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光电查为您提供28个产品。下载资料,获取报价,实现功能、价格及供应的优化选择。

  • CCD光束分析器紫外线监测器 光束分析仪
    日本
    分类:光束分析仪
    传感器类型: CCD 可衡量的来源: CW 波长范围: 193 - 1100 nm ADC: Other

    紫外激光光束轮廓仪在工业应用中有着良好的记录,可用于半导体和显示器行业中加工激光材料的准分子激光器,以及Nd:YAG激光器的三次、四次和五次谐波。该产品的基本系统由基于UV探测器的相机和先进的BeamLux II软件组成。根据有效面积,可以测量从10um到100mm的光束直径。

  • CCD光束分析器 紫外线监测器 10 光束分析仪
    日本
    分类:光束分析仪
    传感器类型: CCD 可衡量的来源: CW 波长范围: 157 - 308 nm ADC: Other

    紫外激光束轮廓仪在工业应用中有着良好的记录,可用于半导体和显示器行业中加工激光材料的准分子激光器,以及Nd:YAG激光器的三次、四次和五次谐波。该产品的基本系统由基于紫外探测器和高级BeamLux II软件的相机组成。根据有效面积,可以测量从10um到100mm的光束直径。

  • CCD光束分析器 紫外线监测器K2 光束分析仪
    日本
    分类:光束分析仪
    传感器类型: CCD 可衡量的来源: CW 波长范围: 10 - 1100 nm ADC: Other

    紫外激光光束轮廓仪在工业应用中有着良好的记录,可用于半导体和显示器行业中加工激光材料的准分子激光器,以及Nd:YAG激光器的三次、四次和五次谐波。该产品的基本系统由基于UV探测器的相机和先进的BeamLux II软件组成。根据有效面积,可以测量从10um到100mm的光束直径。

  • 光学连接器清洗剂 光纤测试与测量

    光通信设备中许多故障的原因是光连接器端面的污染。NTT Advanced Technology的光纤连接器清洁器使用专为光纤连接器开发的光纤,因此即使是肉眼看不见的较小污染物也能被清除。考虑到高度便携的紧凑设计和易于操作,并且由于不需要清洗液,因此对操作环境也没有特殊要求。我们准备了与各种类型的光学连接器兼容的全系列清洁剂。请让我们的技术为您服务。

  • 光学连接器清洁器集成范围 VIEWTOP 光纤测试与测量

    在连接过程中,保持光纤连接器端面的清洁非常重要。将工具插入光纤连接器进行观察。然后,在相同的位置,只需使用一次推动动作来清洁连接器。这样,光连接器的清洁和端面检查都由一个单元完成。

  • 光学连接器抛光机ATP-3200- ATP-3000 光纤测试与测量

    ATP-3000抛光机的独立加压夹具使用独特的连接结构,因此即使是1个插件(1个端子)的抛光夹具也可以根据客户的要求制造。评估有风险的抛光工艺,如特殊材料质量抛光、工艺改进等,可以以较低的成本完成,通过简单地添加插件,您可以轻松构建用于大规模生产的结构。

  • curamik® Endurance DBC系列金属化陶瓷基板 散热解决方案
    日本
    厂商:罗杰斯
    测试条件温度范围: -55°C to 150°C 铜材料顶部和底部厚度: 0.3mm 陶瓷材料类型: HPS(ZTA)/Al2O3/Si3N4 铝氮陶瓷厚度: 0.63mm 铝氮陶瓷热循环次数: >3000 cycles without visible damage

    curamik® ENDURANCE DBC产品是一种高可靠性的基板,与同尺寸的材料组合相比,具有显著提高的寿命。这种基板适用于高功率应用,如电动车/混合动力车、车辆电气化、工业、可再生能源和大众交通。

  • curamik® 散热解决方案 散热解决方案
    日本
    厂商:罗杰斯
    长度: ±0.025mm 宽度: ±0.025mm 厚度: 一面金刚石车削±0.075mm CTE值: 5 – 6.5 ppm/K 顶部铜厚度: ±0.05mm

    curamik® CoolPower由多层纯铜精细结构组成,这些层构成了三维结构用于高性能电子设备散热。在curamik结合过程中,不同层在没有额外焊接或粘合层的情况下密封结合。curamik® CoolPower Plus冷却器是集成了陶瓷基板(氧化铝或氮化铝)的DBC冷却器,DBC基板层可以直接组装组件(板上芯片),同时从冷却电路中提供电气隔离。