TeraSys® - ULTRA
概述
参数
- 系统重复率 / System Repetition Rate : 40MHz
- 光谱范围 / Spectral Range : >=20 THz
规格书
相关产品
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PB7220-2000-T 便携式频域太赫兹光谱仪
太赫兹时域
Bakman Technologies
光谱范围: >=1 THz
Bakman Technologies的多功能PB7220-2000-T/R光谱平台设计用于扫描复杂化合物,以获得更高的精度和控制。PB7220是THz研究人员和应用开发人员的理想选择,他们需要在高分辨率的THz频率下研究材料的特性,但又不想设计和构建自己的高分辨率THz光谱系统。PB7220可以在单次快速扫描中从100GHz扫描到超过1.8THz,频率分辨率优于0.25GHz。因为它具有两个通道,所以它可以被配置为同时测量样品的THz透射和反射特性。第二通道允许单个系统收集来自样品的各种反射或散射角度的样品信息,同时连续监测透射。
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PB7220-2000-T/R双通道便携式频域太赫兹光谱仪
太赫兹时域
Bakman Technologies
光谱范围: >=1 THz
Bakman Technologies的多功能PB7220-2000-T/R光谱平台设计用于扫描复杂化合物,以获得更高的精度和控制。PB7220系列是THz研究人员和应用开发人员的理想选择,他们需要在高分辨率的THz频率下研究材料的特性,但又不想设计和构建自己的高分辨率THz光谱系统。PB7220-2000-T/R可以在单次快速扫描中从100GHz扫描到超过1.8THz,频率分辨率优于0.25GHz。因为它具有两个通道,所以它可以被配置为同时测量样品的THz透射和反射特性。第二通道允许单个系统收集来自样品的各种反射或散射角度的样品信息,同时连续监测透射。
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TERA ASOPS高速太赫兹时域光谱仪
太赫兹时域
Menlo Systems
系统重复率: 100MHz 扫描速率: 1KHz 光谱范围: >=4 THz
Menlo Systems公司较新的Tera ASOPS太赫兹时域光谱(THz-TDS)系统采用异步光学采样(ASOPS)技术进行高速数据扫描,无需机械移动部件。两个连续激光脉冲之间高达10ns的整个范围可用于以前所未有的高采样率扫描THz轨迹。该系统使用两个超快激光器,以可调谐差的锁定重复率工作,提供用于THz发射和检测的光脉冲。Tera ASOPS提供了一个功能齐全的THz时域光谱系统,该系统将ASOPS技术与较新的光纤耦合THz天线模块相结合,以实现较高的灵活性。该系统包括两个基于Menlo Systems独特的Figure 9®锁模技术的飞秒光纤激光器、ASOPS同步电子设备、光纤耦合THz天线、THz光学器件、16位高速数据采集平台和用户友好的软件。为了无缝集成到现有实验中,该软件具有远程控制频谱仪和通过网络进行高速数据传输的功能。模块化系统平台提供了1560 nm和780 nm的额外激光输出端口选项。
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TERA K15太赫兹时域光谱仪
太赫兹时域
Menlo Systems
系统重复率: 100MHz 扫描速率: 0.02KHz 光谱范围: >=4 THz
我们的太赫兹光谱仪Tera K15为快速宽带时域太赫兹光谱提供了完整的解决方案。光纤耦合结构设计用于1.5μm左右的激光脉冲工作,并确保传输和反射几何结构的高性能和灵活性。光纤耦合的THz路径可以位于光谱仪外壳的外部。系统软件具有远程控制功能,可无缝集成到现有实验中。Tera K15包括我们较新的Figure 9®飞秒激光源、带延迟线的光纤耦合光路、带THz发射器的THz波路径、THz探测器和THz光学器件、THz电子器件以及带数据采集和评估软件的PC,用于FFT频谱、N和A提取。对于太赫兹成像应用,我们的自动扩展单元TERA图像可以集成。
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TERA OSCAT全光纤太赫兹光谱仪用于快速扫描应用
太赫兹时域
Menlo Systems
系统重复率: 250MHz 扫描速率: 0.2KHz 光谱范围: >=4 THz
我们新的用于快速数据采集的全光纤太赫兹光谱仪是基于NovelOSCAT(腔调谐光采样)技术的。它能够在没有任何移动部件的情况下实现THz时域光谱。结合我们的TERA图像扩展,该系统为快速THz成像应用提供了解决方案。与ASOPS技术类似,OSCAT在系统配置和高速测量能力方面提供了极大的灵活性。TERA OSCAT是一种强大的便携式解决方案,适用于实验室使用和OEM集成,甚至适用于恶劣的工业环境。
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