- 英国
- 干涉仪(115)
- 激光功率计(239)
- 单色仪(11)
- 光学延迟线(14)
- 光功率计(64)
- 光谱分析仪(104)
- 光波长计(35)
- 光谱仪(875)
- 激光雷达(29)
- 扫描仪和测距仪(24)
- 气体分析(47)
- 光学池(79)
- 光束分析仪配件(20)
- 光束分析仪(46)
- 激光能量计(82)
- 普通显微镜(60)
- 显微镜配件(25)
- 位移测量计(17)
- 计量配件(19)
- 光学表面轮廓仪(17)
- 孔探仪(39)
- 脉冲发生器(20)
- 太赫兹成像(4)
- 太赫兹时域(13)
- 其他分类测量仪器(19)
- 光纤检测工具(28)
- 脉冲诊断器件(30)
- 激光扫描和测距(9)
- 光束分析(5)
- 光学检测(14)
- 显微镜(12)
- 光纤测试与测量(3)
- 尺寸测量(1)
- 散热解决方案(20)
- Armstrong Optical
- ASD Inc Div of Malvern Panalytical Inc
- Hiden Analytical
- Level Five Supplies
- Oxford Instruments
- PCE Instruments UK Ltd Sub of PCE Holding GmbH
- Phase Photonics
- Scantron Industrial Products Ltd
- Spectrolab Systems
- Spectrum Metrology Ltd
- Yelo Ltd
- 牛津仪器
- Arden Photonics
- Cairn Research
- Edinburgh Instruments
- IS Instruments
- RedWave Labs Ltd
光电查为您提供132个产品。下载资料,获取报价,实现功能、价格及供应的优化选择。
-
应用: Spectroscopy 测量技术: Transmission, Reflectance 光谱仪类型: Benchtop, Portable 波长范围: 1000 to 1700 nm 谱带: Red, NIR
红波NIR光谱仪覆盖从0.9到2.3μm的NIR波长。光谱仪非常坚固,没有移动部件,封装在小型坚固的金属外壳(2.75 “ X 4 ” X 6 ")中,适用于便携式、工艺和实验室应用。InGaAs探测器是一个传感器无限线性光电二极管阵列,具有512个像素(1024个可选),25µm X 500µm高,可提供最大灵敏度。探测器有一个集成的热电冷却器(TEC),保持在–10°C,稳定在+/-0.1°C.该装置通过USB-2与PC连接,并可与StellarNet UV-VIS光谱仪同时操作,以提供双探测器超范围(Dual-DSR)光谱系统。一系列NIR应用包括固体和液体的化学鉴定、湿度分析、光谱辐射测量和包括NIR激光表征的光功率测量、微传感器应用,和多层薄膜测量。
-
扫描角度: 360deg 扫描频率范围: 1 - 10 Hz 角度分辨率: 30deg 测量范围: 1 - 300 m
Kaarta Stencil®2-16是一款低成本、灵活的移动地图平台,用于快速移动扫描;一台小到可以拿在手里,但功能强大到可以处理和查看它捕获的任何数据的计算机。Stencil的集成3D映射和实时位置估计实现了固定扫描系统无法实现的功能。Stencil的核心是Kaarta Engine,这是Kaarta正在申请专利的高级3D映射和定位算法。Kaarta Engine的专有方法将其他SLAM系统的漂移误差提高了一个数量级。Stencil可快速轻松地精确绘制外部和大型内部空间,范围可达100米,激光雷达精度为±30毫米。数据速率为每秒300,000点,较高10Hz。Stencil记录GNSS数据,用于环闭合以进行地理注册或地理定位数据集,校正漂移并进一步增强大面积扫描的保真度。Kaarta提供可选的GNSS接收器和支架套件或模板,可与大多数NMEA 0183 GNSS系统集成。Stencil的用户界面和屏幕键盘可在附带的平板电脑上访问,使实时操作变得简单、有条理和直观。使用户能够更好地控制扫描操作。置信度度量通过发信号通知新的扫描数据是否在现有映射中被正确地配准、发信号通知错误的可能性以及允许用户通过调整数据收集技术或调整参数来增加置信度水平,来提供关于扫描匹配的质量的即时反馈。自动地板找平/分割算法可识别地板结构和层次,以获得更好的扫描效果并减少后处理时间。楼层规划器可以从点云中调平、旋转和生成“切片”的二维图像。
-
化合物类型: Nitrogen, CO2 (Carbon Dioxide), CO (Carbon Monoxide) 检测技术: Spectrophotometry 最低检测率: 60ppt (parts per trillion)
差示电化学质谱(DEMS)是一种将电化学半电池实验与质谱相结合的分析技术。它允许对气态或挥发性电化学反应物、反应中间体和产物进行实时的原位质量分辨测定。Hiden Analytical为Hiden HPR-40 DSA质谱仪提供了一系列具有电解质/纳米孔取样接口的DEMS电池。对于需要现有电池或反应器的在线电化学质谱、原始设备制造商的应用,可提供一系列标准入口选项,以提供废气和溶解物质分析解决方案。可与HIDEN HPR-40 DEMS系统连接的电化学电池包括以下选定型号:Redoxme AB和EL-Cell®