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IMS5400-TH45 干涉仪

IMS5400-TH45

分类： 干涉仪

厂家： Micro-Epsilon

产地： 德国

型号： IMS5400-TH45

更新时间： 2024-08-27 18:31:53

简介：

White Light Interferometer for Stable Thickness Measurement

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概述

Micro-Epsilon的IMS5400-TH45是一款白光干涉仪，专为工业厚度测量而设计。它可以测量0.035-1.4毫米的厚度，测量距离可达45毫米，频率可在100赫兹至6千赫兹之间连续调节。该干涉仪具有波长为840nm的NIR-SLED光源，甚至可以测量光学非致密物体（如抗反射镀膜玻璃）的厚度。IMS5400-TH45提供了与距离无关的测量的决定性优势，从而获得稳定的纳米精度厚度值。目标可以在其测量范围内移动而不影响精度。该干涉仪的厚度测量范围还允许测量薄层、平板玻璃和薄膜。它需要24 V直流电源，功耗为10 W.该干涉仪采用尺寸为Φ10 X 55 mm的铝制外壳。

参数

  • 类型 / Type : White light interferometer
  • 测量类型 / Measurement Type : Thickness
  • 波长 / Wavelength : 840 nm
  • 应用 / Applications : Thickness Measurement

规格书

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厂家介绍

Micro-Epsilon是全球领先的传感器制造商之一。50多年来，我们不断提供可靠、高性能、独特的解决方案，尤其是在需要高精度测量或检测时。我们的产品范围包括用于测量距离和位移的传感器，用于红外温度测量和颜色检测的传感器，以及用于尺寸测量和缺陷检测的系统。提供较高精度水平的创新产品是通过密集的研发流程、独特的专业知识和广泛的协作运营网络创造出来的，这对于这种高性能测量系统至关重要。我们明白，我们的客户是我们的业务合作伙伴，这为双方创造了双赢局面。我们的产品经常为客户提供真正的竞争优势。然而，只有当产品具有更高的精度，从而提供明确的、决定性的竞争优势时，才会出现这种情况。更精确地。

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    干涉仪配置: Not Specified 光源: Not Specified 输出极化: Not Specified

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