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  Neurolucida 360自动三维神经元重建和定量分析

  美国

  分类：显微镜配件

  厂商：MBF Bioscience

  NeuroLucida360是神经科学家使用的首要工具，用于快速准确地重建复杂的神经元结构，范围从复杂的多细胞神经元网络到亚细胞树突棘和假定的突触。凭借分析特定神经元结构（如轴突、基底树突、顶端树突和携带轴突的树突）的复杂性，您可以完全重建和分析任何物种的任何神经元。较先进的图像检测算法使您能够使用各种标记和显微镜技术自信地重建细胞。无论您是否对分析单个神经元或神经元之间的相互作用感兴趣，请了解为什么NeuroLucida 360在自动神经元重建方面远远超过所有其他软件！

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  焦距范围

  美国

  分类：显微镜配件

  厂商：Sunrise Optical LLC

  SUNRISE OPTICAL LLC（http：//zebraoptical.com）开发了一种光学免疫机械振动和杂散光。粗糙或特征丰富样品的精密形貌测量工具。精密压电台。然后使用专有算法对散焦图像进行分析，以恢复样品的形貌和粗糙度。该装置作为标准斑马光学显微镜系统的附件出售。技术类似于我们的标准手册中的小飞溅计量工具。

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  定制设计的高N.A.目标 54-22-30 767-852nm

  美国

  分类：显微镜配件

  厂商：Special Optics

  特殊光学物镜的设计是由我们客户的要求和应用驱动的。OEM仪器制造商和研究团体开发的创新想法和非常规解决方案无法得到商用现成显微镜目标的支持。我们支持客户在生命科学研究、生命科学OEM仪器、半导体、光片显微镜、双光子、多光子和物理科学研究中推动显微镜的极限。我们的专长是设计具有衍射限制性能的多元件高数值孔径精密组件，以及具有中等分辨率要求的单波长采样目标，需要商业公差组装技术。

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  定制设计的高N.A.物镜 54-33-22 920-1040nm

  美国

  分类：显微镜配件

  厂商：Special Optics

  特殊光学物镜的设计是由我们客户的要求和应用驱动的。由OEM仪器制造商和研究团体开发的创新想法和非常规解决方案无法得到商用现成显微镜目标的支持。我们支持客户在生命科学研究、生命科学OEM仪器、半导体、光片显微镜、双光子、多光子和物理科学研究中推动显微镜的极限。我们的专长是设计具有衍射限制性能的多元件高数值孔径精密组件，以及具有中等分辨率要求的单波长采样目标，需要商业公差组装技术。

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  定制设计的高N.A.物镜55-S10-3 1030nm

  美国

  分类：显微镜配件

  厂商：Special Optics

  特殊光学物镜的设计是由我们客户的要求和应用驱动的。OEM仪器制造商和研究团体开发的创新想法和非常规解决方案无法得到商用现成显微镜目标的支持。我们支持客户在生命科学研究、生命科学OEM仪器、半导体、光片显微镜、双光子、多光子和物理科学研究中推动显微镜的极限。我们的专长是设计具有衍射限制性能的多元件高数值孔径精密组件，以及具有中等分辨率要求的单波长采样目标，需要商业公差组装技术。

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  MCS MOM计算机系统和软件

  美国

  分类：显微镜配件

  厂商：Sutter Instrument

  MOM计算机系统（MCS）包括软件包MSCAN。该程序被设计为使用常规或共振扫描仪无缝控制双光子成像，同时结合光刺激和电生理学。虽然专为MOM显微镜设计，但它也与其他双光子平台兼容。MCS设计用于在深层组织活体成像中进行复杂的实验。其直观的用户界面易于使用。MCS软件包和MOM共同构成了一个强大的工具，用于理解神经科学、免疫学或肿瘤学中较复杂的问题。重要的是，您将在MCS中发现相同的技术卓越标准，这是所有Sutter仪器产品的标志。开发了MSCAN 2.0软件来简化复杂成像实验中固有的许多任务。MSCAN 2.0是广泛的多线程，以利用多核处理器。这确保了可靠性和用户界面响应性。此外，MSCAN是基于多用户的，以便于实验者之间共享具有MCS的MOM显微镜。然后，实验者可以将他们的数据发送到其他工作站进行分析。MCS分析程序视图可在Sutter仪器网站上免费下载。MCS包括一个Windows 7工作站、National Instruments数据采集板、一个USB摄像头和一个USB控制的MPC-200。National Instruments板包括用于成像的PCI-6110板、用于控制成像和光刺激激光功率的PCIe-6353板以及用于电生理学的PCIe-6321板。该软件包是一个交钥匙系统，因为所有数据采集板和软件都安装在工作站内。MSCAN中的一个重要功能是能够通过子像素线偏移调整进行双向帧扫描。传统的双光子帧扫描涉及单向扫描。在这些情况下，仅在沿一个方向扫描样品时记录数据。为了提高数据采集的速率，需要尽可能快地将激光束引导回扫描原点，以开始下一行。由于在这些高频运动期间，振镜扫描仪的负担较重，并且较有可能被损坏，因此双向扫描既提高了记录帧的速度，又降低了损坏昂贵的振镜的可能性。

