与其他光谱或光学显微镜技术相比,共焦拉曼光谱提供了许多显著的优势。jasco
SpectraAlyzer GRAIN - 全谷物分析仪和质量检查
概述
参数
- 产品类型 / Product Type : Grains
规格书
智推产品
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2830 ZT 高级半导体薄膜计量解决方案
光谱分析仪
ASD Inc Div of Malvern Panalytical Inc
测量类型: Thin film metrology, Elemental analysis, Contaminant detection and analysis, Chemical identification 最低电平检测: 0.1 - 1000000 ppm 决议: 35eV
2830 ZT波长色散X射线荧光(WDXRF)晶片分析仪提供了测量薄膜厚度和成分的先进能力。2830 ZT晶片分析仪专为半导体和数据存储行业而设计,可用于测定厚度达300 mm的各种晶片的层成分、厚度、掺杂剂水平和表面均匀性。请求报价
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Affirma In-service Lubrican分析系统
光谱分析仪
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标准测量范围: 4000 - 550 cm-1 最大分辨率: 4cm-1
较大限度地减少机器停机时间和延长换油周期的重要工具是分析用于运行机器的润滑剂。就像医学诊断中的血液测试一样,定期测试使用中的润滑液可以提供有用的数据,为行动和决策提供信息。作为预测性维护的关键组成部分,有效的润滑剂分析程序可帮助机器所有者及早发现潜在故障,以防止代价高昂的机械损坏。同时,常规的润滑油状况监测可以减少润滑油的更换频率,从而有助于节省资金。如果您是一家润滑油制造商,将润滑油与添加剂混合或配制以优化润滑油性能,Affirma分析系统可帮助您缩短开发时间,并从现场或实验室测试环境中获得准确的结果。
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Axios FAST
光谱分析仪
ASD Inc Div of Malvern Panalytical Inc
测量类型: Thin film metrology, Elemental analysis, Contaminant detection and analysis, Chemical identification 最低电平检测: 0.1 - 100 ppm 决议: 35eV
秒级多元素化学成分分析由于时间关键的过程控制或运行样品高通量,您是否需要在几秒钟内对化学成分进行无损分析?马尔文PAnalytical Axios Fast SimultaneousWDXRF光谱仪可同时测量多达28种元素,浓度范围从ppm到100%,是理想的解决方案。准确而强大的分析、经验较少的员工的轻松操作以及高正常运行时间与低拥有成本齐头并进。在时间关键型应用程序中实现快速结果Axios快速元素分析仪可在几秒钟内获得分析结果,是时间关键型应用和高样品通量分析环境的理想工具。主要应用领域包括钢铁和金属合金生产,以及每天需要分析数百个样品的地质或商业实验室。
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纪元BH
光谱分析仪
ISS Inc
激励源: Laser, Incoherent, Custom
Chronosbh是一种具有皮秒分辨率的时域荧光计。其光学设计和自动仪器控制是较先进的时间分辨荧光计。Chronosbh是通过Vinci实现完全自动化的,Vinci是一个用户友好的基于Windows的软件包。
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光谱分析仪
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来自ISS的新消息!ChronoSDFD用于在不到1秒的时间内测量复杂衰变的寿命ChronoSDFD是通过Vinci实现完全自动化的,Vinci是一个用户友好的、基于Windows的软件包。
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