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品质保障
严格把控产品质量，呈现理想的光电产品，确保每一件产品都能满足您的专业需求。
参数
- 传感器类型 / Sensor Type : CMOS
- 可衡量的来源 / Measurable Sources : CW, Pulsed
- 波长范围 / Wavelength Range : 1495 - 1595 nm
- # 像素（宽度） / # Pixels (Width) : 2048
- # 像素（高度） / # Pixels (Height) : 1088
- 最大全帧率 / Max Full Frame Rate : 11.4Hz
- ADC / ADC : 12-bit
应用
1. 激光光束分析 2. 光学实验室 3. 工业激光器调试 4. 科研应用
特征
1. USB 3.0接口，传输速率高达USB 2.0的10倍 2. 高分辨率，提供精确的光束测量 3. 大光圈，适应不同光束尺寸 4. 可选红外涂层，适用于红外波长 5. 符合ISO标准 6. 直观的软件界面，提供多种显示和控制功能 7. 外部触发软件，适用于脉冲激光器同步
详述
规格书
厂家介绍
相关产品
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用于微观光束的µBeam分析仪
光束分析仪
Duma Optronics
传感器类型: CCD 可衡量的来源: CW, Pulsed 波长范围: 350 - 1310 nm
µBEAM是一种光束诊断测量系统，用于实时测量和显示亚微米范围内的小型CW或脉冲激光器、光纤和激光二极管光束轮廓。主要功能包括：测量小于0.5µm（FWHM）的光束，处理CW或脉冲，具有长工作距离，使用高分辨率CCD响应范围，用于快速光束搜索的光学变焦。µBeam应用于CD拾音器、激光二极管、拾音器透镜和光学元件的调整、各种光束参数的评估和测试。使用SAM3-HP光束采样器，还可提供高功率版本的µBeam。
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高功率µBeam
光束分析仪
Duma Optronics
传感器类型: CCD 可衡量的来源: CW, Pulsed 波长范围: 350 - 1310 nm
µBeam HP是一种光束诊断测量系统，用于实时测量和显示亚微米范围内的小型CW或脉冲激光器、光纤和激光二极管光束轮廓。主要功能包括：测量小于0.5µm（FWHM）的光束，处理CW或脉冲，具有长工作距离，使用高分辨率CCD响应范围，光学变焦用于快速光束查找。在当今的技术中，越来越多的工业高功率激光器被设计成具有几个微米的微观范围。在较重要的焦点测量这些激光束是一项艰巨的任务，其密度水平超过每平方毫米10兆瓦。新款µBeam HP配有气冷式光束采样器。这使得能够以1nm的分辨率测量微小光束。
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光束监视器 BM8304
光束分析仪
Metrolux GmbH
传感器类型: CCD 可衡量的来源: Pulsed 波长范围: 340 - 1100 nm
低S/N比和高传感器响应线性度是该Metrolux光束剖面仪中采用的传感器的主要特性。该软件提供了国际标准EN-ISO 11145、11146、11670和13694所需的功能，涵盖了激光表征的各个方面。Beam Profiler相机BPC8304使用1.4 Mpixel CCD传感器，方形像素大小为6.45µm。340至1100 nm的波长范围允许分析所有常见的激光波长。数据接口为千兆以太网（GigE）。由于大多数计算机已经提供了GigE接口（与FireWire相反），因此通常不需要添加单独的接口卡。电缆长度可轻松达到100米，便于集成到生产系统中。
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用于1-200Nm的X射线的光束分析和光束成像
光束分析仪
Star Tech Instruments
传感器类型: Other 可衡量的来源: CW 波长范围: 1 - 200 nm
在X射线中可视化和测量光束的目标具有新的重要性。Star Tech Instruments开发了新的系统来分析这些光束的功率/能量、均匀性、高分辨率光束轮廓和图像分析。型号µBIP10X是一款真空兼容（1x10-10 Torr）光束轮廓仪和光束成像系统，设计用于1-10 nm的高分辨率。该系统适用于200nm。10倍MAG。1.5 mm的场具有0.6µm的分辨率，并且对非常低的能级敏感。该系统设计用于1.3 X 1.3传感器，但可以针对其他相机格式进行修改。可根据要求提供不同的放大倍率和相机。μBIP系列是STI较新的成像系统，专为使用软X射线而设计-#91；1-2 nm-#93；不应将其用于准分子激光器的较长波长，如193nm或248nm，这将导致严重的内部损伤。较重要的是，该系统设计用于高真空室，使用我们的定制真空法兰组件将光学系统连接到真空室。法兰的额定压力为10-8托。
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