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4ch位错误率测试仪 激光器模块和系统
新品

4ch位错误率测试仪

分类: 激光器模块和系统

厂家: Alnair Labs Corp

产地: 日本

型号: 28Gbps x 4ch Bit Error Rate Tester

更新时间: 2024-12-10 11:21:52

光学测试 信号测试 比特错误率测试 生产线测试

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概述

28Gbps x 4ch Bit Error Rate Tester是一款用于生产线测试的比特错误率测试仪,适用于收发器和光调制器测试。

参数

  • 数据速率 / Data Rate : 25.0-28.3Gbps
  • 数据模式 / Data Patterns : 29-1, 215-1, 231-1
  • 输出电压 / Output Voltage : 400mVpp
  • 上升/下降时间 / Rise/Fall Time : 15-17ps
  • 抖动(rms) / Jitter(Rms) : 0.6-0.9ps
  • 输入灵敏度 / Input Sensitivity : 25mVpp
  • PC接口 / PC Interface : USB
  • PC接口 / PC Interface : GPIB
  • PC接口 / PC Interface : Ethernet
  • 电源 / Power Supply : AC 100-240 (50 / 60Hz)V
  • 尺寸 / Dimension : 449x88x495mm
  • 重量 / Weight : 10kg

应用

1. 收发器/TOSA/ROSA线检验 2. 光调制器测试

特征

1. 单端输出 2. 内置CDR 3. 软件接口

详述

28Gbps x 4ch比特错误率测试仪是一款高效且易于使用的测试设备,专为光电行业的生产线测试而设计。它支持高达28Gbps的测试速率,能够处理多种数据模式,如29-1、215-1和231-1,确保测试的灵活性和准确性。该设备具备USB、GPIB和以太网接口,方便与计算机系统连接,适合各种测试环境。其紧凑的尺寸和轻便的设计使其易于集成到现有的生产流程中,极大地提高了生产效率。无论是在收发器、光调制器的测试,还是在复杂的光学系统中,这款测试仪都能够提供可靠的性能和精确的结果,是光电行业不可或缺的工具。

图片集

28Gbps x 4ch Bit Error Rate Tester图1

规格书

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厂家介绍

Alnair实验室公司成立于2001年8月29日,是东京大学首批以商业光子学技术为目标的风险公司之一。目前,Alnair Labs是基于专有碳纳米管光子技术的超短脉冲激光系统和解决方案的领先制造商。我们的产品包括皮秒光学采样示波器、带宽可变和波长可调的光学带通滤波器、快速色散测量系统、保偏皮秒和飞秒光纤激光器、高灵敏度免对准自相关器、短脉冲光放大器、可调色散补偿器、可调光纤光栅滤波器、激光测距仪和工业三维轮廓测量系统。我们较近还扩展了产品线,涵盖10/25/40Gb/s误码率测试仪和各种高速射频子系统和解决方案。作为我们业务的关键部分,我们一直是定制光子解决方案的领先供应商之一,涵盖激光和光学放大器系统、微型光学模块和特殊要求的光学组件。我们不断努力在我们的潜在客户和现有客户之间建立顺畅的沟通。这将确保我们为所有尊贵的客户提供高质量和满意的产品和服务。如果我们能为您提供任何服务,请随时与我们联系。

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