全部产品分类
CIAO VIS 图像传感器

CIAO VIS

分类: 图像传感器

厂家: Axiom Optics

产地: 美国

型号: CIAO VIS

更新时间: 2025-01-03 14:42:03

高分辨率成像 光谱测量 自适应光学 空间态势感知

立即咨询 获取报价 获取报价 下载规格书 下载规格书
收藏 收藏

概述

CIAO VIS是一款紧凑型创新自适应光学附加设备,旨在提升望远镜的性能,兼容扩展光源,适用于高分辨率成像。

参数

  • HASO波前传感器微透镜数量 / Nb Of Microlenses : 13x13
  • HASO精度 / HASO Accuracy : 6nm RMS
  • HASO重复性@550nm@200ph/微透镜 / HASO Repeatability @550nm @200ph/Microlens : 30nm RMS
  • 光谱范围 / Spectral Range : 400-1100nm
  • 可变形镜 / Deformable Mirror : 40 piezo actuators
  • 最大闭环频率 / Max Closed Loop Frequency : 950Hz
  • 分束器 / BeamSplitter : 50-50
  • 闭环平均延迟 / Closed Loop Average Delay : about 3ms
  • 内部光源 / Internal Source : 520nm
  • 望远镜与内部光源切换 / Switch From Telescope To Internal Source : motorized
  • 最大点源星等(500mm直径望远镜) / Max Point Source Magnitude On A 500mm Dia Telescope : 5
  • 截止频率 / Rejection Bandwidth Cut-Off Frequency : ≥ 35Hz
  • 输出f#与望远镜相同 / Output F# : same as telescope
  • 旁路f#与望远镜相同 / Bypass F# : same as telescope
  • 尺寸 / Dimension : 315x315x127mm3
  • 重量 / Weight : 3kg
  • 到PC的电缆长度 / Cable Length To PC : 2m
  • 兼容的望远镜直径 / Compatible Telescopes : 200mm到1m
  • 输入f# / Input F# : f/9 to f/12
  • 机械接口 / Mechanical Interface : T2 (M42x0.75mm)
  • 指向精度 / Pointing Accuracy : ± 5arcsec

应用

1. 高分辨率成像,适用于行星或太阳表面 2. 恒星干涉测量 3. 高性能光谱测量 4. 空间态势感知(SSA)

特征

1. 为用户定制 2. 包含高性能HASO波前传感器,优化低通量和高速 3. 通过压电可变形镜校正多达40个模式 4. 便于访问分束器,允许选择适合您需求的功能 5. 集成内部光源,简化校准和自动检查 6. 优化f/10望远镜,但可定制其他f# 7. 可选旁路功能

详述

CIAO VIS是一款由Imagine Optic公司设计的创新自适应光学平台,旨在提升望远镜的成像性能。它的紧凑设计和强大的功能使其成为高分辨率成像、恒星干涉测量以及空间态势感知等领域的理想选择。CIAO VIS兼容多种望远镜,并能够与扩展光源配合使用,使得行星或太阳表面的成像更加清晰。其高性能的HASO波前传感器能够在低通量和高速的条件下运行,校正多达40个模式,确保成像质量。此外,CIAO VIS还提供了便捷的分束器访问和集成的内部光源,简化了校准和自动检查的过程。无论是在科研还是工程应用中,CIAO VIS都能为用户提供卓越的性能和灵活性。

图片集

CIAO VIS图1
CIAO VIS图2
CIAO VIS图3

规格书

下载规格书

厂家介绍

Axiom Optics提供较新的先进成像和光学计量产品。我们的团队为研究人员和工程师提供专业知识和支持。

相关产品

图片 名称 分类 制造商 参数 描述
  • 3390 MCP/RAE SENSOR HEAD 图像传感器 3390 MCP/RAE传感器头 图像传感器 Quantar Technology Inc

    有效面积直径: 25mm 空间分辨率: 0.25mm 多氯联苯俱乐部数量: 2

    3300系列是开面、微通道板(MCP)、电阻式阳极编码器(Rae)位置敏感探测器头,用于带电粒子和高能光子探测,包括标准或涂层(如CSI、KBr)MCP表面上的电子、正电子、离子、高能中性粒子、EUV和软X射线,在真空中运行(完全UHV兼容)。位置灵敏MCP/Rae探测头使用精密氧化铝陶瓷和镀金不锈钢制造,以获得较大的UHV兼容性真空压力;在操作中,单个入射事件(粒子或光子)撞击MCP检测器表面并导致电子级联,其中倍增增益因子取决于MCP的数量和类型、偏置电压和MCP配置。通过适当的偏置,MCP在增益饱和模式下工作,以帮助确保事件间相对恒定的增益,从而优化这些MCP成像探测器的位置灵敏度和空间分辨率。

  • EDS SEM Applications FAST SDD And C2 Window 图像传感器 EDS SEM应用FAST SDD和C2窗口 图像传感器 Amptek Inc

    活动区域: 25mm

    Amptek很高兴提供我们改进的硅漂移探测器(SDD)系列,用于扫描电子显微镜(SEM)中的能量色散谱(EDS)。使用我们获得专利的C系列氮化硅(Si3N4)X射线窗口,我们的FAST SDD®的低能量响应可向下延伸至铍(Be)。具有高本征效率的快速SDD®适用于EDS,也称为能量色散X射线光谱(EDX或XEDS)和能量色散X射线分析(EDXA)或能量色散X射线微量分析(EDXMA)。

  • FAST SDD 25mm Ultra High Performance Silicon Drift Detector 图像传感器 FAST SDD 25毫米超高性能硅漂移检测器 图像传感器 Amptek Inc

    活动区域: 25mm 活动区域: 17mm

    我们的传统SDD在密封TO-8封装内使用结栅场效应晶体管(JFET)以及外部前置放大器,与此不同的是,快速SDD在TO-8封装内使用互补金属氧化物半导体(CMOS)前置放大器,并用金属氧化物半导体场效应晶体管(MOSFET)取代JFET。这显著降低了电容,大大降低了串联噪声,并在非常短的峰化时间内提高了分辨率。快速SDD®使用相同的检波器,但带有前置放大器,在较短的峰值时间内提供较低的噪声。改进的(较低的)分辨率使得能够隔离/分离具有接近的能量值的荧光X射线,否则峰值将重叠,从而允许用户更好地识别其样品中的所有元素。短的峰值时间也产生计数率的显著改进;更多的计数提供更好的统计数据。

  • Large Stitched X-Ray CMOS Image Sensor 图像传感器 大型缝合式X射线CMOS图像传感器 图像传感器 Forza Silicon Corp

    图像分辨率: 1024800lp/mm 图像大小: 854Pixels

    大型拼接X射线CMOS图像传感器。

  • Patented C1 Low Energy X-Ray Windows 图像传感器 获得专利的C1低能量X射线窗 图像传感器 Amptek Inc

    活动区域: 6.3mm 活动区域: 30mm

    Amptek获得专利的“C系列”X射线窗口利用带有铝涂层的氮化硅(Si3N4),将我们的硅漂移探测器(SDD)的低能量响应扩展到硼(B)。它们仅适用于我们的FASTSDD®。Amptek在推出先进款热电冷却探测器时提供了液氮的替代品。现在有了专利的“C系列”,我们为一般的XRF分析提供了铍(Be)窗口的替代方案,与用于软X射线分析的聚合物窗口相比,我们提供了优越的性能。

立即咨询

加载中....