AMETEK Land的最新热成像仪为越来越多的工业和环境应用提供可靠、连续的温度测量和智能功能。
Triggered Sweep Unit TSU22-10
光学成像 激光测量 高精度 测试设备
概述
参数
- 时间分辨率 / Temporal Resolution : 10 ns (typ. FWHM)
- 扫速 / Sweep Speed : 100 ns/mm
- 时间基准 / Time Base : 1.5 µs
- 触发延迟 / Trigger Delay : 5.5 µs
- 触发频率 / Trigger Frequency : 10 kHz
- 时间抖动 / Temporal Jitter : <10 ns (rms)
- 扫掠频率 / Sweep Frequency : 0 to 10 kHz
- 扫速精度 / Sweep Speed Accuracy : ±5% (mean over 10 mm)
- 扫速非线性 / Sweep Speed Non-Linearity : ±2.5% typ. / ±5% max. (15 mm)
- 操作模式 / Operation Modes : Sweep / Focus
- 触发信号输入 / Trigger Signal Input : >+2 V (Trise <20 ns, Tpw >20 ns)
- 触发信号输入连接 / Trigger Signal Input Connection : BNC / 50 Ω
- 触发信号输出 / Trigger Signal Output : +2 V (typ. Tpw = time base)
- 触发信号输出连接 / Trigger Signal Output Connection : BNC / 50 Ω
- 环境温度 / Temperature : 0 - 35°C (op.) / -5 - +45°C (stor.)
- 湿度 / Humidity : 20 - 80% rel. non-condensing
- 高度 / Altitude : sea level up to 3000 m
- 重量 / Weight : 3.3 kg (typ.)
应用
1. 激光测量 2. 成像系统 3. 光学信号处理
特征
1. 高速扫掠线性度 2. 适用于光学成像 3. 触发信号输入和输出接口
详述
Triggered Sweep Unit TSU22-10是一款专为与OptoScope SC-10主单元配合使用而设计的扫掠单元。它能够提供与首次扫掠方向正交的偏转,适用于激光测量和光学成像等应用。该设备的时间分辨率为10 ns,支持高达10 kHz的触发频率,确保了高精度的测量结果。其扫掠速度范围从100 ns/mm到5 ms/mm,适应了多样化的测量需求。通过高扫掠速度线性度和低时间抖动,该产品在光学信号处理领域表现出色,是科研和工业应用中不可或缺的工具。
规格书
厂家介绍
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