全部产品分类
Laser Scan Analyzer (LSA-800) 光束分析仪

Laser Scan Analyzer (LSA-800)

分类: 光束分析仪

厂家: GouMax Technology

产地: 美国

型号: Laser Scan Analyzer (LSA-800)

更新时间: 2025-03-03 09:34:38

光学测量 光纤技术 激光扫描 测试设备 自动化测试 功率计

立即咨询 获取报价 获取报价 下载规格书 下载规格书
收藏 收藏

概述

GouMax的激光扫描分析仪(LSA)产品是多功能功率计模块,旨在测量激光扫描/扫频应用中的功率。LSA-800模块是多通道LSA模块,允许用户使用现有的可调激光器或GouMax TLS-1000/TLS-1200可调光源构建自动数据采集/分析系统。

参数

  • 工作波长范围 / Operating Wavelength Range : 1250~1680nm
  • 通道数量 / Channel Number : 4/8
  • 波长精度 / Wavelength Accuracy : ±8pm
  • 波长重复性 / Wavelength Repeatability : 4pm
  • 测量动态范围 / Measurement Dynamic Range : >60dB
  • 功率不确定性 / Power Uncertainty : 0.05dB
  • 功率分辨率 / Power Resolution : 0.005dB
  • 功率重复性 / Power Repeatability : <±0.03dB
  • 噪声底 / Noise Floor : <-65dBm
  • 触发输入电压 / Voltage To 'Trigger In' BNC Port : 3.1~5.0V
  • 同步时钟输入电压 / Voltage To 'Sync Clock In' BNC Port : 3.3V
  • PSG触发输入电压 / Voltage To 'PSG Trigger In' BNC Port : 3.3V
  • 频率时钟电压 / Voltage To 'Frequency Clock' BNC Port : 3.3V
  • 检测器 / Detectors : 内部/外部
  • 光学连接器 / Optical Connectors : FC/UPC
  • 工作温度范围 / Operating Temperature Range : 15~35°C

应用

1. 被动光纤组件特性表征 2. 光学参数测量 3. 生产线自动化 4. 光学滤波器检测 5. 测试和测量仪器

特征

1. 高速数据采集单元 2. 内置波长参考 3. 实时功率参考 4. 70dB动态范围检测 5. 动态链接库(DLL)

详述

GouMax的激光扫描分析仪(LSA-800)是一款高效的多功能功率计模块,专为激光扫描和测量应用而设计。它支持多通道数据采集,能够快速准确地测量光学设备的性能参数,如带宽、插入损耗和中心波长等。LSA-800模块的高动态范围和优越的光谱分辨率,使其在生产线自动化、光学参数测量和被动光纤组件特性表征等领域表现出色。其内置的波长和功率参考功能,结合动态链接库(DLL),使得用户能够灵活构建自己的控制软件,满足多样化的测试需求。该设备的设计不仅提高了生产效率,还为用户提供了极大的便利,是测试和测量仪器中的理想选择。

图片集

Laser Scan Analyzer (LSA-800)图1

规格书

下载规格书

厂家介绍

Goumax Technology(Goumax)开发用于下一代通信设备和网络的测试和测量解决方案的高端光学元件和模块。Goumax还为光通信网络、国防、光谱学、生物和传感行业设计和销售高性能光纤产品和高速仪器。Goumax由光纤行业资深人士创立,其产品和解决方案将创新设计与先进技术相结合,以满足客户应用的各种需求。

相关产品

图片 名称 分类 制造商 参数 描述
  • µBeam Analyzer For Microscopic Beams 光束分析仪 用于微观光束的µBeam分析仪 光束分析仪 Duma Optronics

