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  • 日本
  • Hanamura Optics Corp

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  • CCD光束分析器紫外线监测器 光束分析仪
    日本
    分类:光束分析仪
    传感器类型: CCD 可衡量的来源: CW 波长范围: 193 - 1100 nm ADC: Other

    紫外激光光束轮廓仪在工业应用中有着良好的记录,可用于半导体和显示器行业中加工激光材料的准分子激光器,以及Nd:YAG激光器的三次、四次和五次谐波。该产品的基本系统由基于UV探测器的相机和先进的BeamLux II软件组成。根据有效面积,可以测量从10um到100mm的光束直径。

  • CCD光束分析器 紫外线监测器 10 光束分析仪
    日本
    分类:光束分析仪
    传感器类型: CCD 可衡量的来源: CW 波长范围: 157 - 308 nm ADC: Other

    紫外激光束轮廓仪在工业应用中有着良好的记录,可用于半导体和显示器行业中加工激光材料的准分子激光器,以及Nd:YAG激光器的三次、四次和五次谐波。该产品的基本系统由基于紫外探测器和高级BeamLux II软件的相机组成。根据有效面积,可以测量从10um到100mm的光束直径。

  • CCD光束分析器 紫外线监测器K2 光束分析仪
    日本
    分类:光束分析仪
    传感器类型: CCD 可衡量的来源: CW 波长范围: 10 - 1100 nm ADC: Other

    紫外激光光束轮廓仪在工业应用中有着良好的记录,可用于半导体和显示器行业中加工激光材料的准分子激光器,以及Nd:YAG激光器的三次、四次和五次谐波。该产品的基本系统由基于UV探测器的相机和先进的BeamLux II软件组成。根据有效面积,可以测量从10um到100mm的光束直径。