什么是白光干涉仪(White Light Interferometers)?
白光干涉仪是利用光束之间的干涉效应的设备。当从样品反射的光与高精度参考镜反射的光叠加时,就会发生干涉。
高精度测量 光学元件 白光干涉仪 Heliotis 3D检测 工业质量检测
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概述
参数
应用
1. 工业质量检测 2. 生物医学 3. 安全解决方案
特征
1. 干涉测量精度 2. 结构坚固 3. 高通量 4. 模块化架构 5. 定制功能扩展
详述
规格书
厂家介绍
相关产品
干涉仪配置: Not Specified 光源: 632 nm or 633nm 输出极化: Not Specified
3D-Scope V2是Data-Pixel发布的较新干涉仪,用于生产环境。它的设计考虑了速度、精度、简单性、鲁棒性和成本,除了自动化和控制命令外,还通过USB2.0高速链路将非压缩、实时和高质量的图像从硬件传输到软件。3Dscope V2是便携式的,仅通过一个USB链接(包括电源)即可连接到笔记本电脑或台式电脑。所有校准步骤都是自动化的,并嵌入到用户友好的软件界面中,以产生无误差和可靠的测量结果。
干涉仪配置: Twyman–Green Interferometer 光源: 632 nm or 633nm, 355nm, 532nm, 1053nm, 1064nm, 1550nm, 10.6um 输出极化: Circular
Accufiz Fizeau干涉仪提供无与伦比的性能、质量和价值组合,用于精确、可重复测量表面形状和透射波前质量。Accufiz激光干涉仪非常容易在有限的实验室空间中使用。紧凑、轻便的设计具有极高的刚性,可在任何方向或环境中实现较大的稳定性。波长范围为355 nm至1.064µm,孔径范围为33至800 mm,采用水平和垂直安装配置,为各种应用和预算提供了合适的选择。可选的600万像素高分辨率相机可捕捉任何商用干涉仪的较高斜率。测量非球面、自由曲面光学元件和高度像差元件。可选的表面隔离源(SIS)增加了测量平面平行光学器件的能力,无需涂层或背面处理以消除不必要的反射。在薄至300µm的光学器件上量化形状光学厚度、透射波前误差和均匀性。
干涉仪配置: Not Specified 光源: Not Specified 输出极化: Not Specified
空气间隔标准具具有适当等级的熔融石英(UV-可见或IR)基底。衬底上的面外AR涂层和楔形物防止形成无关的干涉图案。与基底光学接触的垫片决定了镜面的平行度和标准具的自由光谱范围。根据应用,间隔物可以是熔融石英或低热膨胀材料,例如ZeroDur或Ule。
干涉仪配置: Not Specified 光源: Not Specified 输出极化: Not Specified
AZP 200 HP是一款适用于许多光学生产领域的较佳多功能固井装置。由于各种安装和选项,AZP 200 HP可以完美地适应所有特殊的固井和定心任务。
干涉仪配置: Not Specified 光源: Not Specified 输出极化: Not Specified
Data-Pixel开发了一条经济高效的干涉仪生产线,可在不影响精度或性能的情况下进行大批量生产。基于我们丰富的干涉仪制造经验,我们将Daffi MT设计为坚固、快速和精确,以满足所有制造或实验室环境。借助BLINK软件平台,Daffi能够测量多光纤连接器和套圈的端面几何形状。Daffi干涉仪附件(法兰和适配器)与DAISI系列完全兼容,允许用户限制3D几何测量单元的成本。BLINK是所有Data-Pixel产品通用的软件平台。专用插件支持干涉测量系列产品:3D Scope-V2、Daffi SF、Daisi-V3、Daffi MT和Daisi MT FP。PDF、HTML和CSV报告功能,具有广泛的数据库支持(SQL Server、MySQL、ODBC、Oracle等).OLE自动化支持可用于专用应用程序。
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Twyman-Green干涉仪是用于测试光学元件的干涉仪。它是由Frank Twyman和Arthur Green在1916年发明的。
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