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HASO FIRST 图像传感器

HASO FIRST

分类: 图像传感器

厂家: Axiom Optics

产地: 美国

型号: HASO FIRST

更新时间: 2025-01-03 15:22:51

显微镜 光学测量 高精度 激光诊断 波前传感器

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概述

HASO FIRST是一款高精度的哈特曼波前传感器,专为单一波长优化,适用于光学计量显微镜和激光诊断等应用,具有最佳的性价比。

参数

  • 孔径尺寸 / Aperture Dimension : 4.5 x 3.7 mm²
  • 微透镜数量 / Number Of Microlenses : 44 x 36
  • 最大采集频率 / Maximum Acquisition Frequency : 125 Hz (USB 3.0)或30 Hz (GigE转换器)
  • 波长范围 / One Wavelength : ± 50 nm (350 - 1100 nm)
  • 最小功率 / Minimum Power : 0.15 nW
  • 外部触发频率 / External Trigger : TTL信号
  • 操作系统 / Operating System : Windows 10 & 11
  • 可重复性 / Repeatability : < λ/200 RMS
  • 绝对波前测量精度 / Absolute Wavefront Measurement Accuracy : ~ λ/100 RMS
  • 空间采样 / Spatial Sampling : ~ 100 µm
  • 局部曲率半径动态范围 / Local Radius Of Curvature Dynamic Range : ± 0.008 m to ± ∞
  • 外形尺寸 / Dimensions : 42 x 47 x 60 mm³ (USB 3.0)
  • USB版本重量 / Weight For USB Version : 200 g
  • 工作温度 / Working Temperature : 15 - 30 °C
  • 接口 / Interface : USB 3.0或可选GigE转换器
  • 电功耗 / Power Consumption : 3.1 W
  • 动态范围(λ PtV) / Dynamic Range ( λ PtV) : 1000

应用

1. 光学计量 2. 显微镜 3. 激光诊断 4. 光学系统对齐 5. 性能预测 6. 温度和重力影响量化 7. 光学合规性验证 8. 波前校正器驱动 9. 光学安装扭曲检查

特征

1. 光束准直精度优于200μm曲率半径 2. 20mm焦距测量灵敏度为1μm RMS 3. 直接波前采集收敛和发散F/5光束,精度为λ/100 RMS 4. 激光束偏差的控制和调整优于5µrad RMS 5. ±50nm校准带宽或可选的±150nm扩展波长范围

详述

HASO FIRST是一款先进的哈特曼波前传感器,专为满足高要求的光学计量、显微镜和激光诊断应用而设计。它的高精度和最佳性价比使其成为光学系统对齐和性能预测的理想选择。此设备能够量化光学系统的像差,并且在温度和重力的影响下保持稳定的性能。通过直接波前采集,HASO FIRST能够有效地处理收敛和发散的光束,确保光学系统的最佳工作状态。此外,该传感器还具备强大的软件支持,提供波前测量与校正功能,适用于各种复杂的光学应用。无论是在实验室还是工业环境中,HASO FIRST都能为用户提供可靠的测量结果和卓越的性能。

图片集

HASO FIRST图1
HASO FIRST图2

规格书

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厂家介绍

Axiom Optics提供较新的先进成像和光学计量产品。我们的团队为研究人员和工程师提供专业知识和支持。

相关产品

图片 名称 分类 制造商 参数 描述
  • 3390 MCP/RAE SENSOR HEAD 图像传感器 3390 MCP/RAE传感器头 图像传感器 Quantar Technology Inc

    有效面积直径: 25mm 空间分辨率: 0.25mm 多氯联苯俱乐部数量: 2

    3300系列是开面、微通道板(MCP)、电阻式阳极编码器(Rae)位置敏感探测器头,用于带电粒子和高能光子探测,包括标准或涂层(如CSI、KBr)MCP表面上的电子、正电子、离子、高能中性粒子、EUV和软X射线,在真空中运行(完全UHV兼容)。位置灵敏MCP/Rae探测头使用精密氧化铝陶瓷和镀金不锈钢制造,以获得较大的UHV兼容性真空压力;在操作中,单个入射事件(粒子或光子)撞击MCP检测器表面并导致电子级联,其中倍增增益因子取决于MCP的数量和类型、偏置电压和MCP配置。通过适当的偏置,MCP在增益饱和模式下工作,以帮助确保事件间相对恒定的增益,从而优化这些MCP成像探测器的位置灵敏度和空间分辨率。

  • EDS SEM Applications FAST SDD And C2 Window 图像传感器 EDS SEM应用FAST SDD和C2窗口 图像传感器 Amptek Inc

    活动区域: 25mm

    Amptek很高兴提供我们改进的硅漂移探测器(SDD)系列,用于扫描电子显微镜(SEM)中的能量色散谱(EDS)。使用我们获得专利的C系列氮化硅(Si3N4)X射线窗口,我们的FAST SDD®的低能量响应可向下延伸至铍(Be)。具有高本征效率的快速SDD®适用于EDS,也称为能量色散X射线光谱(EDX或XEDS)和能量色散X射线分析(EDXA)或能量色散X射线微量分析(EDXMA)。

  • FAST SDD 25mm Ultra High Performance Silicon Drift Detector 图像传感器 FAST SDD 25毫米超高性能硅漂移检测器 图像传感器 Amptek Inc

    活动区域: 25mm 活动区域: 17mm

    我们的传统SDD在密封TO-8封装内使用结栅场效应晶体管(JFET)以及外部前置放大器,与此不同的是,快速SDD在TO-8封装内使用互补金属氧化物半导体(CMOS)前置放大器,并用金属氧化物半导体场效应晶体管(MOSFET)取代JFET。这显著降低了电容,大大降低了串联噪声,并在非常短的峰化时间内提高了分辨率。快速SDD®使用相同的检波器,但带有前置放大器,在较短的峰值时间内提供较低的噪声。改进的(较低的)分辨率使得能够隔离/分离具有接近的能量值的荧光X射线,否则峰值将重叠,从而允许用户更好地识别其样品中的所有元素。短的峰值时间也产生计数率的显著改进;更多的计数提供更好的统计数据。

  • Large Stitched X-Ray CMOS Image Sensor 图像传感器 大型缝合式X射线CMOS图像传感器 图像传感器 Forza Silicon Corp

    图像分辨率: 1024800lp/mm 图像大小: 854Pixels

    大型拼接X射线CMOS图像传感器。

  • Patented C1 Low Energy X-Ray Windows 图像传感器 获得专利的C1低能量X射线窗 图像传感器 Amptek Inc

    活动区域: 6.3mm 活动区域: 30mm

    Amptek获得专利的“C系列”X射线窗口利用带有铝涂层的氮化硅(Si3N4),将我们的硅漂移探测器(SDD)的低能量响应扩展到硼(B)。它们仅适用于我们的FASTSDD®。Amptek在推出先进款热电冷却探测器时提供了液氮的替代品。现在有了专利的“C系列”,我们为一般的XRF分析提供了铍(Be)窗口的替代方案,与用于软X射线分析的聚合物窗口相比,我们提供了优越的性能。

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