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参照光谱椭圆仪纳米薄膜-rse 光学计量

参照光谱椭圆仪纳米薄膜-rse

分类: 光学计量

厂家: Halcyonics GmbH

产地: 德国

更新时间: 2024-04-19 14:40:59

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概述

Nanofilm_RSE是一种特殊类型的椭偏仪,它将样品与参考进行比较。以这种方式,可以测量样品和参考之间的椭圆偏振差。由于参考的取向,在测量过程中不需要移动或调制任何光学元件,并且可以在单次测量中获得完整的高分辨率光谱。通过这种方式,每秒可获得100个光谱。同步X-Y平台能够在几分钟内采集大视场薄膜厚度图。参考光谱椭偏仪将椭偏仪的高灵敏度和层厚区域(0.1nm-10µm)与市场上可用的较高速度相结合。与激光椭偏仪相比,它包括450和900nm之间的光谱信息。这在处理层的一个以上参数是可变的情况下是重要的,例如厚度和光密度。

参数

  • 光谱范围 / Spectral Range : 450 - 900 nm
  • 光谱分辨率 / Spectral Resolution : 1000nm
  • 入射角 / Angle Of Incidence : 1 - 1 deg

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厂家介绍

自1991年以来,Accurion已成为成像椭偏仪和布鲁斯特角显微镜的做的较好的。我们的主要专长是将光学表面分析与显微镜技术相结合。这使得能够在微观特征(如MEMS、微流体、生物阵列、OLED像素等)上对表面和薄膜进行非接触表征。 我们的系统已用于石墨烯和2D材料、喷墨打印、集成光子学和波导、脂质层等新应用,并且其数量正在增加。 系统的模块化和大量附件允许用于科学研究以及生产线的集成设备。

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图片 名称 分类 制造商 参数 描述
  • 228A OPTICAL WAVELENGTH METER 光学计量 228A光波长仪 光学计量 Bristol Instruments Inc

    波长范围: 700 - 1650 nm 准确性: 0.0465nm 重复性: 0.05pm

    228光学波长计采用成熟的基于光学干涉仪的设计,以较高精度测量CW激光器的波长。提供两个版本。228A型是较精确的,测量波长的精度为±0.3 pm。对于不太严格的测试要求,228B型是一种价格较低的替代产品,波长精度为±1.0 pm。

  • 228B OPTICAL WAVELENGTH METER 光学计量 228B光波长仪 光学计量 Bristol Instruments Inc

    波长范围: 700 - 1650 nm 准确性: 0.10nm 重复性: 0.15pm

    228光学波长计采用成熟的基于光学干涉仪的设计,以较高精度测量CW激光器的波长。提供两个版本。228A型是较精确的,测量波长的精度为±0.3 pm。对于不太严格的测试要求,228B型是一种价格较低的替代产品,波长精度为±1.0 pm。

  • 428A MULTI-WAVELENGTH METER 光学计量 428A多波长仪 光学计量 Bristol Instruments Inc

    波长范围: 1270 - 1650 nm 准确性: 0.0465nm 重复性: 0.05pm

    428多波长测量仪将成熟的基于迈克尔逊干涉仪的技术与快速傅里叶变换分析相结合,以测量多达1000个离散光信号的波长、功率和OSNR。波长测量精度高达±0.3 pm,功率测量精度为±0.5 dB。此外,428系统会自动计算OSNR,使其大于40 dB。

  • 428B MULTI-WAVELENGTH METER 光学计量 428B多波长仪 光学计量 Bristol Instruments Inc

    波长范围: 1270 - 1650 nm 准确性: 0.0775nm 重复性: 0.15pm

    428多波长测量仪将成熟的基于迈克尔逊干涉仪的技术与快速傅里叶变换分析相结合,以测量多达1000个离散光信号的波长、功率和OSNR。波长测量精度高达±0.3 pm,功率测量精度为±0.5 dB。此外,428系统会自动计算OSNR,使其大于40 dB。

  • 438A MULTI-WAVELENGTH METER 光学计量 438A多波长计 光学计量 Bristol Instruments Inc

    波长范围: 1000 - 1680 nm 准确性: 0.0465nm 重复性: 0.05pm

    438系列多波长计将基于迈克尔逊干涉仪的成熟技术与快速傅里叶变换分析相结合,以测量多达1000个离散光信号的波长、功率和光信噪比。凭借高精度、高达10 Hz的测量速率以及1000至1680 nm的宽工作范围等特性,438型可提供较精确、高效和通用的WDM波长测试,以满足任何制造工程师的需求。

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