    传感器类型: CCD 可衡量的来源: CW, Pulsed 波长范围: 350 - 1310 nm

    µBEAM是一种光束诊断测量系统,用于实时测量和显示亚微米范围内的小型CW或脉冲激光器、光纤和激光二极管光束轮廓。主要功能包括:测量小于0.5µm(FWHM)的光束,处理CW或脉冲,具有长工作距离,使用高分辨率CCD响应范围,用于快速光束搜索的光学变焦。µBeam应用于CD拾音器、激光二极管、拾音器透镜和光学元件的调整、各种光束参数的评估和测试。使用SAM3-HP光束采样器,还可提供高功率版本的µBeam。

  • µBeam High Power 光束分析仪 高功率µBeam 光束分析仪 Duma Optronics

    传感器类型: CCD 可衡量的来源: CW, Pulsed 波长范围: 350 - 1310 nm

    µBeam HP是一种光束诊断测量系统,用于实时测量和显示亚微米范围内的小型CW或脉冲激光器、光纤和激光二极管光束轮廓。主要功能包括:测量小于0.5µm(FWHM)的光束,处理CW或脉冲,具有长工作距离,使用高分辨率CCD响应范围,光学变焦用于快速光束查找。在当今的技术中,越来越多的工业高功率激光器被设计成具有几个微米的微观范围。在较重要的焦点测量这些激光束是一项艰巨的任务,其密度水平超过每平方毫米10兆瓦。新款µBeam HP配有气冷式光束采样器。这使得能够以1nm的分辨率测量微小光束。

  • Beam Monitor BM8304 光束分析仪 光束监视器 BM8304 光束分析仪 Metrolux GmbH

    传感器类型: CCD 可衡量的来源: Pulsed 波长范围: 340 - 1100 nm

    低S/N比和高传感器响应线性度是该Metrolux光束剖面仪中采用的传感器的主要特性。该软件提供了国际标准EN-ISO 11145、11146、11670和13694所需的功能,涵盖了激光表征的各个方面。Beam Profiler相机BPC8304使用1.4 Mpixel CCD传感器,方形像素大小为6.45µm。340至1100 nm的波长范围允许分析所有常见的激光波长。数据接口为千兆以太网(GigE)。由于大多数计算机已经提供了GigE接口(与FireWire相反),因此通常不需要添加单独的接口卡。电缆长度可轻松达到100米,便于集成到生产系统中。

  • Beam Profiling And Beam Imaging For X-Ray 1-200 Nm 光束分析仪 用于1-200Nm的X射线的光束分析和光束成像 光束分析仪 Star Tech Instruments

    传感器类型: Other 可衡量的来源: CW 波长范围: 1 - 200 nm

    在X射线中可视化和测量光束的目标具有新的重要性。Star Tech Instruments开发了新的系统来分析这些光束的功率/能量、均匀性、高分辨率光束轮廓和图像分析。型号µBIP10X是一款真空兼容(1x10-10 Torr)光束轮廓仪和光束成像系统,设计用于1-10 nm的高分辨率。该系统适用于200nm。10倍MAG。1.5 mm的场具有0.6µm的分辨率,并且对非常低的能级敏感。该系统设计用于1.3 X 1.3传感器,但可以针对其他相机格式进行修改。可根据要求提供不同的放大倍率和相机。μBIP系列是STI较新的成像系统,专为使用软X射线而设计-#91;1-2 nm-#93;不应将其用于准分子激光器的较长波长,如193nm或248nm,这将导致严重的内部损伤。较重要的是,该系统设计用于高真空室,使用我们的定制真空法兰组件将光学系统连接到真空室。法兰的额定压力为10-8托。

  • BEAMAGE-3.0 -  CMOS Profiling Cameras 光束分析仪 BEAMAGE-3.0 - CMOS测绘相机 光束分析仪 Gentec-EO

    传感器类型: CMOS 可衡量的来源: CW, Pulsed 波长范围: 350 - 1150 nm

    BEAMAGE-4M激光束轮廓仪基于CMOS相机,并与CW和脉冲激光束特性一起使用。

立即咨询

加载中....