概述
参数
- 光源类型 / Light Source Type : CW LED, Modulated LED
- 样品反射率 / Sample Reflectivity : 0.05 - 100 %
- 垂直范围 / Vertical Range : 10000000nm
- 有效值重复性 / RMS Repeatability : <0.01 nm
- 有效值精度 / RMS Precision : <0.01 nm
规格书
厂家介绍
智推产品
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ContourX-100三维光学轮廓仪
光学表面轮廓仪
布鲁克光谱仪器公司
光源类型: CW LED, Modulated LED 样品反射率: 0.05 - 100 %
ContourX-100光学轮廓仪以一流的价格为精确和可重复的非接触式表面计量设定了新的基准。小尺寸系统在精简的封装中提供不打折扣的2D/3D高分辨率测量能力,该封装结合了数十年专有的布鲁克白光干涉(WLI)创新技术。新一代增强功能包括新的500万像素摄像头和更新的工作台,可实现更大的拼接能力,以及新的测量模式USI,可为精密加工表面、厚膜和摩擦学应用提供更大的便利性和灵活性。没有比ContourX-100更有价值的台式系统了。
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ContourX-200三维光学轮廓仪
光学表面轮廓仪
布鲁克光谱仪器公司
光源类型: CW LED, Modulated LED 样品反射率: 0.05 - 100 %
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光学表面轮廓仪
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CVS trevista FLAT
光学表面轮廓仪
STEMMER IMAGING
光源类型: CW LED 样品反射率: 1 - 1 %
功能强大的CVS Trevista Flat采用了Trevista圆顶几何形状,并将其简化为平面和紧凑的格式。照明控制器集成到该单元中,使集成到检测系统中变得容易,并使价格敏感的应用成为可能。由于采用扁平设计,不仅可以检测静止物体的表面,还可以检测移动部件的表面。这开启了灵活的处理概念,如玻璃旋转板以及圆柱表面和板材的检查。CVS TREVISTA平板所使用的&aposSHAPE FROM SHADGING&apos技术使其能够检测圆柱形表面上的材料缺陷,而不受光泽和污垢的影响。这个独特的程序从物体表面的阴影中推断出物体三维形状的信息。
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