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CVS trevista CAM 光学表面轮廓仪

CVS trevista CAM

分类： 光学表面轮廓仪

厂家： STEMMER IMAGING

产地： 德国

更新时间： 2024-08-30 04:22:04

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概述

TREVISTA CAM缩小了智能相机的简单应用与苛刻的表面检测任务之间的差距。它基于获得专利的TREVISTA照明，并结合了功能强大的智能相机，预装了Teledyne Dalsa的Inspect或Sherlock机器视觉软件。CVS TREVISTA Cam非常适合需要检查零件的地形和纹理细节的应用，即使它们是具有挑战性的光滑/弯曲表面或装饰零件。预先配置的系统意味着您可以立即打开包装并开始测试。

参数

  • 光源类型 / Light Source Type : CW LED
  • 样品反射率 / Sample Reflectivity : 1 - 1 %
  • 有效值重复性 / RMS Repeatability : <0.001 nm
  • 有效值精度 / RMS Precision : <0.001 nm

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厂家介绍

Stemmer Imaging是欧洲较大的科学和工业成像技术提供商。创新产品、智能咨询和广泛服务的完美结合，帮助我们的客户快速轻松地解决他们的影像项目。我们经验丰富的专家可在19个欧洲国家为您提供服务，确保轻松联系和较佳的本地咨询服务。

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图片 名称 分类 制造商 参数 描述
  • ContourX-100 3D Optical Profilometer 光学表面轮廓仪 ContourX-100三维光学轮廓仪 光学表面轮廓仪 布鲁克光谱仪器公司

    光源类型: CW LED, Modulated LED 样品反射率: 0.05 - 100 %

    ContourX-100光学轮廓仪以一流的价格为精确和可重复的非接触式表面计量设定了新的基准。小尺寸系统在精简的封装中提供不打折扣的2D/3D高分辨率测量能力，该封装结合了数十年专有的布鲁克白光干涉（WLI）创新技术。新一代增强功能包括新的500万像素摄像头和更新的工作台，可实现更大的拼接能力，以及新的测量模式USI，可为精密加工表面、厚膜和摩擦学应用提供更大的便利性和灵活性。没有比ContourX-100更有价值的台式系统了。

  • ContourX-200 3D Optical Profilometer 光学表面轮廓仪 ContourX-200三维光学轮廓仪 光学表面轮廓仪 布鲁克光谱仪器公司

    光源类型: CW LED, Modulated LED 样品反射率: 0.05 - 100 %

    ContourX-200光学轮廓仪完美融合了先进的特性、可定制的选项和易用性，可实现一流的快速、精确和可重复的非接触式3D表面计量。使用更大的FOV 500万像素数码相机和新的电动XY平台，可测量的小尺寸系统提供不打折扣的2D/3D高分辨率测量能力。ContourX-200拥有无与伦比的Z轴分辨率和精度，提供了布鲁克公司专有的白光干涉（WLI）技术的所有行业公认的优势，而没有传统共焦显微镜和竞争标准光学轮廓仪的限制。

  • ContourX-500 3D Optical Profilometer 光学表面轮廓仪 ContourX-500三维光学轮廓仪 光学表面轮廓仪 布鲁克光谱仪器公司

    光源类型: CW LED, Modulated LED 样品反射率: 0.05 - 100 %

    ContourX-500光学轮廓仪是世界上较全面的自动化台式系统，用于快速、非接触式3D表面计量。可测量的ContourX-500拥有无与伦比的Z轴分辨率和精度，并以更小的尺寸提供布鲁克白光干涉（WLI）落地式模型的所有行业公认的优势。从精密加工表面和半导体工艺的质量保证/质量控制（QA/QC）计量到眼科和MEMS器件的研发表征，Profiler可针对较广泛的复杂应用轻松定制。

  • CVS trevista FLAT 光学表面轮廓仪 CVS trevista FLAT 光学表面轮廓仪 STEMMER IMAGING

    光源类型: CW LED 样品反射率: 1 - 1 %

    功能强大的CVS Trevista Flat采用了Trevista圆顶几何形状，并将其简化为平面和紧凑的格式。照明控制器集成到该单元中，使集成到检测系统中变得容易，并使价格敏感的应用成为可能。由于采用扁平设计，不仅可以检测静止物体的表面，还可以检测移动部件的表面。这开启了灵活的处理概念，如玻璃旋转板以及圆柱表面和板材的检查。CVS TREVISTA平板所使用的&aposSHAPE FROM SHADGING&apos技术使其能够检测圆柱形表面上的材料缺陷，而不受光泽和污垢的影响。这个独特的程序从物体表面的阴影中推断出物体三维形状的信息。

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