SWIR是Short Wave InfraRed的简称，短波红外是一种属于电磁波谱的光，其波长范围在900纳米和2500纳米之间。
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750 Series Optical Spectrum Analyzer
简介：
1260 to 1680 nm Spectrum Analyzer for Testing of Optical Transceivers
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概述
Bristol Instruments的750系列光谱分析仪是一种光谱分析仪，其波长范围为1260至1680nm，波长分辨率为0.2nm，波长精度为±0.01nm，动态范围为40dB，扫描时间为0.07秒。750系列光谱分析仪的更多详情见下文。
参数
- 波长范围 / Wavelength Range : 1260 to 1680 nm
- 波长分辨率 / Wavelength Resolution : 0.2 nm
- 波长精度 / Wavelength Accuracy : ± 0.01 nm
- 光纤模式 / Fiber Mode : Single Mode
- 动态范围 / Dynamic Range : 40 dB
- 扫描时间 / Sweep Time : 0.07 sec
- Level Flatness / Level Flatness : ± 0.2 dB
- Level Accuracy / Level Accuracy : ± 0.5 dB(Calibration Accuracy)
- 水平线性度 / Level Linearity : ± 0.3 dB
- 测量单位 / Measurement Unit : Power: dBm, mW, µW Wavelength: nm, THz
- 偏振相关性 / Polarization Dependence : ± 0.4 dB
- 谱带 / Spectrum Band : O Bands, E Bands, S Bands, C Bands, L Bands
- 波长重复性 / Wavelength Repeatability : ± 1 ppm (± 0.2 pm @ 1550 nm)
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厂家介绍
布里斯托尔仪器公司（Bristol Instruments，Inc.）位于纽约州罗切斯特市附近，由现已解散的伯利仪器公司（Burleigh Instruments）的三位技术和营销负责人于2005年创建。该集团在基础和应用研究、工程和生产测试应用中使用的激光和精密测试仪器的设计、制造和营销方面拥有超过75年的经验。
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名称
分类
制造商
参数
描述
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2830 ZT 高级半导体薄膜计量解决方案
光谱分析仪
ASD Inc Div of Malvern Panalytical Inc
测量类型: Thin film metrology, Elemental analysis, Contaminant detection and analysis, Chemical identification 最低电平检测: 0.1 - 1000000 ppm 决议: 35eV
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Axios FAST
光谱分析仪
ASD Inc Div of Malvern Panalytical Inc
测量类型: Thin film metrology, Elemental analysis, Contaminant detection and analysis, Chemical identification 最低电平检测: 0.1 - 100 ppm 决议: 35eV
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激励源: Laser, Incoherent, Custom
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