德国Bruker Optics测试和测量产品目录

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分类：光学表面轮廓仪

厂商：布鲁克光谱仪器公司

光源类型: CW LED, Modulated LED 样品反射率: 0.05 - 100 % 垂直范围: 10000000nm 有效值重复性: <0.01 nm 有效值精度: <0.01 nm

ContourX-100光学轮廓仪以一流的价格为精确和可重复的非接触式表面计量设定了新的基准。小尺寸系统在精简的封装中提供不打折扣的2D/3D高分辨率测量能力，该封装结合了数十年专有的布鲁克白光干涉（WLI）创新技术。新一代增强功能包括新的500万像素摄像头和更新的工作台，可实现更大的拼接能力，以及新的测量模式USI，可为精密加工表面、厚膜和摩擦学应用提供更大的便利性和灵活性。没有比ContourX-100更有价值的台式系统了。

ContourX-200三维光学轮廓仪

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分类：光学表面轮廓仪

厂商：布鲁克光谱仪器公司

光源类型: CW LED, Modulated LED 样品反射率: 0.05 - 100 % 垂直范围: 10000000nm 有效值重复性: <0.01 nm 有效值精度: <0.1nm

ContourX-200光学轮廓仪完美融合了先进的特性、可定制的选项和易用性，可实现一流的快速、精确和可重复的非接触式3D表面计量。使用更大的FOV 500万像素数码相机和新的电动XY平台，可测量的小尺寸系统提供不打折扣的2D/3D高分辨率测量能力。ContourX-200拥有无与伦比的Z轴分辨率和精度，提供了布鲁克公司专有的白光干涉（WLI）技术的所有行业公认的优势，而没有传统共焦显微镜和竞争标准光学轮廓仪的限制。

ContourX-500三维光学轮廓仪

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分类：光学表面轮廓仪

厂商：布鲁克光谱仪器公司

光源类型: CW LED, Modulated LED 样品反射率: 0.05 - 100 % 垂直范围: 10000000nm 有效值重复性: <0.01 nm 有效值精度: <0.01 nm

ContourX-500光学轮廓仪是世界上较全面的自动化台式系统，用于快速、非接触式3D表面计量。可测量的ContourX-500拥有无与伦比的Z轴分辨率和精度，并以更小的尺寸提供布鲁克白光干涉（WLI）落地式模型的所有行业公认的优势。从精密加工表面和半导体工艺的质量保证/质量控制（QA/QC）计量到眼科和MEMS器件的研发表征，Profiler可针对较广泛的复杂应用轻松定制。

MATRIX-F FT-NIR光谱仪

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分类：光谱分析仪

厂商：布鲁克光谱仪器公司

标准测量范围: 400 - 7000 cm-1 最大分辨率: 1cm-1

MATRIX-F是一款专用的FT-NIR过程光谱仪，可直接承受恶劣环境。该仪器采用较先进的光学器件，在紧凑的模块中具有出色的灵敏度和稳定性。其创新设计提供了一致的高质量结果、更少的停机时间、直接的方法转移以及新应用的可能性，这是灵敏度和精度较低的仪器无法做到的。完全支持行业标准通信协议，确保轻松集成。MATRIX-F也可以作为方法开发的独立系统安装在实验室中，然后直接移动到您的过程应用程序中。它是一个带有NEMA 4/IP66（防溅）外壳的独立式装置，但也可以安装在温控柜中的标准19英寸机架中。MATRIX-F可配备6端口光纤复用器。

MATRIX-MF FTIR光谱仪

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分类：光谱分析仪

厂商：布鲁克光谱仪器公司

标准测量范围: 400 - 7000 cm-1 最大分辨率: 1cm-1

Matrix系列屡获殊荣的设计将光学器件保护在专用的密封隔间中。永久对齐的RockSolid™干涉仪和Digitect™探测器电子设备可确保高质量的光谱，即使在较恶劣的环境中也是如此。虽然该仪器是为过程环境设计的，但其小尺寸也使其成为实验室应用的理想仪器。

