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heliOptics WLI6 干涉仪
精品

heliOptics WLI6

分类: 干涉仪

厂家: Heliotis AG

产地: 瑞士

更新时间: 2024-08-29 06:32:38

高精度测量 光学元件 白光干涉仪 Heliotis 3D检测 工业质量检测

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概述

HelioSpetTM H6的设计可满足较苛刻的3D在线检测任务的规格,如测量台阶高度、角度、形状、粗糙度、波纹、波度、缺陷、划痕、磨损平整度、共面性、变形膜厚度(层析成像模式)。得益于Heliotis在工业应用3D传感器方面的长期经验,H6将干涉测量精度与鲁棒性和高吞吐量相结合。

参数

  • 干涉仪配置 / Interferometer Configuration : Twyman–Green Interferometer
  • 光源 / Light Source : White Light
  • 输出极化 / Output Polarization : Not Specified
  • 有效值重复性 / RMS Repeatability : <0.01 waves
  • 有效值精度 / RMS Precision : <0.005 waves

应用

1. 工业质量检测 2. 生物医学 3. 安全解决方案

特征

1. 干涉测量精度 2. 结构坚固 3. 高通量 4. 模块化架构 5. 定制功能扩展

详述

heliInspect™ H6是一款由Heliotis AG推出的高精度工业白光干涉仪,专为满足最苛刻的3D在线检测任务而设计。它能够测量台阶高度、角度、形状、粗糙度、波纹、波动、缺陷、划痕、磨损、平整度、共面性、变形和薄膜厚度。产品具有干涉测量精度、结构坚固、高通量等特点,特别适用于工业质量检测、生物医学和安全解决方案等领域。其模块化架构和定制功能扩展使其成为系统集成商和设备制造商的理想选择。

规格书

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厂家介绍

Heliotis开发、制造和分销用于工业质量控制的光学3D测量技术。我们的核心竞争力在于CMOS图像传感器、基于FPGA的摄像机和光学测量技术的开发。得益于对研发的可持续投资,我们的3D传感器是世界上较精确、较快的非接触式传感器之一。半导体、消费电子和汽车电子以及医疗技术的领先制造商依赖于我们产品的精度和可靠性。 联系我们讨论您的具体测试或检验应用。受益于我们专家的长期经验。当然,小型咨询和测试测量是免费的。如果需要,我们还将帮助您将我们的产品集成到您的应用程序中。

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图片 名称 分类 制造商 参数 描述
  • 3DScope-V2 Interferometer 干涉仪 3DScope-V2干涉仪 干涉仪 Connected Fibers

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    干涉仪配置: Twyman–Green Interferometer 光源: 632 nm or 633nm, 355nm, 532nm, 1053nm, 1064nm, 1550nm, 10.6um 输出极化: Circular

    Accufiz Fizeau干涉仪提供无与伦比的性能、质量和价值组合,用于精确、可重复测量表面形状和透射波前质量。Accufiz激光干涉仪非常容易在有限的实验室空间中使用。紧凑、轻便的设计具有极高的刚性,可在任何方向或环境中实现较大的稳定性。波长范围为355 nm至1.064µm,孔径范围为33至800 mm,采用水平和垂直安装配置,为各种应用和预算提供了合适的选择。可选的600万像素高分辨率相机可捕捉任何商用干涉仪的较高斜率。测量非球面、自由曲面光学元件和高度像差元件。可选的表面隔离源(SIS)增加了测量平面平行光学器件的能力,无需涂层或背面处理以消除不必要的反射。在薄至300µm的光学器件上量化形状光学厚度、透射波前误差和均匀性。

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    干涉仪配置: Not Specified 光源: Not Specified 输出极化: Not Specified

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    干涉仪配置: Not Specified 光源: Not Specified 输出极化: Not Specified

    AZP 200 HP是一款适用于许多光学生产领域的较佳多功能固井装置。由于各种安装和选项,AZP 200 HP可以完美地适应所有特殊的固井和定心任务。

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    干涉仪配置: Not Specified 光源: Not Specified 输出极化: Not Specified

    Data-Pixel开发了一条经济高效的干涉仪生产线,可在不影响精度或性能的情况下进行大批量生产。基于我们丰富的干涉仪制造经验,我们将Daffi MT设计为坚固、快速和精确,以满足所有制造或实验室环境。借助BLINK软件平台,Daffi能够测量多光纤连接器和套圈的端面几何形状。Daffi干涉仪附件(法兰和适配器)与DAISI系列完全兼容,允许用户限制3D几何测量单元的成本。BLINK是所有Data-Pixel产品通用的软件平台。专用插件支持干涉测量系列产品:3D Scope-V2、Daffi SF、Daisi-V3、Daffi MT和Daisi MT FP。PDF、HTML和CSV报告功能,具有广泛的数据库支持(SQL Server、MySQL、ODBC、Oracle等).OLE自动化支持可用于专用应用程序。

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