LDA512P25X-1.7-T1
光谱测量 半导体检测 近红外传感器 线性图像传感器 短波红外成像
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概述
参数
- 传感技术 / Sensor Technology : Planar InGaAs PIN
- 光谱范围 / Spectral Range : 0.9 - 1.7 μm
- 实际像素阵列 / Actual Pixel Array : 512 x 1
- 像素间距 / Pixel Pitch : 25 μm
- 像元尺寸 / Pixel Size : M 25 x 250 μm2, L 25 x 500 μm2
- 芯片尺寸 / Chip Size : 15.3 x 4.5 mm
- 封装类型 / Package Type : 28-pin Metal DIP Package
- 封装尺寸 / Package Size : 50.00 x 25.40 x 11.67 mm
- 重量 / Weight : 25.8 g
- 暗电流 / Dark Current : M ≤ 600, L ≤ 1000 fA
- 量子效率 / Quantum Efficiency : ≥ 70 %
- 填充因子 / Fill Factor : ≤ 5 %
- 响应非均匀性 / Response Nonuniformity : ≤ 5 %
- 响应非线性 / Response Nonlinearity : ≤ 2 %
- 输出摆幅 / Output Swing : ≥ 2.0 V
- 最小集成周期 / Minimum Integration Period : 5 μs
- 最大像素速率 / Maximum Pixel Rate : 22 MHz
- 像素可用性百分比 / Pixel Operability : ≥ 99 %
应用
1. 短波红外成像 2. 半导体检测/过程监控 3. 分类/回收 4. 近红外光谱测量
特征
1. 512 x 1 像素 2. 嵌入式热电冷却器 3. 内置温度传感器 4. 快照 ITR/IWR 5. 单输出,像素速率高达 22 MHz
详述
LDA512P25X-1.7-T1是一款高性能的近红外线线性图像传感器,适用于广泛的应用场景,包括短波红外成像、半导体检测和过程监控等。其核心特点是512 x 1的像素阵列,具有优异的量子效率和像素可操作性,确保在复杂环境中的稳定表现。该传感器的光谱范围为0.9μm至1.7μm,能够满足多种光谱测量需求。此外,内置的热电冷却器和温度传感器提高了设备的性能和可靠性。LDA512P25X-1.7-T1的设计还考虑了用户的便利性,支持SPI协议以便于设置和控制。这使得它成为光电行业内不可或缺的工具,适合各类高科技应用。无论是在实验室研究还是工业应用中,这款传感器都能提供可靠的性能和精准的数据输出。
图片集
规格书
厂家介绍
我们在光电探测器和发射器的开发、制造和销售方面拥有30多年的经验。请联系我们-我们将很乐意在选择应用探测器解决方案时向您咨询,或与我们的合作伙伴一起开发个性化定制产品。我们期待着与您的成功合作。
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