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BEAMAGE-4M-FOCUS CMOS测绘相机
厂家：Gentec-EO
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BEAMAGE-M2自动测量系统
厂家：Gentec-EO
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BEAMAGE-3.0 - CMOS测绘相机
厂家：Gentec-EO
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BEAMAGE-3.0-IR - CMOS测绘相机
厂家：Gentec-EO
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BEAMAGE-4M - CMOS测绘相机
厂家：Gentec-EO
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BEAMAGE-4M-IR CMOS测绘相机
厂家：Gentec-EO
光电查为您提供46个产品。下载资料，获取报价，实现功能、价格及供应的优化选择。
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传感器类型: CCD 可衡量的来源: CW 波长范围: 193 - 1100 nm ADC: Other紫外激光光束轮廓仪在工业应用中有着良好的记录，可用于半导体和显示器行业中加工激光材料的准分子激光器，以及Nd：YAG激光器的三次、四次和五次谐波。该产品的基本系统由基于UV探测器的相机和先进的BeamLux II软件组成。根据有效面积，可以测量从10um到100mm的光束直径。
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传感器类型: CCD 可衡量的来源: CW 波长范围: 157 - 308 nm ADC: Other紫外激光束轮廓仪在工业应用中有着良好的记录，可用于半导体和显示器行业中加工激光材料的准分子激光器，以及Nd：YAG激光器的三次、四次和五次谐波。该产品的基本系统由基于紫外探测器和高级BeamLux II软件的相机组成。根据有效面积，可以测量从10um到100mm的光束直径。
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传感器类型: CCD 可衡量的来源: CW 波长范围: 10 - 1100 nm ADC: Other紫外激光光束轮廓仪在工业应用中有着良好的记录，可用于半导体和显示器行业中加工激光材料的准分子激光器，以及Nd：YAG激光器的三次、四次和五次谐波。该产品的基本系统由基于UV探测器的相机和先进的BeamLux II软件组成。根据有效面积，可以测量从10um到100mm的光束直径。
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传感器类型: CCD 可衡量的来源: CW, Pulsed 波长范围: 0.01 - 10 nm # 像素（宽度）: 1280 # 像素（高度）: 960XRV系列X射线和质子束检测系统将精密计量与高能辐射检测相结合，形成了基于胶片测量的完全电子替代方案。现在可以以无与伦比的速度和精度测量铅笔般细的辐射束的XYZ位置和矢量。可以在几秒而不是几小时内获得波束矢量、轮廓和发散度。自动化脚本可用于记录射束形状、强度、位置和方向随时间的变化，以便在以后的分析或3D体积重建中使用。XRV系统验证立体定向放射外科子系统（机器人、准直器、直线加速器和kV成像仪）协同工作，以准确地将辐射输送到不规则形状的病变体积。在治疗之前或之后，可以快速验证这些系统中使用的机械叶片准直器的正确操作。光束测量精度为0.2 mm，测量重复性通常为0.02 mm。矢量和波束观察软件可实现捕获数据的实时任意角度观察。所有操作均由随探测器体模提供的笔记本电脑或台式电脑控制。XRV的标准配置是3-30米（较大100英尺）的USB电缆系统，因此系统PC和操作员可以安全地远离治疗室。探测器模型重约8千克（17磅）。
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传感器类型: CCD 可衡量的来源: CW, Pulsed 波长范围: 0.01 - 10 nm # 像素（宽度）: 1280 # 像素（高度）: 960XRV系列X射线和质子束检测系统将精密计量与高能辐射检测相结合，形成了基于胶片测量的完全电子替代方案。现在可以以无与伦比的速度和精度测量铅笔般细的电离辐射束的XYZ位置和矢量。可以在几秒而不是几小时内获得波束矢量、轮廓和发散度。自动化脚本可用于记录射束形状、强度、位置和方向随时间的变化，以便在以后的分析或3D体积重建中使用。XRV系统验证质子和X射线治疗子系统（机器人、准直器、放射源和kV成像仪）是否协同工作，以准确地将辐射输送到不规则形状的病变体积。光束位置测量精确到0.3mm，测量重复性通常为0.04mm。矢量和波束观察软件可实现捕获数据的实时任意角度观察。可以以高达每秒30帧的速率实时捕获多达4，000帧的视频。
