <0.01 nm 有效值精度: <0.01 nmContourX-500光学轮廓仪是世界上较全面的自动化台式系统，用于快速、非接触式3D表面计量。可测量的ContourX-500拥有无与伦比的Z轴分辨率和精度，并以更小的尺寸提供布鲁克白光干涉（WLI）落地式模型的所有行业公认的优势。从精密加工表面和半导体工艺的质量保证/质量控制（QA/QC）计量到眼科和MEMS器件的研发表征，Profiler可针对较广泛的复杂应用轻松定制。
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光源类型: CW LED 样品反射率: 1 - 1 % 有效值重复性: <0.001 nm 有效值精度: <0.001 nmTREVISTA CAM缩小了智能相机的简单应用与苛刻的表面检测任务之间的差距。它基于获得专利的TREVISTA照明，并结合了功能强大的智能相机，预装了Teledyne Dalsa的Inspect或Sherlock机器视觉软件。CVS TREVISTA Cam非常适合需要检查零件的地形和纹理细节的应用，即使它们是具有挑战性的光滑/弯曲表面或装饰零件。预先配置的系统意味着您可以立即打开包装并开始测试。
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光源类型: CW LED 样品反射率: 1 - 1 % 有效值重复性: <0.001 nm 有效值精度: <0.001 nm功能强大的CVS Trevista Flat采用了Trevista圆顶几何形状，并将其简化为平面和紧凑的格式。照明控制器集成到该单元中，使集成到检测系统中变得容易，并使价格敏感的应用成为可能。由于采用扁平设计，不仅可以检测静止物体的表面，还可以检测移动部件的表面。这开启了灵活的处理概念，如玻璃旋转板以及圆柱表面和板材的检查。CVS TREVISTA平板所使用的&aposSHAPE FROM SHADGING&apos技术使其能够检测圆柱形表面上的材料缺陷，而不受光泽和污垢的影响。这个独特的程序从物体表面的阴影中推断出物体三维形状的信息。
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光源类型: Pulsed LED 光源波长: 525nm 样品反射率: 1 - 1 % 垂直范围: 70000000nm 有效值重复性: <0.001 nmPolytec的TMS-150 TopMap Metro.Lab是一款精密白光干涉仪，具有大垂直测量范围、大视场和纳米分辨率。紧凑的3D工作站可在无接触的情况下轻松测量大型表面和结构的平整度、台阶高度和平行度，即使在柔软和精致的材料上也是如此。
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光源类型: Pulsed LED 光源波长: 525nm 样品反射率: 1 - 1 % 垂直范围: 500000nm 有效值重复性: <0.001 nmTMS-350 TopMap In.Line的紧凑设计使其能够优雅而轻松地集成到生产线中。该系统测量形状偏差，如平面度或波度，无需接触，可靠且周期短。由于不需要物镜，避免了对光学器件或样品的碰撞和损坏。由于其特殊的光学设计，白光干涉仪可在安全的工作距离内以精确的台阶高度测量深孔内的均匀表面。
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光源类型: CW LED 光源波长: 525nm 样品反射率: 1 - 1 % 垂直范围: 70000000nm 有效值重复性: <0.01 nmTMS-500 TopMap Pro.Surf和TMS-500-R TopMap Pro.Surf+是高精度、非接触式测量系统，具有大视场，可快速高效地对精密零件进行表面表征。TopMap Pro.Surf和Pro.Surf+集成了可跟踪校准的白光干涉仪，具有较大的垂直测量范围，可以精确表征陡峭边缘附近的表面，例如钻孔或具有较大台阶的零件。即使对于宏观样品，也可以快速检查平面度和平行度参数，并且具有极好的可重复性。额外的色度共焦传感器可在TopMap Pro.Surf+的单次测量中进行粗糙度评估。