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  FX - 3十字线目镜10X

  美国

  分类：显微镜配件

  厂商：Titan Tool Supply

  FX-3十字线目镜10倍。

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  FX-3十字线目镜20X

  美国

  分类：显微镜配件

  厂商：Titan Tool Supply

  FX-3十字线目镜20倍。

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  FX - 3额外目镜对20X

  美国

  分类：显微镜配件

  厂商：Titan Tool Supply

  FX-3额外目镜对20X。

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  HPB- 40按钮样品

  美国

  分类：位移测量计

  厂商：Capacitec Inc

  测量范围: 0.51 - 1.02 mm

  Capacitec的HPB薄型“侧视”钮扣式探头设计用于测量紧密或隐蔽接入位置的位移和零件尺寸变化，以观察接地目标。Button系列探头特别适合放置在非常小的位置，低至0.025英寸（0.65毫米），用于检查薄间隙。探针通常成对使用，以补偿零件未对准和量规定位。Capacitec可以用非接触式“电子测量仪”取代现有的机械接触测量方法，从而提高准确度、可重复性和精度。HPB按钮探头可在宽工作温度范围内进行从低温到1000°C的精确位移测量。Capacitec专门提供定制配置，包括将探头安装到客户的组件和固定装置中的服务。有关更多信息，请咨询Capacitec技术支持团队。

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  HPB- 75按钮样品

  美国

  分类：位移测量计

  厂商：Capacitec Inc

  测量范围: 1.27 - 1.91 mm

  Capacitec的HPB薄型“侧视”钮扣式探头设计用于测量紧密或隐蔽接入位置的位移和零件尺寸变化，以观察接地目标。Button系列探头特别适合放置在非常小的位置，低至0.025英寸（0.65毫米），用于检查薄间隙。探针通常成对使用，以补偿零件未对准和量规定位。Capacitec可以用非接触式“电子测量仪”取代现有的机械接触测量方法，从而提高准确度、可重复性和精度。HPB按钮探头可在宽工作温度范围内进行从低温到1000°C的精确位移测量。Capacitec专门提供定制配置，包括将探头安装到客户的组件和固定装置中的服务。有关更多信息，请咨询Capacitec技术支持团队。

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  os5000光学位移计

  美国

  分类：位移测量计

  厂商：Luna Innovations

  测量范围: 0 - 12 mm 测量分辨率: 0.02%

  基于光纤布拉格光栅（FBG）技术，OS5000专门设计用于测量试样表面上两个测量点之间的位移。测量仪的设计非常灵活，可以方便地连接到各种基底上，直接在金属、混凝土和其他表面上进行测量。构成OS5000测量仪的FBG传感器位于坚固的硬质涂层阳极氧化铝外壳内，该外壳可保护传感器免受恶劣环境的影响，并允许在恶劣环境中安装。该测量仪可单独使用，也可作为FBG传感器阵列（可包括应变和温度测量仪、加速度计和其他位移测量仪）的一部分串联使用。与类似的电子仪表网络相比，这种阵列的布线成本低得多，也不那么麻烦。电缆可以直接在外壳内连接，无需单独的接线盒。OS5000提供了所有基于FBG的传感器所固有的许多优势，包括EMI抗扰度——这是振弦式测量仪无法提供的。对于每个测量仪，Micron Optics都提供了传感器信息表，列出了将波长信息转换为工程单位所需的测量仪系数和校准系数。Micron Optics的EnLight传感软件为大型传感器网络提供了计算、记录、显示和传输数据的工具。

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  os5100 光学位移计

  美国

  分类：位移测量计

  厂商：Luna Innovations

  测量范围: 0 - 50 mm

  基于光纤布拉格光栅（FBG）技术，OS5100专门设计用于测量试样表面上两个测量点之间的位移。测量仪的设计非常灵活，可以方便地连接到各种基底上，直接在金属、混凝土和其他表面上进行测量。构成OS5100测量仪的两个FBG传感器位于坚固的硬质涂层阳极氧化铝外壳内，该外壳可保护传感器免受恶劣环境的影响，并允许在恶劣环境中安装。该测量仪可以单独使用，也可以作为FBG传感器阵列（可包括应变和温度测量仪、加速度计和其他位移测量仪）的一部分串联使用。与类似的电子仪表网络相比，这种阵列的布线成本低得多，也不那么麻烦。电缆可以直接在外壳内连接，无需单独的接线盒。OS5100提供了所有基于FBG的传感器所固有的许多优势，包括EMI抗扰度——这是振弦式测量仪无法提供的。对于每个测量仪，Micron Optics都提供了一份传感器信息表，列出了将波长信息转换为工程单位所需的测量仪系数和校准系数。Micron Optics的EnLight传感软件为大型传感器网络提供了计算、记录、显示和传输数据的工具。