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传感器类型: CCD 可衡量的来源: CW, Pulsed 波长范围: 0.01 - 10 nm # 像素（宽度）: 1280 # 像素（高度）: 960XRV-2000 Falcon光束剖面仪将高能辐射探测与精密二维计量相结合，形成了基于胶片测量的完全电子替代方案。XRV-2000 Falcon以无与伦比的速度和精度测量辐射束的XY位置和轮廓。尺寸高达19×19cm的单束和质子能量层图案可以从垂直和水平方向指向闪烁体表面以进行测量。自动化脚本可用于捕捉光束形状、强度和位置随时间的变化。XRV系统校准质子和放射外科系统或工业辐射源，这些辐射源必须向3D空间中的目标区域提供精确的辐射量。在这些系统中使用的笔形束扫描或机械叶片准直器的正确操作可以被快速验证。光束FWHM直径测量精确到±0.1mm，质心位置精确到±0.2mm。光束观察软件能够实时从任何角度观察捕获的轮廓数据，并进行实时半影和对称式测量。捕获的图像可以导出到ImageJ或其他图像分析软件。所有操作均由随相机幻影提供的笔记本电脑或台式电脑控制。XRV配有一根30米（100英尺）的USB3光纤供电延长电缆，以便系统PC和操作员可以安全地远离辐射源。数码相机Phantom重约3.5千克（7.7磅），存放在作为系统一部分提供的Pelican箱子中。
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传感器类型: CCD 可衡量的来源: Pulsed 波长范围: 340 - 1100 nm ADC: Other低S/N比和高传感器响应线性度是该Metrolux光束剖面仪中采用的传感器的主要特性。该软件提供了国际标准EN-ISO 11145、11146、11670和13694所需的功能，涵盖了激光表征的各个方面。Beam Profiler相机BPC8304使用1.4 Mpixel CCD传感器，方形像素大小为6.45µm。340至1100 nm的波长范围允许分析所有常见的激光波长。数据接口为千兆以太网（GigE）。由于大多数计算机已经提供了GigE接口（与FireWire相反），因此通常不需要添加单独的接口卡。电缆长度可轻松达到100米，便于集成到生产系统中。
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传感器类型: CCD 可衡量的来源: CW 波长范围: 340 - 1100 nm # 像素（宽度）: 1392 # 像素（高度）: 1040低S/N比和高传感器响应线性度是该Metrolux光束剖面仪中采用的传感器的主要特性。该软件提供了国际标准EN-ISO 11145、11146、11670和13694所需的功能，涵盖了激光表征的各个方面。Beam Profiler相机BPC8304使用1.4 Mpixel CCD传感器，方形像素大小为6.45µm。数据接口为千兆以太网（GigE）。由于大多数计算机已经提供了GigE接口（与FireWire相反），因此通常不需要添加单独的接口卡。电缆长度可轻松达到100米，便于集成到生产系统中。
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传感器类型: CCD 可衡量的来源: CW 波长范围: 248 - 1100 nm # 像素（宽度）: 1388 # 像素（高度）: 1036由于它的多功能性，FM100已经在显示器和半导体行业以及汽车行业的材料加工中用于激光束的常规质量控制。除了集成的高功率衰减器外，FM100还有两个滤波器插槽，用于灵活衰减激光功率。该配置可以针对所有激光波长进行优化，以保证较佳的测量结果。
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传感器类型: CCD 可衡量的来源: Pulsed 波长范围: 248 - 1100 nm # 像素（宽度）: 1388 # 像素（高度）: 1036由于其多功能性，FM100已经用于显示器和半导体工业中激光束的常规质量控制，以及汽车工业中的材料加工。除了集成的高功率衰减器外，FM100还有两个滤波器插槽，用于灵活衰减激光功率。该配置可以针对所有激光波长进行优化，以保证较佳的测量结果。
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传感器类型: CCD 可衡量的来源: Pulsed 波长范围: 340 - 1100 nm # 像素（宽度）: 1388 # 像素（高度）: 1036激光束源的精确表征和规格对于在激光生产中提供和保持高产品质量是至关重要的。系统集成商可以根据国际标准中定义的参数选择要使用和集成的光束源。Metrolux测量系统是为激光束参数的快速高精度测量而设计的。图像处理软件的远程可控性简化了与生产流程的集成。
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传感器类型: CCD 可衡量的来源: CW 波长范围: 340 - 1100 nm # 像素（宽度）: 1388 # 像素（高度）: 1036LPM200设计用于激光的自动测定和监控。以及具有长瑞利长度的激光束的光束参数，其中标准光束轮廓仪不能提供足够的功能。LPM200系统包括用于对激光束焦散成像的光学系统以及用于扫描该图像的线性平台。两种不同放大率的选择以及各种光学滤波器完成了这个紧凑的测量系统。•数据的采集和分析由经过验证的BeamLux软件使用附带的M²工具进行处理，该工具根据标准ISO 11146进行了测量优化。直接或通过定制的BLFE软件前端远程提供用户控制。该系统与用于Metrolux测量设备的SAMM控制和评估模块相结合，可快速轻松地配置和集成到生产过程中。
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传感器类型: Other 可衡量的来源: CW 波长范围: 1 - 200 nm ADC: Other在X射线中可视化和测量光束的目标具有新的重要性。Star Tech Instruments开发了新的系统来分析这些光束的功率/能量、均匀性、高分辨率光束轮廓和图像分析。型号µBIP10X是一款真空兼容（1x10-10 Torr）光束轮廓仪和光束成像系统，设计用于1-10 nm的高分辨率。该系统适用于200nm。10倍MAG。1.5 mm的场具有0.6µm的分辨率，并且对非常低的能级敏感。该系统设计用于1.3 X 1.3传感器，但可以针对其他相机格式进行修改。可根据要求提供不同的放大倍率和相机。μBIP系列是STI较新的成像系统，专为使用软X射线而设计-#91；1-2 nm-#93；不应将其用于准分子激光器的较长波长，如193nm或248nm，这将导致严重的内部损伤。较重要的是，该系统设计用于高真空室，使用我们的定制真空法兰组件将光学系统连接到真空室。法兰的额定压力为10-8托。
