已选
- 德国
- Micro-Epsilon
子分类:
- 干涉仪(115)
- 激光功率计(239)
- 单色仪(11)
- 光学延迟线(14)
- 光功率计(64)
- 光谱分析仪(104)
- 光波长计(35)
- 光谱仪(875)
- 激光雷达(29)
- 扫描仪和测距仪(24)
- 气体分析(47)
- 光学池(79)
- 光束分析仪配件(20)
- 光束分析仪(46)
- 激光能量计(82)
- 普通显微镜(60)
- 显微镜配件(25)
- 位移测量计(17)
- 计量配件(19)
- 光学表面轮廓仪(17)
- 孔探仪(39)
- 脉冲发生器(20)
- 太赫兹成像(4)
- 太赫兹时域(13)
- 其他分类测量仪器(19)
- 光纤检测工具(28)
- 脉冲诊断器件(30)
- 激光扫描和测距(9)
- 光束分析(5)
- 光学检测(14)
- 显微镜(12)
- 光纤测试与测量(3)
- 尺寸测量(1)
- 散热解决方案(20)
品牌:
- 3-Edge
- Dr Heinrich Schneider Messtechnik GmbH
- HÜBNER Photonics
- Hofbauer Optik Mess- & Prüftechnik
- INSION GmbH
- JETI Technische Instrumente GmbH
- LOT-QuantumDesign GmbH
- Metrolux GmbH
- PE Schall GmbH & Co KG
- PicoQuant
- Polytec GmbH
- SmarAct
- Zeutec Opto-Elektronik GmbH
- APE Angewandte Physik & Elektronik GmbH
- Artifex Engineering GmbH & Co. KG
- 法兰克福激光公司
- HP Spectroscopy
- HighFinesse
- Instrument Systems
- Laser Components
- Menlo Systems
- Micro-Epsilon
- PRIMES
- RGB Photonics
- SphereOptics GmbH
- STEMMER IMAGING
- TOPAG Lasertechnik GmbH
- TOPTICA Photonics
- TRIOPTICS GmbH
- XONOX Technology GmbH
- 布鲁克光谱仪器公司
光电查为您提供3个产品。下载资料,获取报价,实现功能、价格及供应的优化选择。
-
类型: White light interferometer 测量类型: Thickness 波长: 840 nm 应用: Thickness Measurement
Micro-Epsilon的IMS5400-TH45是一款白光干涉仪,专为工业厚度测量而设计。它可以测量0.035-1.4毫米的厚度,测量距离可达45毫米,频率可在100赫兹至6千赫兹之间连续调节。该干涉仪具有波长为840nm的NIR-SLED光源,甚至可以测量光学非致密物体(如抗反射镀膜玻璃)的厚度。IMS5400-TH45提供了与距离无关的测量的决定性优势,从而获得稳定的纳米精度厚度值。目标可以在其测量范围内移动而不影响精度。该干涉仪的厚度测量范围还允许测量薄层、平板玻璃和薄膜。它需要24 V直流电源,功耗为10 W.该干涉仪采用尺寸为Φ10 X 55 mm的铝制外壳。
-
类型: White light interferometer 测量类型: Thickness 波长: 840 nm 应用: Thickness Measurement
Micro-Epsilon的IMS5400-TH70是一款白光干涉仪,专为工业厚度测量而设计。它可以测量0.035-1.4毫米的厚度,测量距离可达70毫米,连续可调速率为100赫兹至6千赫兹。该干涉仪具有波长为840nm的NIR-SLED光源,甚至可以测量光学非致密物体(如抗反射镀膜玻璃)的厚度。IMS5400-TH70提供了与距离无关的测量的决定性优势,从而获得稳定的纳米精度厚度值。目标可以在其测量范围内移动而不影响精度。该干涉仪的厚度测量范围还允许测量薄层、平板玻璃和薄膜。它需要24 V的直流电源,功耗为10 W.该干涉仪采用尺寸为Φ10 X 55 mm的铝制外壳。