已选
  • 英国
  • ASD Inc Div of Malvern Panalytical Inc

光电查为您提供6个产品。下载资料,获取报价,实现功能、价格及供应的优化选择。

  • 2830 ZT 高级半导体薄膜计量解决方案 光谱分析仪
    测量类型: Thin film metrology, Elemental analysis, Contaminant detection and analysis, Chemical identification 最低电平检测: 0.1 - 1000000 ppm 决议: 35eV

    2830 ZT波长色散X射线荧光(WDXRF)晶片分析仪提供了测量薄膜厚度和成分的先进能力。2830 ZT晶片分析仪专为半导体和数据存储行业而设计,可用于测定厚度达300 mm的各种晶片的层成分、厚度、掺杂剂水平和表面均匀性。请求报价

  • Axios FAST 光谱分析仪
    测量类型: Thin film metrology, Elemental analysis, Contaminant detection and analysis, Chemical identification 最低电平检测: 0.1 - 100 ppm 决议: 35eV

    秒级多元素化学成分分析由于时间关键的过程控制或运行样品高通量,您是否需要在几秒钟内对化学成分进行无损分析?马尔文PAnalytical Axios Fast SimultaneousWDXRF光谱仪可同时测量多达28种元素,浓度范围从ppm到100%,是理想的解决方案。准确而强大的分析、经验较少的员工的轻松操作以及高正常运行时间与低拥有成本齐头并进。在时间关键型应用程序中实现快速结果Axios快速元素分析仪可在几秒钟内获得分析结果,是时间关键型应用和高样品通量分析环境的理想工具。主要应用领域包括钢铁和金属合金生产,以及每天需要分析数百个样品的地质或商业实验室。

  • Epsilon 1 小型、强大、便携的XRF分析仪 光谱分析仪
    测量类型: Elemental analysis, Contaminant detection and analysis, Chemical identification 最低电平检测: 1 - 1000000 ppm 决议: 135eV

    小型、功能强大的便携式XRF分析仪Epsilon 1是一款完全集成的能量色散XRF分析仪,由光谱仪、内置计算机、触摸屏和分析软件组成。在激发和检测技术的较新进展的支持下,Epsilon 1是低成本台式仪器类中的明星产品。Epsilon 1产生快速、经济、精确和准确的数据,对操作员和样品制备的依赖性较小。因此,总运行成本比其他分析技术低得多,例如AAS、ICP和湿化学方法,这些方法成本高并且还需要专门的熟练操作员。

  • Epsilon 4 快速而准确的在线元素分析 光谱分析仪
    测量类型: Thin film metrology, Elemental analysis, Contaminant detection and analysis 最低电平检测: 1 - 1000000 ppm 决议: 135eV

    基于成熟的Epsilon 3系列XRF光谱仪的经验和成功,Epsilon 4是一款多功能台式XRF分析仪,适用于从研发到过程控制领域需要从氟(F)到镅(Am)元素分析的任何行业。将较新的激发和检测技术与成熟的软件和智能设计相结合,Epsilon 4的分析性能接近更强大的落地式XRF光谱仪。

  • Epsilon Xflow 光谱分析仪
    测量类型: Elemental analysis 最低电平检测: 1 - 1000000 ppm 决议: 135eV

    Epsilon XFlow的在线液体分析为快速准确地控制工艺参数提供了解决方案。法规和质量规范的增加推动了对连续流程的需求。Epsilon XFlow可实现实时洞察,以更高效地管理生产流程并降低运营成本。

  • 泽特XRF 光谱分析仪
    测量类型: Thin film metrology, Elemental analysis, Contaminant detection and analysis 最低电平检测: 0.1 - 100 ppm 决议: 35eV

    通过将SUMxCore技术(WDXRF、EDXRF和XRD的集成)整合到Zetium平台中,实现了科学合理、利益驱动的创新,提供了先进灵活性、性能和多功能性,并有望彻底改变XRF世界。