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传感器类型: CCD 可衡量的来源: CW, Pulsed 波长范围: 350 - 1310 nm 最大全帧率: 25Hz ADC: 12-bitµBEAM是一种光束诊断测量系统，用于实时测量和显示亚微米范围内的小型CW或脉冲激光器、光纤和激光二极管光束轮廓。主要功能包括：测量小于0.5µm（FWHM）的光束，处理CW或脉冲，具有长工作距离，使用高分辨率CCD响应范围，用于快速光束搜索的光学变焦。µBeam应用于CD拾音器、激光二极管、拾音器透镜和光学元件的调整、各种光束参数的评估和测试。使用SAM3-HP光束采样器，还可提供高功率版本的µBeam。
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传感器类型: CCD 可衡量的来源: CW, Pulsed 波长范围: 350 - 1310 nm # 像素（宽度）: 1040 # 像素（高度）: 1392µBeam HP是一种光束诊断测量系统，用于实时测量和显示亚微米范围内的小型CW或脉冲激光器、光纤和激光二极管光束轮廓。主要功能包括：测量小于0.5µm（FWHM）的光束，处理CW或脉冲，具有长工作距离，使用高分辨率CCD响应范围，光学变焦用于快速光束查找。在当今的技术中，越来越多的工业高功率激光器被设计成具有几个微米的微观范围。在较重要的焦点测量这些激光束是一项艰巨的任务，其密度水平超过每平方毫米10兆瓦。新款µBeam HP配有气冷式光束采样器。这使得能够以1nm的分辨率测量微小光束。
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传感器类型: CCD 可衡量的来源: CW, Pulsed 波长范围: 190 - 1310 nm # 像素（宽度）: 720 # 像素（高度）: 576用于激光束分析的完整系统，由一个CCD摄像头、一套外壳中的3xNG Schott彩色滤光片（NG4、NG9、NG10）、一个USB 2.0附件、CD盘上的软件、手提箱和用户手册组成。Beamon系统是一种用于实时测量连续或脉冲激光束的光束诊断测量系统。它测量激光束的参数，如：强度分布，光束宽度，形状，位置和功率。软件还提供梁分析设置和结果的报告功能（参见下载中的示例）。Beamon配有USB附件和软件驱动设备，可通过高速USB 2.0端口连接到笔记本电脑（或台式机），并在Windows 7操作系统（32位和64位）和Windows 8上运行。CCD轮廓仪克服了相机型光束轮廓仪有限的动态范围，每次测量都以不同的衰减或电子快门速度进行。Duma专利技术使用户能够查看小于激光束较大功率密度1%的特征。
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传感器类型: CCD 可衡量的来源: CW, Pulsed 波长范围: 350 - 1310 nm # 像素（宽度）: 1040 # 像素（高度）: 1392Duma'的高功率激光测量设备是一种强大的一体化仪器，内置较先进的空气冷却光束收集器，使用350-1600 nm激光工作。它将测量M²，BPP（光束传播参数），在其焦点位置的光束尺寸小于100微米。独特的功能允许以每秒5次的速率测量功率变化。特殊的用户友好软件将在工业计算机上显示结果，或使用客户计算机的USB接口显示结果。
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传感器类型: CCD 可衡量的来源: CW, Pulsed 波长范围: 350 - 1310 nm # 像素（宽度）: 576 # 像素（高度）: 750Beamon HR系统是一种用于实时测量连续或脉冲激光束的光束诊断测量系统。它提供激光束参数，例如：光束宽度、形状、位置、功率和强度分布。软件还提供梁分析设置和结果的报告功能（参见下载中的示例）。
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传感器类型: CCD 可衡量的来源: CW, Pulsed 波长范围: 350 - 1310 nm # 像素（宽度）: 1200 # 像素（高度）: 1920Beamon Long-Bow是一个由CCD型光束剖面仪组成的测量站，辅以高倍率光学和计算技术。这是一个功能强大的光束诊断测量系统，用于实时测量和显示连续或脉冲激光。该系统是一种用于检测反射光束的成像光束剖面仪，Beamon Long-Bow可用于远距离目标反射的朗伯光束，以及各种光束参数的评估和测试。测量的主要参数有：光强分布、光束宽度、光束位置和光束形状。该系统配备了强大的变焦光学和校准功能。
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传感器类型: CMOS 可衡量的来源: CW 波长范围: 350 - 1600 nm # 像素（宽度）: 1200 # 像素（高度）: 1920Beamon U3由于其独特的功能，实际上是一个各种激光束的总测量站，其235万像素的高分辨率探测器具有12位的动态范围和350-1600 nm的光谱响应，通过全套附件，该设备的通用性大大提高，可以测量高功率和低功率激光以及大光束和极小光束。USB带宽的进步提供了测量波束的高更新率。对于极端的功率水平，可以很容易地连接加压空气冷却光束采样器，以提供几千瓦的激光束测量。