全部产品分类
FTBx-5245 光谱分析仪

FTBx-5245

分类: 光谱分析仪

厂家: EXFO

产地: 加拿大

型号: FTBx-5245

更新时间: 2024-08-25 01:49:07

The new FTBx-5255 is the only OSA on the market to address all applications in a single module

立即咨询 获取报价 获取报价 下载规格书 下载规格书
收藏 收藏

概述

EXFO Inc.的FTBX-5245是一款光谱分析仪,波长范围为1250至1650 nm,波长精度为±0.01至±0.05,动态范围为-80至18 dB,光功率范围为23 dBm.有关FTBX-5245的更多详细信息,请联系我们。

参数

  • 波长范围 / Wavelength Range : 1250 to 1650 nm
  • 波长精度 / Wavelength Accuracy : ±0.01 to ±0.05
  • 动态范围 / Dynamic Range : -80 to 18 dB
  • 光功率范围 / Optical Power Range : 23 dBm
  • 偏振相关性 / Polarization Dependence : ±0.08 dB
  • 波长线性度 / Wavelength Linearity : ±0.01 nm
  • 谱带 / Spectrum Band : O-Band, L-Band
  • 波长重复性 / Wavelength Repeatability : ±0.003 nm

规格书

下载规格书

厂家介绍

缩小云原生网络的可视性差距以提供更好的5G体验云。 原生网络价值在于将网络和服务拓扑从基础设施中抽象出来。然而,这造成了可视性差距,难以将体验质量问题与基础设施问题联系起来。EXFO的全栈保证弥补了这一差距,为客户提供了真正的裸机体验可见性。

相关产品

图片 名称 分类 制造商 参数 描述
  • 2830 ZT Advanced semiconductor thin film metrology solution 光谱分析仪 2830 ZT 高级半导体薄膜计量解决方案 光谱分析仪 ASD Inc Div of Malvern Panalytical Inc

    测量类型: Thin film metrology, Elemental analysis, Contaminant detection and analysis, Chemical identification 最低电平检测: 0.1 - 1000000 ppm 决议: 35eV

    2830 ZT波长色散X射线荧光(WDXRF)晶片分析仪提供了测量薄膜厚度和成分的先进能力。2830 ZT晶片分析仪专为半导体和数据存储行业而设计,可用于测定厚度达300 mm的各种晶片的层成分、厚度、掺杂剂水平和表面均匀性。请求报价

  • Affirma In-service Lubricant Analysis System 光谱分析仪 Affirma In-service Lubrican分析系统 光谱分析仪 Thermo Fisher Scientific

    标准测量范围: 4000 - 550 cm-1 最大分辨率: 4cm-1

    较大限度地减少机器停机时间和延长换油周期的重要工具是分析用于运行机器的润滑剂。就像医学诊断中的血液测试一样,定期测试使用中的润滑液可以提供有用的数据,为行动和决策提供信息。作为预测性维护的关键组成部分,有效的润滑剂分析程序可帮助机器所有者及早发现潜在故障,以防止代价高昂的机械损坏。同时,常规的润滑油状况监测可以减少润滑油的更换频率,从而有助于节省资金。如果您是一家润滑油制造商,将润滑油与添加剂混合或配制以优化润滑油性能,Affirma分析系统可帮助您缩短开发时间,并从现场或实验室测试环境中获得准确的结果。

  • Axios FAST 光谱分析仪 Axios FAST 光谱分析仪 ASD Inc Div of Malvern Panalytical Inc

    测量类型: Thin film metrology, Elemental analysis, Contaminant detection and analysis, Chemical identification 最低电平检测: 0.1 - 100 ppm 决议: 35eV

    秒级多元素化学成分分析由于时间关键的过程控制或运行样品高通量,您是否需要在几秒钟内对化学成分进行无损分析?马尔文PAnalytical Axios Fast SimultaneousWDXRF光谱仪可同时测量多达28种元素,浓度范围从ppm到100%,是理想的解决方案。准确而强大的分析、经验较少的员工的轻松操作以及高正常运行时间与低拥有成本齐头并进。在时间关键型应用程序中实现快速结果Axios快速元素分析仪可在几秒钟内获得分析结果,是时间关键型应用和高样品通量分析环境的理想工具。主要应用领域包括钢铁和金属合金生产,以及每天需要分析数百个样品的地质或商业实验室。

  • ChronosBH 光谱分析仪 纪元BH 光谱分析仪 ISS Inc

    激励源: Laser, Incoherent, Custom

    Chronosbh是一种具有皮秒分辨率的时域荧光计。其光学设计和自动仪器控制是较先进的时间分辨荧光计。Chronosbh是通过Vinci实现完全自动化的,Vinci是一个用户友好的基于Windows的软件包。

  • ChronosDFD 光谱分析仪 纪元DFD 光谱分析仪 ISS Inc

    激励源: Laser, Incoherent

    来自ISS的新消息!ChronoSDFD用于在不到1秒的时间内测量复杂衰变的寿命ChronoSDFD是通过Vinci实现完全自动化的,Vinci是一个用户友好的、基于Windows的软件包。

相关文章

  • 什么是电磁(EM)谱(Electromagnetic (EM) Spectrum)?

    电磁波谱被定义为一些电磁波的分布,是波长、频率或波数的函数。电磁波谱同时表现出波状和粒子状的特性。最短波长的行为是由波的特性主导的,而短波长的X射线和伽马射线的行为是由光子方面主导的,然而支配所有波长的基本规律却适用于所有的波长。这两个概念所要求的波粒二象性在光学范围内最常遇到,这个范围内的波处于或接近可见范围

  • XRF在确保符合金属安全标准方面的作用

    在许多行业中,用于制造、建筑和消费品的金属的质量和安全至关重要。为了确保这些材料符合严格的安全标准,有必要对其元素组成进行彻底的分析。在众多可用的分析方法中,x射线荧光(XRF)是金属安全评估的重要方法。本文综述了XRF及其在金属分析中的应用。

  • Alluxa的新产品目录具有从紫外到红外的扩展光谱性能

    高性能光学涂层和滤光片以及薄膜沉积技术的全球领先者Alluxa公司宣布扩大在线产品目录,提供从紫外线(UV)到红外线(IR)的扩展波长范围的硬涂层特种滤光片。

  • 表面特异性非线性光学光谱进入太赫兹范围

    自 20 世纪 90 年代以来,二阶表面特定非线性光学光谱学(如和频光谱学)在揭示表面/界面微观结构方面不断取得重大成就。

立即咨询

加载中....