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  os5500长程光学位移计

  美国

  分类：位移测量计

  厂商：Luna Innovations

  测量范围: 0 - 450 mm 测量分辨率: 0.02%

  基于光纤布拉格光栅（FBG）技术，OS5500专门设计用于测量试样表面上两个测量点之间的位移。测量仪的设计非常灵活，可以方便地连接到各种基底上，直接在金属、混凝土和其他表面上进行测量。由OS5500测量仪组成的FBG传感器位于坚固的硬质涂层阳极氧化铝外壳内，该外壳可保护传感器免受恶劣环境的影响，并允许在恶劣环境中安装。该测量仪可以单独使用，也可以作为FBG传感器阵列（可包括应变和温度测量仪、加速度计和其他位移测量仪）的一部分串联使用。与类似的电子仪表网络相比，这种阵列的布线成本低得多，也不那么麻烦。电缆可以直接在外壳内连接，无需单独的接线盒。OS5500提供了所有基于FBG的传感器所固有的许多优势，包括EMI抗扰度——这是振弦式测量仪无法提供的。对于每个测量仪，Micron Optics都提供了一份传感器信息表，列出了将波长信息转换为工程单位所需的测量仪系数和校准系数。Micron Optics的EnLight传感软件为大型传感器网络提供了计算、记录、显示和传输数据的工具。

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  1730A数字线性测量仪传感器

  美国

  分类：位移测量计

  厂商：Ono Sokki Technology Inc

  测量范围: 30 - 30 mm 测量分辨率: 10um%

  本发明提供了一种易于安装在当前生产设备中的紧凑且轻便的数字线性量规传感器。仪表采用符合IP64防护等级的防尘、防溅结构，可承受恶劣环境。适用于多尘环境和易受滴水和尖刺影响的区域。耐久性测试表明，所有型号均可使用超过650万次滑动。我们在不牺牲耐用性的情况下实现了高精度。

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  1813A数字线性测量仪传感器

  美国

  分类：位移测量计

  厂商：Ono Sokki Technology Inc

  测量范围: 13 - 13 mm 测量分辨率: 1um%

  本发明提供了一种易于安装在当前生产设备中的紧凑且轻便的数字线性量规传感器。仪表采用符合IP64防护等级的防尘、防溅结构，可承受恶劣环境。适用于多尘环境和易受滴水和尖刺影响的区域。耐久性测试表明，所有型号均可使用超过650万次滑动。我们在不牺牲耐用性的情况下实现了高精度。

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  GS-1713A 数字线性测量仪传感器

  美国

  分类：位移测量计

  厂商：Ono Sokki Technology Inc

  测量范围: 13 - 13 mm 测量分辨率: 10um%

  本发明提供了一种易于安装在当前生产设备中的紧凑且轻便的数字线性量规传感器。仪表采用符合IP64防护等级的防尘、防溅结构，可承受恶劣环境。适用于多尘环境和易受滴水和尖刺影响的区域。耐久性测试表明，所有型号均可使用超过650万次滑动。我们在不牺牲耐用性的情况下实现了高精度。

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  激光多普勒位移仪MCV-500

  美国

  分类：位移测量计

  厂商：Optodyne Inc

  测量范围: 15000 - 15000 mm

  Optodyne的MCV-500紧凑型线性机器校准系统可校准CNC机床、CMM（坐标测量机）和其他精密测量机和工作台。这种新型紧凑型校准系统基于专利激光多普勒位移计（LDDMT）技术，易于设置和操作。包括Windows软件、自动补偿（补偿空气温度、气压和材料热膨胀）和附件在内的基本系统以极其实惠的价格打包。该系统非常紧凑，可装入一个小手提箱中。WindowsTM软件可在任何IBM兼容计算机上运行，用户界面友好，旨在根据各种行业标准（如NMTBA、VDI、ISO和ASME B5.54）收集和分析数据。激光系统经过校准，并可追溯到NIST。

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  激光多普勒位移仪VS-5000

  美国

  分类：位移测量计

  厂商：Optodyne Inc

  测量范围: 0.0000025 - 0.005 mm

  Optodyne的VS-5000系列振动传感器是一种非接触式、高灵敏度的位移、速度和加速度测量方法。作为机械振动的存储示波器，VS-5000满足微电子、航空航天、汽车和研发应用的精密工程要求。单轴（VS-5010）或双轴（VS-5020）系统的测量精度为±0.5 ppm，分辨率为±0.05微英寸，速度高达200英寸/秒，频率响应从Do到400 kHz。该双轴系统（VS-5020）具有极高的信噪比，允许用户同时测量目标和背景现象，同时保持每次测量的完整性。

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  CDX-L15A超高精度激光位移传感器

  美国

  分类：位移测量计

  厂商：Ramco Innovations Inc

  测量范围: 110 - 190 mm 测量分辨率: 0.25%

  利用传统的图像传感器，对快门的反馈控制不能跟上由工件颜色的变化引起的接收光级的突然变化，将导致瞬间不能执行测量，从而导致响应延迟。借助新开发的ATMOS图像传感器，可以在无需反馈控制的情况下进行测量，这得益于业界首创的算法。由于消除了瞬时无法执行测量和响应延迟，现在可以进行实时测量。