MPA II

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分类：光谱分析仪

厂商：布鲁克光谱仪器公司

在解决特定分析任务时，选择理想的取样技术至关重要。布鲁克公司的 MPA II 为用户的日常质量保证/质量控制工作以及复杂的方法开发研究提供了全面的解决方案。开始时，用户往往不清楚哪种取样方法最理想。有了 MPA II，只需运行几种方法，然后选择最合适的选项即可。由于 MPA II 采用模块化设计，因此可以很容易地根据用户需求对仪器进行改装。仪器坚固耐用，既可用于实验室，也可用于工厂车间。它甚至可以放置在多功能推车上进行移动应用。

INVENIO

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分类：光谱仪

厂商：布鲁克光谱仪器公司

布鲁克公司的 INVENIO 是一款入门级研发傅立叶变换红外光谱仪，设计用于处理具有挑战性的分析和研发应用。先进的技术和巧妙的设计为下一代傅立叶变换红外光谱仪设定了标准。其独特的光束路径提供了从红外到紫外/可见光的宽光谱范围、优秀的信噪比和较大的灵活性，适用于高级实验设置。

BRAVO

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分类：光谱仪

厂商：布鲁克光谱仪器公司

出色的性能和设计、由大型触摸屏支持的直观图形用户界面 (GUI)--BRAVO 是一款专用的手持式拉曼解决方案，可大限度地加快原料鉴定速度。

IFS 125

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分类：光谱仪

厂商：布鲁克光谱仪器公司

IFS 125/HR 和新型 IFS 125/M 移动光谱仪是进行高分辨率光谱分析的绝佳仪器。

EM27

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分类：光谱仪

厂商：布鲁克光谱仪器公司

开路气体分析仪 EM27 是一种宽带红外探测系统，用于遥感大气中的有害化合物。该系统性能卓越，可进行实时现场筛选分析（分析时间小于 1 秒）。该系统重量轻，包括一个基于成熟的布鲁克 RockSolid™ 干涉仪的红外辐射分析仪。内部校准源可对辐射测量进行自检和自校准。由于传感器模块的新颖设计，该系统可抵御机械冲击、振动和极端温度。它经过加固，可在恶劣环境中进行现场操作。

SiBrickScan (SBS)

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分类：光谱分析仪

厂商：布鲁克光谱仪器公司

布鲁克公司的 SiBrickScan (SBS) 是一种专用的在线系统，用于对完整硅锭中的间隙氧进行傅立叶变换红外定量，从而得到沿纵轴的浓度曲线。无需锯开硅片或测试样品即可获得这些信息，这被认为是节省成本的一大优势。

VERTEX 80/80v

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分类：光谱仪

厂商：布鲁克光谱仪器公司

布鲁克公司的 VERTEX 80 和 VERTEX 80v 真空傅立叶变换红外光谱仪基于主动对准的 UltraScan™ 干涉仪，可提供 PEAK 光谱分辨率。精确的线性空气轴承扫描器和 PEAK 质量的光学器件确保了极高的稳定性和灵敏度。

CryoSAS

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分类：光谱分析仪

厂商：布鲁克光谱仪器公司

布鲁克光学公司的低温硅分析系统 (CryoSAS) 是用于硅的低温（<15K）杂质分析的一体化系统。CryoSAS 可在工业环境下运行。 CryoSAS 将布鲁克公司的高性能傅立叶变换红外光谱仪与无需液氦的集成式封闭循环低温冷却方法相结合。CryoSAS 的所有组件都非常精密，利用成熟的技术在充满挑战的硅生产环境中完成高难度分析。 CryoSAS 可实现高度自动化操作，包括准确报告分析结果。

ALPHA II

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分类：光谱仪

厂商：布鲁克光谱仪器公司

傅立叶变换红外光谱仪 ALPHA II 集出色的质量、紧凑的结构和最大的用户舒适度于一身。通过集成的触摸屏 PC 和直观的 OPUS-TOUCH 软件，红外分析变得前所未有的简单。专门的工作流程引导操作人员在最少的步骤内完成从样品测量到分析报告的整个过程。 ALPHA II 是非常成功的 ALPHA 光谱仪的增强型后续型号。通过多项技术创新，ALPHA II 实现了更高的灵敏度、更高的光谱分辨率、更宽的光谱范围和更强的稳定性。