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UD19-200-H9 传感器盘 激光能量计
精品

UD19-200-H9 传感器盘

分类： 激光能量计

厂家： Gentec-EO

产地： 加拿大

更新时间： 2024-07-12 23:55:18

标签：

激光系统 能量测量 功率测量 高功率密度 热传感器

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概述

Gentec-EO UD19-200-H9热传感器磁盘。Ultra磁盘设计用于集成到激光系统中。如果您已经将冷却和信号处理设计到您的系统中，那么它们就是解决方案。下面和下一页的图表显示了Gentec-EO为OEM提供的各种可能性用户。集成度的选择取决于您在校准、输出信号电平、冷却可用性等方面的需求。

参数

  • 最大可测量能量 / Max Measurable Energy : 25000mJ
  • 最大重复率 / Max Repetition Rate : 8Hz
  • 有效光圈 / Effective Aperture : 19mm
  • 光谱范围 / Spectral Range : 0.19 - 20 um

应用

1. 激光系统集成 2. 激光功率测量 3. 激光能量测量

特征

1. 专为集成设计 2. 非常薄的轮廓 3. 多种孔径尺寸 4. 两级集成

详述

UD Series热传感器盘是为激光系统集成而设计的产品，提供广泛的带宽和高功率密度。该系列产品具有多种孔径尺寸，适用于各种激光功率和能量测量应用。其非常薄的轮廓设计使其易于集成到现有系统中。无论是连续功率还是脉冲激光，该系列产品都能提供可靠的测量性能，是激光系统工程师的理想选择。

规格书

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厂家介绍

作为一家前激光制造商，Gentec-EO了解客户的需求。事实上，公司在1972年将先进台高重复率TEA CO2激光器投放市场时，其先进台激光能量测量产品就是为内部使用而开发的。不久之后，Gentec，Inc.推出了先进台热释电焦耳计。Gentec公司也是先进家同时生产热电堆和热释电激光功率和能量探测器的公司。

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相关产品

图片 名称 分类 制造商 参数 描述
  • 200 kHz Energy Meter M6-12.5-PY 激光能量计 200kHz能量计M6-12.5-PY 激光能量计 Gentec-EO

    最大可测量能量: 200mJ 最大重复率: 200000Hz 有效光圈: 12.5mm

    以马赫数6测量高达200 kHz的每个脉冲。以12位数字精度进行测量，并实时捕获多达400万个脉冲。我们的马赫数为6的焦耳计是世界上先进能达到这种速度和精度的仪器。它旨在支持我们的全套快速能量探测器，包括硅、InGaAs和热释电探测器。测量范围为PJ至MJ和0.35至2.5μm。使用M6-Si探测器和M6-UV-QED附件，您可以在266 nm处进行相对测量。

  • 200 kHz Energy Meter M6-6-In-L 激光能量计 200kHz能量计M6-6-In-L 激光能量计 Gentec-EO

    最大可测量能量: 2mJ 最大重复率: 200000Hz 有效光圈: 6mm

    以马赫数6测量高达200 kHz的每个脉冲。以12位数字精度进行测量，并实时捕获多达400万个脉冲。我们的马赫数为6的焦耳计是世界上先进能达到这种速度和精度的仪器。它旨在支持我们的全套快速能量探测器，包括硅、InGaAs和热释电探测器。测量范围为PJ至MJ和0.35至2.5μm。使用M6-Si探测器和M6-UV-QED附件，您可以在266 nm处进行相对测量。

  • 200 kHz Energy Meter M6-6-PY 激光能量计 200 kHz能量计M6-6-PY 激光能量计 Gentec-EO

    最大可测量能量: 20mJ 最大重复率: 200000Hz 有效光圈: 6mm

    以马赫数6测量高达200 kHz的每个脉冲。以12位数字精度进行测量，并实时捕获多达400万个脉冲。我们的马赫数为6的焦耳计是世界上先进能达到这种速度和精度的仪器。它旨在支持我们的全套快速能量探测器，包括硅、InGaAs和热释电探测器。测量范围为PJ至MJ和0.35至2.5μm。使用M6-Si探测器和M6-UV-QED附件，您可以在266 nm处进行相对测量。

  • 200 kHz Energy Meter M6-6-Si 激光能量计 200 kHz能量计M6-6-Si 激光能量计 Gentec-EO

    最大可测量能量: 200mJ 最大重复率: 200000Hz 有效光圈: 6mm

    以马赫数6测量高达200 kHz的每个脉冲。以12位数字精度进行测量，并实时捕获多达400万个脉冲。我们的马赫数为6的焦耳计是世界上先进能达到这种速度和精度的仪器。它旨在支持我们的全套快速能量探测器，包括硅、InGaAs和热释电探测器。测量范围为PJ至MJ和0.35至2.5μm。使用M6-Si探测器和M6-UV-QED附件，您可以在266 nm处进行相对测量。

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