已选
- 奥地利
- EVK DI Kerschhaggl GmbH
子分类:
- 干涉仪(115)
- 激光功率计(239)
- 单色仪(11)
- 光学延迟线(14)
- 光功率计(64)
- 光谱分析仪(104)
- 光波长计(35)
- 光谱仪(875)
- 激光雷达(29)
- 扫描仪和测距仪(24)
- 气体分析(47)
- 光学池(79)
- 光束分析仪配件(20)
- 光束分析仪(46)
- 激光能量计(82)
- 普通显微镜(60)
- 显微镜配件(25)
- 位移测量计(17)
- 计量配件(19)
- 光学表面轮廓仪(17)
- 孔探仪(39)
- 脉冲发生器(20)
- 太赫兹成像(4)
- 太赫兹时域(13)
- 其他分类测量仪器(19)
- 光纤检测工具(28)
- 脉冲诊断器件(30)
- 激光扫描和测距(9)
- 光束分析(5)
- 光学检测(14)
- 显微镜(12)
- 光纤测试与测量(3)
- 尺寸测量(1)
- 散热解决方案(20)
光电查为您提供3个产品。下载资料,获取报价,实现功能、价格及供应的优化选择。
-
成像模式: Diffuse Reflectance (DR), Photoluminescence (PL), Electroluminescence (EL), Raman 激发波长: Custom 光谱范围: Not Applicable 光谱范围: 900 - 1700 nm 光谱分辨率: <2.5 nm
Helios EQ32高光谱成像系统是一种强大的分析工具,基于非接触和非破坏性的实时红外成像光谱。EVK Helios系统分析物体的化学性质,并区分彩色相机不可见的材料类型。内部处理引擎提供物料流的定性和定量信息,例如分析物浓度或材料成分。摄像机作为一个即插即用组件提供了完整的内部校准。Helios EQ32采用紧凑、坚固的不锈钢外壳,具有应力解耦光学机械结构。该系统针对实际工业环境进行了优化,可在整个指定温度范围内提供稳定的校准数据。